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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > temperature‐programmed desorption methodに関連した英語例文

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temperature‐programmed desorption methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 8



例文

TEMPERATURE-PROGRAMMED DESORPTION ANALYZING METHOD AND TEMPERATURE-PROGRAMMED DESORPTION ANALYZER例文帳に追加

昇温脱離分析方法、および、昇温脱離分析装置 - 特許庁

TEMPERATURE PROGRAMMED DESORPTION ANALYZER AND ITS METHOD例文帳に追加

昇温脱離分析装置とその方法 - 特許庁

TEMPERATURE-PROGRAMMED DESORPTION ANALYZER AND ITS METHOD例文帳に追加

昇温脱離分析装置とその方法 - 特許庁

TEMPERATURE-PROGRAMMED DESORPTION GAS ANALYZING APPARATUS, AND METHOD THEREOF例文帳に追加

昇温脱離ガス分析装置およびその方法 - 特許庁

例文

Then, by analyzing the internal standard sample by a temperature-programmed desorption analytical method, the temperature-programmed desorption spectrum of a standard gas generated from the standard substance is acquired.例文帳に追加

次に、内標準試料を昇温脱離分析法で分析することで、指標物質より生じた指標気体の昇温脱離スペクトルを取得する。 - 特許庁


例文

Also, in the analysis of the temperature-programmed desorption analytical method, the substance of the analysis object is analyzed as well together with the analysis of the standard gas.例文帳に追加

なお、この昇温脱離分析法の分析においては、指標気体の分析とともに分析対象の物質の分析も行う。 - 特許庁

An oxide semiconductor film serving as a channel formation region of a transistor is formed by a sputtering method over 200°C, whereby the number of water molecules desorbed from the oxide semiconductor film can be 0.5 molecules/nm^3 or less according to temperature-programmed desorption analysis.例文帳に追加

トランジスタのチャネル形成領域となる酸化物半導体膜を、200℃を超える温度のスパッタリング法で形成することにより、昇温脱離分析において、前記酸化物半導体膜から脱離する水分子の数を0.5個/nm^3以下とすることができる。 - 特許庁

例文

The quantitative evaluation method of the stuck lubricant is characterized by detecting and measuring an integrated value of a fluorine fragment by using a temperature programmed desorption gas analyzer (TDS) for a magnetic head slider stuck with the lubricant on a disk substrate in contact with a magnetic disk substrate coated with the fluorine-based lubricant perfluoropolyether (PFPE), and thereby quantitizing the amount of the lubricant stuck onto the head slider.例文帳に追加

フッ素系潤滑剤パーフルオロポリエーテル(PFPE)を塗布した磁気ディスク基板に接触してディスク基板上の潤滑剤が付着した磁気ヘッドスライダーに対し、昇温脱離ガス分析装置(TDS)を用いてフッ素フラグメントの積分値を検出・測定して、ヘッドスライダー上に付着した潤滑剤量を定量化することを特徴とする付着潤滑剤の定量評価方法。 - 特許庁




  
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