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probeを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 19549



例文

PROBE PIN AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE PIN例文帳に追加

プローブピン及びプローブピンの製造方法 - 特許庁

PROBE CARD CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE, PROBE DEVICE AND PROBE METHOD例文帳に追加

プローブカード特性測定装置、プローブ装置及びプローブ方法 - 特許庁

PROBE, PROBE SET, PROBE-IMMOBILIZED CARRIER AND METHD FOR TESTING GENE例文帳に追加

プローブ、プローブセット、プローブ固定担体及び遺伝子検査方法 - 特許庁

CONTACT PROBE, PROBE DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE CONTACT PROBE例文帳に追加

コンタクトプローブ、プローブ装置及びコンタクトプローブの製造方法 - 特許庁

例文

PROBE SOLUTION, PROBE CARRIER, AND MANUFACTURING METHOD FOR PROBE CARRIER例文帳に追加

プローブ溶液及びプローブ担体とプローブ担体の製造方法 - 特許庁


例文

PROBE PIN, PROBE CARD, TESTING DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE PIN例文帳に追加

プローブピン、プローブカード、試験装置、及びプローブピン製造方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR PROBE PIN, PROBE PIN, PROBE CARD, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

プローブピン製造方法、プローブピン、プローブカード、及び試験装置 - 特許庁

PROBE, PROBE SET, PROBE-IMMOBILIZED CARRIER AND GENETIC TESTING METHOD例文帳に追加

プローブ、プローブセット、プローブ固定担体及び遺伝子検査方法 - 特許庁

FLANGED PROBE, MANUFACTURE OF FLANGED PROBE AND PROBE CARD例文帳に追加

鍔付きプローブ、鍔付きプローブの製造方法及びプローブカード - 特許庁

例文

MANUFACTURING METHOD OF PROBE, MASK FOR MANUFACTURING PROBE AND PROBE例文帳に追加

プローブの製造方法、このプローブの製造用マスク及びプローブ - 特許庁

例文

PROBE, PROBE ASSEMBLY, AND PROBE CARD INCLUDING SAME例文帳に追加

プローブ及びプローブ組立体、並びにこれを有するプローブカード - 特許庁

SOCKET FOR DOUBLE ENDED PROBE PIN, DOUBLE ENDED PROBE PIN, AND PROBE UNIT例文帳に追加

両側プローブピン用ソケット、両側プローブピン、及びプローブユニット - 特許庁

PROBE, PROBE SET, PROBE-IMMOBILIZED CARRIER, AND GENETIC TESTING METHOD例文帳に追加

プローブ、プローブセット、プローブ固定担体及び遺伝子検査方法 - 特許庁

PROBE POLISHING METHOD, PROGRAM FOR PROBE POLISHING, AND PROBE APPARATUS例文帳に追加

プローブの研磨方法、プローブ研磨用プログラム及びプローブ装置 - 特許庁

MANUFACTURE OF PROBE COVER AND PROBE COVER例文帳に追加

プローブカバーの製造方法およびプローブカバー - 特許庁

SURFACE TREATMENT METHOD OF PROBE, AND PROBE例文帳に追加

プローブの表面処理方法及びプローブ - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARD例文帳に追加

プローブカード及びプローブカードの製造方法 - 特許庁

The probe pin is used for the probe card.例文帳に追加

また、該プローブピンをプローブカードに使用する。 - 特許庁

PROBE CARD, AND CONTROL METHOD FOR PROBE CARD例文帳に追加

プローブカードおよびプローブカードの管理方法 - 特許庁

WAFER INSPECTING PROBE MEMBER AND PROBE CARD例文帳に追加

ウエハ検査用プローブ部材およびプローブカード - 特許庁

CONTACT PROBE AND CONTACT APPARATUS USING THE PROBE例文帳に追加

コンタクトプローブとこれを用いたコンタクト機器 - 特許庁

PROBE SUBSTRATE, AND PROBE CARD INCLUDING THE SAME例文帳に追加

プローブ基板及びこれを含むプローブカード - 特許庁

PROBE CARD AND UTILIZATION METHOD OF PROBE CARD例文帳に追加

プローブカードおよびプローブカードの使用方法 - 特許庁

PROBE UNIT FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用探針ユニット - 特許庁

CLAMPING MECHANISM OF PROBE CARD AND PROBE DEVICE例文帳に追加

プローブカードのクランプ機構及びプローブ装置 - 特許庁

PROBE-CLEANING FILM AND PROBE-CLEANING MEMBER例文帳に追加

プローブクリーニングフィルム及びプローブクリーニング部材 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF PROBE NEEDLE AND PROBE CARD例文帳に追加

プローブ針の製造方法及びプローブカード - 特許庁

METHOD FOR CALIBRATING IMAGE PROBE, AND TOUCH PROBE例文帳に追加

画像プローブの校正方法とタッチプローブ - 特許庁

ULTRASONIC PROBE AND ULTRASONIC PROBE SYSTEM例文帳に追加

超音波プローブ及び超音波プローブシステム - 特許庁

COMPENSATING CIRCUIT, PROBE SYSTEM, PROBE SYSTEM KIT例文帳に追加

補償回路、プローブ装置、プローブ装置キット - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND PROBE HOLDER例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びプローブホルダ - 特許庁

GUIDE PART FOR PROBE CARD, AND PROBE CARD例文帳に追加

プローブカード用ガイド部材およびプローブカード - 特許庁

HIGH DYNAMIC RANGE PROBE例文帳に追加

高ダイナミックレンジプローブ - 特許庁

SCANNING PROBE DEVICE例文帳に追加

走査型プローブ装置 - 特許庁

NMR PROBE DEVICE例文帳に追加

NMRプローブ装置 - 特許庁

CURRENT/VOLTAGE PROBE例文帳に追加

電流・電圧プローブ - 特許庁

PERPENDICULAR PROBE CARD例文帳に追加

垂直型プローブカード - 特許庁

VIBRATION DETECTING PROBE例文帳に追加

振動検出プローブ - 特許庁

VOLTAGE DETECTION PROBE例文帳に追加

電圧検出プローブ - 特許庁

SOLID NMR PROBE例文帳に追加

固体NMRプローブ - 特許庁

SCANNING PROBE APPARATUS例文帳に追加

走査型プローブ装置 - 特許庁

PROBE PIN AND CONNECTOR例文帳に追加

プローブピン及びコネクタ - 特許庁

SURGICAL PROBE例文帳に追加

外科手術用プローブ - 特許庁

VIBRATION-TYPE PROBE SENSOR例文帳に追加

振動型プローブセンサ - 特許庁

SENSING CONTACT PROBE例文帳に追加

検出コンタクト・プローブ - 特許庁

VIBRATION DETECTION PROBE例文帳に追加

振動検出プローブ - 特許庁

GAS DETECTION PROBE例文帳に追加

ガス検出用プローブ - 特許庁

PROBE FOR ELECTRON SOURCE例文帳に追加

電子源用探針 - 特許庁

PERCUTANEOUS ELECTRODE PROBE例文帳に追加

経皮電極プローブ - 特許庁

例文

PROBE AND PROBE UNIT FOR PROBE CARD, PROBE CARD AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

プローブカード用探針、プローブカード用探針ユニット、プローブカード及びそれらの製造方法 - 特許庁




  
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