「inspection cost」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a transport device easy to perform the maintenance and inspection works and capable of reducing the cost.例文帳に追加

保守点検が容易でかつコストを低減することができる搬送装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an ophthalmologic inspection apparatus which can execute various ophthalmologic inspections with a low-cost structure.例文帳に追加

安価な構成で種々の眼科検査を行うことが可能な眼科検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of preventing at a low cost, a printed circuit board from being damaged.例文帳に追加

低コストでプリント基板の損傷を防止することができる検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a chip made of resin for inspection having a stable performance, at low cost.例文帳に追加

低コストでしかも性能の安定した樹脂製の検査用チップを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection device capable of reducing the manufacturing cost.例文帳に追加

製造コストを削減することが可能な半導体検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To improve a work efficiency in an inspection work, while suppressing cost increase.例文帳に追加

コストの増大を抑えつつ、検品作業における作業効率を向上させることを目的とする。 - 特許庁

To provide a function inspection device/system adaptable to the environment and reduced in cost.例文帳に追加

対環境に適応できるとともに低コストとなる官能検査装置・システムを提供すること - 特許庁

To provide a manufacturing method for a high-quality inspection table capable of reducing a cost by shortening the manufacturing process of the inspection table.例文帳に追加

検査治具の作製工程の短縮を計り、コスト削減可能な、品質的に優れた検査治具の製造方法を提供するこを目的とする。 - 特許庁

To provide a pipe inner surface inspection method whose detection accuracy of a flaw on a pipe inner surface is high and which requires less labor and cost, and a pipe inner surface inspection device.例文帳に追加

管内面のきずの検出精度が高く、かつ、手間とコストがかからない管内面検査方法、及び管内検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a memory inspection method and memory inspection apparatus which reduces a test cost of a DUT by shortening a redundancy arithmetic processing time.例文帳に追加

リダンダンシ演算処理時間を短縮してＤＵＴのテストコストを削減できるメモリ検査方法およびメモリ検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an elevator inspection report system capable of reducing the load in maintenance and inspection of a maintenance staff of an elevator at low cost.例文帳に追加

エレベータの保守員の保守点検における負担を軽減するとともに、安価に構成することができるエレベータの点検報告システムを得る。 - 特許庁

Thus, the fragility inspection independently of the access control can be remotely executed and the more detailed security inspection can be executed at low cost.例文帳に追加

これにより、アクセス制御によらない脆弱性検査をリモートにて実施可能となり、より詳細なセキュリティ検査が低コストで実施可能となる。 - 特許庁

To detect an inclination of an inspection object surface in a unit finer than conventional units, without causing increase in cost, or reduction in inspection efficiency.例文帳に追加

コストの増加や検査効率を低下させることなく、被検査面の傾斜角度を従来よりも細かい単位で検出できるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device, of which the inspection time is reducible as compared with conventional practice at the inspection of the semiconductor storage device and a reduction of the inspection cost can be achieved, and also to provide its inspection method.例文帳に追加

半導体記憶装置の検査の際に、その検査時間を従来よりもさらに短縮化することができるとともに、検査コストの削減を実現することができる半導体記憶装置およびその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide electronic equipment capable of reducing a cost of an inspection fixture by dispensing with insertion and pulling of a cable during inspection and performing prescribed inspection and the like without generating deterioration of signal waveform, and to provide a circuit board and an inspection system.例文帳に追加

検査時等にケーブルの挿抜を不要とし、また、信号波形の劣化を生じさせないで所定の検査等を行い、さらに、検査治具の費用を軽減することができる電子機器及び回路基板並びに検査システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a sheet inspection device capable of inspecting without leaning uninspected part over the whole inspection width with a simple constitution at a low cost with rapid responsiveness even in the inspection of a sheet with a large inspection width.例文帳に追加

本発明は、検査幅の広いシートの検査においても、簡単な構成によって、安価にかつ高速応答性よく、検査幅全体に渡って漏れのない検査を行うことができるシート検査装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a contact probe for reducing the initial cost and the production cost, and coping with minimization of the inter-electrode pitch of an inspection object, and to provide an inspection prober equipped with the probe.例文帳に追加

イニシャルコスト及び製造コストの低減化を図るとともに、被検査体の電極間ピッチの極小化に対応することができるコンタクトプローブ及びそれを備えた検査用プローバを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device for printed circuit boards which is small-sized, can detect malfunctions and perform inspection of overvoltage application at a little facility cost.例文帳に追加

小型で且つ安価な設備費用で不良検出及び過電圧印加の検査を行うことができるプリント基板の検査装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of shortening the time required for the pressing work and the oil tightness inspection of a pressure control valve and of reducing the production cost.例文帳に追加

圧力調整弁の押付加工及び油密検査の時間を短縮し、製造コストを低減することの可能な検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission member with an inspection apparatus, capable of attaining low manufacturing cost, easy installation and inspection of wear to the transmission member.例文帳に追加

製造コストが低く、且つ容易に取り付けられるとともに、伝動部材の磨耗の有無を検測することができる検測装置を具える伝動部材を提供する。 - 特許庁

To provide an image-capturing apparatus reduced in cost by enabling the contraction of an inspection space and the shortening of an inspection time.例文帳に追加

本発明は、検査スペースの縮小および検査時間の短縮を可能にし、装置コストの低廉化をも可能にした画像取込み装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a considerable cost reduction effect in a chip test by making an expensive chip tester unnecessary and shortening the inspection time of a chip to be tested by simultaneous parallel inspection.例文帳に追加

高価なチップテスターを不用とし、また同時並列検査による被テストチップの検査時間も短縮し、チップテストにおいて大幅なコスト削減効果を得る。 - 特許庁

To provide a radiation inspection device capable of quickly providing a precise inspection result and reducing the cost by using an electronic shutter.例文帳に追加

電子シャッタを用いることにより、正確で迅速な検査結果が得られ、コストをダウンさせることができる放射線検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To obtain a solid-state image pickup unit that is available for an inspection device or the like and is helpful to reduction in the device cost and improvement of the inspection speed.例文帳に追加

本発明は検査装置などに利用可能で装置コストの低減や検査速度の改善に役立つ固体撮像装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an appearance inspection device capable of preventing cost increase, and realizing space saving, and having excellent durability, concerning the appearance inspection device equipped with an imaging means.例文帳に追加

撮像手段を備えた外観検査装置において、コストの増大防止、省スペース化を図ることができ、耐久性に優れた外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To assure the quality and reduce the manufacturing cost by simplifying the flow of a continuity inspection process before repair, a repair process, and a continuity inspection process after repair.例文帳に追加

修理前の導通検査工程と修理工程と修理後の導通検査工程のフローの簡素化による品質保証と製造コストの低減化。 - 特許庁

To provide an inspection device and an inspection method, capable of inspecting a semiconductor integrated circuit at higher speed, with a small scale, at low cost and higher accuracy.例文帳に追加

小規模で低コストであり、より高速な半導体集積回路の検査をより高精度に行うことが可能な検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide inspection technique for improving inspection precision of the direction of an electronic component in a tray at a low cost without limiting the number of stacked trays.例文帳に追加

トレイ内の電子部品の向きの検査精度を向上させる検査技術を、低コストでトレイの段積み数を制限することなく実現できるようにする。 - 特許庁

To provide a welding electrode inspection device having a simple constitution, achieving a low cost and a small size, and a welding electrode inspection method using the same.例文帳に追加

簡易な構成で、低コスト化、小型化を実現した溶接電極検査装置及びこれを用いた溶接電極検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection system that provides MFPA capability of harmonic excitation techniques with faster inspection times and relatively lower cost excitation sources.例文帳に追加

高調波励起技法のＭＦＰＡ機能を提供するような検査時間がより迅速でありかつ励起源が比較的低コストである検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit that suppresses characteristic degradation of an input main signal while reducing an inspection cost of jitter tolerance inspection.例文帳に追加

ジッタ耐性検査における検査コストの低減を図りつつ、入力される主信号の特性劣化を抑制できる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection device capable of detecting cracks from a luminescence image on a semiconductor substrate at low cost and with high accuracy, and to provide a semiconductor inspection method.例文帳に追加

低価格で、且つ半導体基板のルミネセンス画像から高い精度でクラックを検出できる半導体検査装置及び半導体検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection and regulation device for lens capable of shortening the cycle time of inspection and regulation of a lens and reducing the cost of the device.例文帳に追加

レンズの検査調整のタクトタイムを短縮することができるとともに、装置のローコスト化を図ることができるレンズの検査調整装置を提供する。 - 特許庁

(3) The cost required for the inspection as specified in Item 8 of Paragraph 1 of this Article (limited to those specified in a Cabinet Order) shall be borne by the Foreign Accredited Certification Body subject to said inspection. 例文帳に追加

３　第一項第八号の検査に要する費用（政令で定めるものに限る。）は、当該検査を受ける外国登録認証機関の負担とする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(4) The cost required for the inspection of Item 4 of the preceding paragraph (limited to those specified in a Cabinet Order) shall be borne by the Accredited Foreign Testing Laboratory Operator subject to said inspection. 例文帳に追加

４　前項第四号の検査に要する費用（政令で定めるものに限る。）は、当該検査を受ける登録外国試験事業者の負担とする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a remote control transmitter used for various electronic devices that can reduce the inspection time at a low cost and to provide its inspection method.例文帳に追加

各種電子機器に使用されるリモコン送信器及びその検査方法に関し、検査時間を短縮した、安価なものを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a nondestructive inspection method and device of a coil, reducing an inspection cost furthermore than hitherto, and inspecting accurately the coil in a short period time.例文帳に追加

従来よりも検査コストを低減でき、短時間で精度よく検査することができるコイルの非破壊検査方法およびその装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a surface inspection device and a surface inspection method capable of inspecting a wide range at a time, and reducing device cost.例文帳に追加

一度に広範囲を検査することができるとともに、装置のコストダウンを図ることが可能な表面検査装置及び表面検査方法を提供する。 - 特許庁

(4) The cost required for the inspection as specified in item (vi) of paragraph (2) of this Article (limited to those specified in Cabinet Order) shall be borne by the Registered Overseas Certifying Body subject to said inspection. 例文帳に追加

４　第二項第六号の検査に要する費用（政令で定めるものに限る。）は、当該検査を受ける登録外国認定機関の負担とする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a probe 40 for inspection equipped with two contacts for inspection, having a simple structure in spite of having a coaxial structure, and manufacturable at a low cost.例文帳に追加

同軸構造でありながら構造が簡単で、安価に製造し得る２つの検査用接触子を備えた検査用プローブ４０を提供する。 - 特許庁

The inspection image for projecting the whole circumference of the inspection part of the work W can be obtained by use of one camera to reduce the cost and save the space for the whole device.例文帳に追加

１台のカメラで、ワークＷの検査部位の全周が映る検査画像が得られ、低コスト化及び装置全体の省スペース化が図れる。 - 特許庁

To provide a discharge lamp control unit inspection device resistant to high voltage insulation capable of reducing inspection cost and preventing outflow of defective products due to human error.例文帳に追加

高電圧絶縁に耐えると共に、検査コストの低減や人的ミスによる不良品流出防止が可能な放電灯制御ユニットの検査装置を得る。 - 特許庁

To shorten startup time for cost reduction in an application development apparatus having an inspection section, and to improve on the working rate of the inspection section.例文帳に追加

検査部を備えた塗布現像処理装置において，立ち上げ時に要する時間を短縮しコストを低減し，さらに検査部の稼働率を向上する。 - 特許庁

To provide an inspection device for a fuel injection device capable of confirming a failure phenomenon by viewing, shortening an inspection period and decreasing cost required for an inspection which is compact as a whole and easy to operate.例文帳に追加

装置全体が小型で、目視で不具合現象が確認でき、操作が簡単で、検査期間を短縮でき、検査に要する費用を軽減することができる燃料噴射装置の検査装置の提供。 - 特許庁

To achieve an inspection device for avoiding deterioration in the reliability of an inspection result caused by change of an inspection environment, without requiring addition of a large-scale facility and equipment, and at low cost.例文帳に追加

大掛かりな設備や装置の追加を必要とせず、かつ、コストをかけることなく、検査環境の変化に起因する検査結果の信頼性低下を回避することのできる検査装置を実現する。 - 特許庁