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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > inspection costに関連した英語例文

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inspection costの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 771



例文

To provide an operation inspection method for clutch installed in a motor with a deceleration mechanism capable of reducing inspection cost.例文帳に追加

検査コストの低減を図ることができる減速機構付きモータに内蔵されるクラッチの作動検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device performing a low-cost non-destructive inspection of a spot-welded part and easy to carry.例文帳に追加

スポット溶接部の非破壊検査を低コストで行うことができ、また、検査装置を容易に持ち運びできるようにする。 - 特許庁

To compactify a substrate inspection device, to reduce a manufacturing cost and a maintenance cost, and to enhance reliability of an operation, by reducing a wiring amount in the substrate inspection device.例文帳に追加

基板検査装置における配線量を削減して、基板検査装置の小型化、製造コストや保守管理コストの低減、動作の信頼性の向上を実現する。 - 特許庁

To reduce a cost by shortening operation man hour concerning inspection operation of an optical pickup.例文帳に追加

光ピックアップの検査作業に係る作業工数を短縮しコストを削減する。 - 特許庁

例文

To provide an automatic inspection device that forms an unwrinkled uniform inspection surface from a flat sheet film, to facilitate appearance inspection and improve inspection accuracy, while suppressing facility cost.例文帳に追加

枚葉シートに切り取られたフィルムをシワの無い一様な被検査面に形成して外観検査を容易にし、検査精度を向上することが可能で、しかも設備費用が抑制された自動検査装置を提供する。 - 特許庁


例文

To provide an automatic defect inspection device that uses a conveying device with a self-propelled conveyor for reducing inspection cost.例文帳に追加

検査費用のコストダウンを可能とする自走コンベア搬送方式の搬送装置を用いた自動欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a plasma display panel inspection device of low cost having good inspection efficiency, capable of corresponding to a large-sized plasma display panel.例文帳に追加

低コストで、検査効率がよく、大型のプラズマディスプレイパネルにも対応可能なプラズマディスプレイパネルの検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a low-cost method for manufacturing an anisotropic conductive sheet for inspection, useful for electric connection and inspection of a high-density electrode.例文帳に追加

高密度電極の電気的接続や検査に有用な検査用異方導電性シートの安価な製造法を提供する。 - 特許庁

To provide the seat load inspection unit for vehicle and the load inspection method which reduce the software conversion cost of a load detector.例文帳に追加

荷重検出器のソフト変換費用を低減する車両用シート荷重検査装置及び荷重検査方法を提供する。 - 特許庁

例文

To enable quantitative evaluation independent of intuition of a worker, great cost reduction required for inspection, and the inspection of a deep defect.例文帳に追加

作業者の勘に頼らない定量的な評価、検査に要するコストの大幅な削減、深い欠陥の検査を可能にする。 - 特許庁

例文

To provide a lens inspection equipment and a inspection sheet, by which a resolution of lenses can be evaluated rapidly and simply at a low cost.例文帳に追加

レンズの解像度の評価を簡易に、かつ安価で行うことのできるレンズ検査装置および検査シートを提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection tool capable of coping with the fine-pitch tendency of a wiring pattern for an inspection object board easily and being manufactured at low cost.例文帳に追加

被検査基板の配線パターンのファインピッチ化に容易に対応でき且つ低コストで製造可能な検査用治具を実現する。 - 特許庁

To provide an in-cylinder inspection tool and an in-cylinder inspection apparatus having comparatively simple structure, so that the cost is not incurred, and easy-handling, capable of easily and accurately conducting the in-cylinder inspection.例文帳に追加

比較的簡単な構造でコストが掛からず、取り扱いも容易で、容易に正確な検査が可能な筒内検査治具と筒内検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a maintenance and inspection system for an elevator in which maintenance and inspection are performed according to the use amount of the elevator and, accordingly, a maintenance and inspection cost for that use amount is paid.例文帳に追加

エレベータの使用量に応じて保守点検がなされ、したがってそれに見合った保守点検費用が支払われるエレベータの保守点検システムなどを提供する。 - 特許庁

To reduce device cost and to heighten efficiency of an inspection work by supporting rotatably an inspection instrument by a simple constitution, in a support structure of the inspection instrument.例文帳に追加

検査具の支持構造において、簡易な構成により検査具を回転自在に支持可能とすることにより、装置コストの低減および検査作業の効率化を実現する。 - 特許庁

To provide a heating inspection apparatus for a panel which can implement an efficient high-temperature inspection at a reduced power consumption, and can reduce an inspection cost.例文帳に追加

より少ない消費電力で効率良く高温度検査を行なうことができ、加えて、検査コストの削減もできるようなパネル用加熱検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate inspection device capable of performing inspection efficiently in the case of a small amount of inspection object substrates, and reducing cost by a simple constitution.例文帳に追加

検査対象の基板が少量である場合に、効率良く検査を実施することができ、且つ、簡便な構成でコスト低減を図ることのできる基板検査装置の提供。 - 特許庁

To save a space in the periphery of a production line, to enhance inspection efficiency, and to reduce a cost.例文帳に追加

製造ラインの周囲の省スペース化と、検査効率の向上及びコスト低減を図る。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of acquiring a proper image without increasing a cost.例文帳に追加

コスト高を招くこと無く、適切な画像を得ることができる検査装置を提供する。 - 特許庁

To obtain reference image data with a small amount of variation and by which exact inspection is performed at a low cost.例文帳に追加

バラツキが少なくて正確な検査が行える基準画像データを低コストに得ること。 - 特許庁

To manufacture a spring probe reducing production cost and improving inspection accuracy.例文帳に追加

製造コストの低減及び検査精度の向上を図ることができるスプリングプローブを製造する。 - 特許庁

To save a space for wiring for simplified lighting inspection; to facilitate maintenance; and to reduce cost.例文帳に追加

簡易点灯検査用配線の省スペース化、メンテナンスの容易化及びコスト低減を図る。 - 特許庁

To provide an inspection system hardly increasing a circuit area, and capable of preventing increase of cost.例文帳に追加

回路面積の増大が少なくコスト増を抑えることが可能な検査システムの提供。 - 特許庁

To provide a bump IC inspection device wherein space-saving and cost reduction can be achieved.例文帳に追加

省スペース化及び低コスト化を図ることができるバンプIC検査装置を提供する。 - 特許庁

The facility maintenance management device records already executed inspection cost of each the facility constituent item, and calculates total cost of the inspection cost in an arbitrary period of each the facility constituent item, each average cost of the multiple inspection execution in the arbitrary period, and total cost of all the facility constituent items in the arbitrary period.例文帳に追加

さらに、設備構成品目それぞれの実施済み点検費用を記録し、記録された実施済み点検費用に基づいて、それぞれの設備構成品目の任意の期間における点検費用の合計費用、任意の期間における複数回の点検実施の各平均費用、および任意の期間における全ての設備構成品目の合計費用を算出する。 - 特許庁

To surely carry out re-inspection for a specimen having the possibility affected by carry-over without generating waste in inspection, to shorten an inspection time, to reduce an inspection cost, to enhance reliability for the inspection, and to prevent an inspection error.例文帳に追加

キャリーオーバーの影響が危惧される検体の再検査を、検査の無駄を生じることなく確実に行なうことができ、検査時間の短縮および検査コストの低減を図ることができると共に、検査の信頼性の向上および検査過誤の防止を図ることができる分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a setting method of product inspection content, changing method of product inspection content, setting system of product inspection content and changing system of product inspection content capable of realizing a reduction in cost or inspection time by eliminating duplicate inspections for the same failure.例文帳に追加

同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化を実現できる製品検査内容設定方法、製品検査内容変更方法、製品検査内容設定システム及び製品検査内容変更システムを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method capable of reducing the mistake of an inspection target, the leak of inspection, the missing of a trouble place, the erroneous judgment of quality and the like by emphasizing the inspection target, and an inspection support system low in cost and having high general-purpose properties.例文帳に追加

検査対象を強調して、検査すべき対象の取り違え、検査漏れ、不具合箇所の見逃し、良否の誤判断等を低減することができる検査方法、及び低コストで汎用性が高い検査支援システムを提供する。 - 特許庁

To reduce the time, process and cost required for inspection of a printing state, and to reflect the result of inspection on a following printing process.例文帳に追加

プリンティング状態の検査に必要な時間、工程及び費用を減少させ、また、検査の結果を後続プリンティング工程に反映する。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device for inspecting a metal electrode with high accuracy, at a low cost, and in a short period of time.例文帳に追加

高精度且つ低コスト且つ短期間に検査が可能な金属電極の検査方法および検査装置を得ることを目的とする。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device for adding X-ray inspection to an already built conveying line at low cost and in a saved space.例文帳に追加

低コストおよび省スペースで、既に構築された搬送ラインに対してX線検査を追加するX線検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device for a glass substrate having high inspection accuracy for the glass substrate and allowing the device cost to be reduced.例文帳に追加

本発明は、ガラス基板の検査精度が高く、しかも、装置価格も低廉とすることができるガラス基板の検査装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a prober and a probing inspection method in which a tester and a probe card can be used efficiently and total cost of probing inspection can be reduced.例文帳に追加

テスタ及びプローブカードを効率的に使用でき、プロービング検査全体のコストを低減できるプローバ及びプロービング検査方法の実現。 - 特許庁

To eliminate adverse effects of temperatures from both a probe inspection apparatus and a laser generator and minimize inspection interruption by cleaning, thus attaining a cost reduction.例文帳に追加

プローブ検査装置とレーザ発生装置との間で温度影響をなくし、クリーニングによる検査の中断を少なくし、コストを下げること。 - 特許庁

To provide a substrate inspection unit which can decrease its production cost, and to provide a substrate inspection device and method including the unit.例文帳に追加

製作費用を減少させることができる基板検査ユニット、それを有する基板検査装置及び基板検査方法を提供する。 - 特許庁

From an idle state of the periodic inspection implementing organ, a discount rate of a cost for the periodic inspection is set large on a day with a lot of idle time.例文帳に追加

この定期点検実施機関の空き状態から、空きが多い日では定期点検の費用の割引率を大きく設定する。 - 特許庁

To provide a ticket inspection system facilitating the inspection of tickets and suited for reducing the cost of manufacture and installation.例文帳に追加

チケットの検札を容易にするとともに、製造および設置にかかるコストを低減するのに好適なチケット検札システムを提供する。 - 特許庁

To provide an optical panel and an inspection probe with which reliable contact with precise signal lines is materialized and inspection cost is significantly reduced.例文帳に追加

細密な信号線に対しても確実なコンタクトを実現でき、検査コストを大幅に低減できる光学パネル、検査プローブの提供。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for inspecting an inkjet recording head allowing a quicker inspection at low inspection cost.例文帳に追加

検査のコストが安価で、より速く検査を行なうことができるインクジェット記録ヘッドの検査方法及びその装置を提供することである。 - 特許庁

To stably inspect a semiconductor device by providing an inspection tool for an inspection device usable in the inspection at opening the work of a visual examination device for the semiconductor device and to reduce the inspection cost.例文帳に追加

半導体装置の外観検査装置において、それぞれの外観検査装置の始業点検に使用できる検査装置用点検治具を備え、安定した半導体装置の検査を行い、検査運用コストの低減を図る。 - 特許庁

To provide a pin block unit, capable of coping flexibly with individual inspection objective substrates without replacing a pin block side, when inspecting an inspection point of the inspection objective substrate so as to reduce the inspection cost.例文帳に追加

検査対象基板の検査ポイントを検査するに際して、ピンブロック側を交換することなく検査対象基板の別に柔軟に対応し得るようにして検査コストの低減を図ることができるピンブロックユニットの提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and a semiconductor inspection device, which secures an operation even when using the semiconductor inspection device provided with no analog inspection device, and reduces an inspection cost.例文帳に追加

アナログ検査装置を備えていない半導体検査装置を用いても動作の保証を可能にするとともに、検査コストを低減することができる半導体集積回路及び半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a panel for glove box having a simple and inexpensive structure and capable of reducing manufacturing cost, assembling cost, inspection cost or the like, and safely and quickly performing the replacement of a glove.例文帳に追加

構造が簡単で、かつ、安価である上、製作費、組立費、検査費等を低減でき、更に、グローブを安全に、かつ、速やかに交換できるグローブボックス用パネル。 - 特許庁

To provide an electric inspection jig capable of performing an electric inspection of a wiring board at low cost and in a short time, and a wiring board manufacturing method that involves using the electric inspection jig to perform an electric inspection of a wiring pattern at low cost and in a short time.例文帳に追加

配線基板の電気検査を低コストかつ短時間で実施することが可能な電気検査用冶具を提供するとともに、この電気検査用冶具を用いることにより、低コストかつ短時間で配線パターンの電気検査を伴う配線基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a connection probe between an integrated circuit and an inspection device that reduces an inspection cost and an inspection time for one or a plurality of integrated circuits that are formed on a wafer.例文帳に追加

ウェハー上に形成された1つまたは複数の集積回路の検査コストおよび検査時間を削減するための、集積回路と検査装置との接続プローブを提供する。 - 特許庁

To provide a mounting accuracy inspection method capable of detecting a relative location accuracy between a display panel and optical means at a low cost and at a high speed; and to provide an inspection device using the inspection method.例文帳に追加

表示パネルと光学手段との相対的な位置精度を低コストかつ高速に検出できる、実装精度検査方法及びその検査方法を用いる検査装置を提供する。 - 特許庁

To perform an inspection while compensating for delay variations by automatically adjusting a variable delay circuit using a low-speed versatile inspection apparatus, and to achieve cost reduction and improve inspection quality.例文帳に追加

低速の汎用検査装置を用いて、可変遅延回路を自動調整し、遅延ばらつきを補償して検査可能とするとともに、コストダウンと検査品質向上とを実現する。 - 特許庁

To provide an outer wall inspection hammer constituted singly at an inexpensive instrument cost and accurately implementing both of a sounding inspection and a friction inspection by simple operation.例文帳に追加

本発明は、単品構成で器具コストが低廉で済み、且つ、簡略な操作で打診検査と擦り検査との双方を的確に行うことができる外壁検査用ハンマーを提供するものである。 - 特許庁

To provide a tester and an inspection device equipped with the tester capable of executing both internal inspection and external inspection of agricultural produce, and suppressing device cost increase to the utmost.例文帳に追加

農産物の内部検査及び外部検査を共に実施し得る一方、装置コストの上昇を可及的に抑制することができる検査器、及び該検査器を備える検査装置を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a leakage inspection apparatus for electronic components and a leakage inspection method for electronic components, capable of conducting a leakage inspection of electronic components such as acceleration sensors at a high speed and a low cost.例文帳に追加

加速度センサ等の電子部品のリーク検査を高速且つ安価に行うことが可能な電子部品用リーク検査装置および電子部品用リーク検査方法を提供する。 - 特許庁




  
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