「inspection cost」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To make a nondestructive egg inspection apparatus small and low-cost and to increase its inspection accuracy.例文帳に追加

非破壊検卵装置を小型で安価にするとともに、検査精度を高くする。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor device capable of reducing inspection cost, analysis cost and manufacturing cost.例文帳に追加

検査コストや解析コスト、製品コストを低減可能な半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To acquire an inspection image of high contrast while reducing the manufacturing cost of a pattern inspection device.例文帳に追加

パターン検査装置の製造コストを削減しつつコントラストの高い検査画像を取得する。 - 特許庁

To provide an alarm adapter for shortening inspection time and reducing inspection cost.例文帳に追加

点検時間の短縮と点検時のコストの削減を実現した警報器アダプタを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection interval display unit for displaying the difference between the theoretical inspection interval for minimizing a total cost of the inspection cost and a processing cost of the defective unit and the actual inspection interval in the easily recognizable form.例文帳に追加

検査コスト及び不良品の処理コストの和であるトータルコストが最小になる理論検査間隔と現状の検査間隔との差分を認識しやすい形式で表示する検査間隔表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display panel and its inspection method by which cost of inspection is reduced and highly precise inspection is made possible.例文帳に追加

検査コストを削減し、かつ、高精度の検査が可能な液晶表示パネル及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an efficient and low-cost semiconductor inspection device.例文帳に追加

能率的且つ低コストの半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method of a semiconductor device capable of reducing the inspection time and cost.例文帳に追加

検査時間およびコストを低減することが可能な半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a keyboard tester, with which the inspection efficiency can be improved and the inspection cost can be reduced.例文帳に追加

検査効率を向上し、検査コストを低減することができるキーボードテスターを提供する。 - 特許庁

To provide an optical inspection apparatus fitted to miniaturization and contributing to cost reduction, and an optical inspection system.例文帳に追加

小型化に適し低廉化に資する光学検査装置及び光学検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a defect inspection method capable of performing defect inspection at high speed, suppressing cost increase.例文帳に追加

コストの増大を抑えて高速に欠陥検査を行うことができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To perform inspection of an LCD panel at low cost before packaging ICs (COG).例文帳に追加

ＬＣＤパネル検査を低コストでＩＣ実装（ＣＯＧ）前に行う。 - 特許庁

To reduce the cost incurred in the process of inspection in a chip state.例文帳に追加

チップ状態での検査工程で発生するコストを低減する。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection system that realizes reduced testing cost.例文帳に追加

テストコストの削減を実現する半導体検査システムを提供する。 - 特許庁

To reduce a cost and time of cleaning in nozzle inspection.例文帳に追加

ノズル検査時のクリーニング時間の短縮およびコスト低減を図る。 - 特許庁

To satisfy requirement for improvement of safety by reducing a facility cost of via-hole filling work inspection/filling print inspection.例文帳に追加

ビアホール加工検査・充填印刷検査の設備コスト低減、安全性向上の要求を満たす。 - 特許庁

To improve a quality guarantee level of a lower tie plate, and to reduce inspection cost required for an inspection.例文帳に追加

下部タイプレートの品質保証水準の向上、および検査に要する検査コストの低減を図る。 - 特許庁

To improve efficiency of IC inspection, to prevent complication of the hardware of an LSI tester, and to reduce inspection cost.例文帳に追加

ＩＣ検査の効率向上、ＬＳＩテスタのハードウェアの複雑化防止および検査コストの削減を図る。 - 特許庁

To provide a joint meter inspection system which can rationalize the meter inspection about electricity, gas and water for reducing the meter inspection cost of them.例文帳に追加

電気、ガス、水道の検針を合理化して検針に要するコストの削減を図ることができる共同検針システムを提供する。 - 特許庁

To provide a member inspection device for performing visual inspection on an inspecting object according to a desired inspection manner at a low cost.例文帳に追加

複検査対象物の外観検査を所望の検査態様に応じて低コストで行うことが可能な部材検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a crack inspection method with excellent reliability and cost performance, not by means of visual inspection, and a manufacturing method having the inspection method.例文帳に追加

視認検査ではなく、信頼性およびコストに優れた亀裂検査方法および該検査方法を有する製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a model inspection program, a model inspection method and a model inspection device, allowing detection of possibility of omitted setting of a property in model inspection, and allowing reduction of calculation cost.例文帳に追加

モデル検査においてプロパティの設定漏れの可能性を検出するとともに、計算コストを減少するモデル検査プログラム、モデル検査方法、モデル検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pattern inspection method not requiring the setting alteration of the inspection condition corresponding to an inspection target, simple in structure, low in cost and enabling high speed processing, and a pattern inspection device.例文帳に追加

検査対象に応じた検査条件設定変更の必要がなく、簡単な構造かつ低コストで、高速処理が可能なパターン検査方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method of an electronic component enhancing the degree of freedom in the inspection of a product and reducing the cost required in inspection, and also to provide an inspection system of the electronic component using the same.例文帳に追加

製品検査における自由度を高め，検査に要する費用を軽減する電子部品検査方法及び，これを用いる電子部品検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a washing nozzle inspection apparatus at a low cost.例文帳に追加

低コスト化を図ることができる洗浄ノズル検査装置を提供する。 - 特許庁

To speedily and accurately perform magnetic inspection while suppressing device cost.例文帳に追加

装置コストを抑制しつつ、磁気検査を高速かつ高精度に行うこと。 - 特許庁

This visual inspection apparatus has an count-counting of inspection means for counting the number of executed inspection times, a parameter input means for inputting parameters related to inspection cost, and an inspection cost-operating means for calculating the actual inspection costs at a group of inspections on the basis of the number of inspection times and the parameters.例文帳に追加

検査を実行した回数を計数する検査回数計数手段と、検査費用に関するパラメータを入力するパラメータ入力手段と、前記検査回数と前記パラメータとに基づいて一群の検査における実績検査費用を演算する検査費用演算手段とを有するようにした外観検査装置。 - 特許庁

To provide a substrate inspection device capable of contacting the contact shoes with inspection points surely at the time of inspection while suppressing the increase in cost.例文帳に追加

コストの増加を抑制しつつ、検査時に接触子を確実に所望の検査点に接触させることのできる基板検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an information inspection device and an information inspection method capable of continuously practicing inspection of erroneous arrangement of a large number of articles and of low cost.例文帳に追加

多数の物品の間違い配置検査を連続的に実行可能で低コストの情報検査装置および情報検査方法を提供する。 - 特許庁

To eliminate the 4 need for using flexible disk, to reduce inspection time and cost and to improve the accuracy of inspection.例文帳に追加

フレキシブルディスクを使用する必要がなく、検査時間や費用を軽減できると共に検査精度を向上する。 - 特許庁

To perform thickness inspection of each colored layer of three primary colors of a large-sized inspection object at a low cost.例文帳に追加

大型の検査対象物について、三原色の各着色層についての膜厚検査を低コストで行う。 - 特許庁

To provide a water hole inspecting apparatus to raise the reliability of water hole inspection for contributing to engine's cost reduction.例文帳に追加

水穴検査の信頼性を高め、エンジンコストの低減に寄与する。 - 特許庁

Further, the inspection cost is lowered since no infrared camera is used.例文帳に追加

また、赤外線カメラを用いないので、検査コストを低減することができる。 - 特許庁

To provide a conversion board for a wiring inspection tool reducing cost and heightening efficiency of a work, when performing wiring inspection by using the wiring inspection tool, and to provide the wiring inspection tool.例文帳に追加

配線検査治具を用いて配線検査を行う際に、コストの低減及び作業の高効率化を図ることができる配線検査治具用変換盤及び配線検査治具を提供する。 - 特許庁

To heighten efficiency of an inspection work using a general-purpose inspection device, to shorten an inspection time, and to reduce inspection cost, by enabling simultaneous inspection by combining flexibly different kinds of semiconductor devices.例文帳に追加

異なる種類の半導体装置を柔軟に組み合わせて同時検査を実施できるようにし、汎用検査装置を用いた検査作業の効率向上、検査時間の短縮ならびに検査コストの低減を実現する。 - 特許庁

To simplify a determination criterion of quality of a can in seaming inspection, and to reduce the cost of entire-perimeter inspection of a seaming part of the can which is an object of inspection.例文帳に追加

巻締検査において缶の良否の判断基準の単純化を図り、検査対象である缶の巻締部の全周検査のコスト低減を可能とする。 - 特許庁

To provide an inspection device and an inspection method for semiconductor elements which are preferred for parallel processing, and which can also reduce the inspection cost.例文帳に追加

半導体素子の検査の並列処理に好適で、検査にかかるコストを低減することができる半導体素子の検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection system capable of easily recognizing the inspection progress of an electronic apparatus having a display section at a low cost and preventing omission of inspection.例文帳に追加

表示部を備える電子機器の検査の進捗状況の把握が容易且つ安価にできて検査漏れを防止できる検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a substrate inspection device and substrate inspection method for reducing the substrate cost and improving the yield in an inspection stage, prior to pattern formation.例文帳に追加

パターン形成前の検査段階において、基板コストの削減と歩留まりの向上を図ることができる基板検査装置および基板検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection system and its inspection method precisely inspect quality by easily changing the content of inspection at low cost.例文帳に追加

検査内容の変更を容易且つ安価に行えるようにして、的確な品質検査を実施できるようにした検査システムおよびその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a mounted base board visual inspection device and its visual inspection method allowing both of mounting inspection and soldering inspection by means of a single inspection device so as to improve efficiency of an inspection process and so as to lower an equipment cost.例文帳に追加

単一の検査装置によって実装検査および半田検査が行え、検査工程の効率を向上させると共に設備費用を削減できる実装基板の外観検査装置および外観検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To enhance precision of an inspection result, and to reduce an inspection cost, in a complete survey method for a general purpose engine.例文帳に追加

汎用エンジンの完成検査方法において、検査結果の精度を高めるとともに、検査コストを低減させること。 - 特許庁

To enhance a picture data processing speed and to enhance a resolution of an inspection system, and cutting down construction cost of crack inspection system.例文帳に追加

亀裂検査システムの構築費用を減らし、映像データ処理速度の向上と検査システムの分解能を高める。 - 特許庁

To provide an inspection device for inspecting the display panel of a display device, facilitating inspection and reducing the manufacturing cost.例文帳に追加

表示装置の表示パネルを検査する検査装置に対し、検査を容易に行うと共に製造コストの低減を図る。 - 特許庁

To provide a visual inspection device that can reduce cost, simplify device structure and shorten an inspection cycle time.例文帳に追加

コストを低く抑え、装置の構成を簡素化し、検査サイクルタイムを短縮することができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁