「focused beam」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

The light source comprises a CCFL lighting tube, or a xenon lighting tube, or a direct under type light emitting diode, a light beam 311 emitted by the light source is guided to the focus lens group by securing a sufficient optical path through reflection mirror groups 321, 322, 323 and focused on the linear CMOS image sensor by correcting aberration by the focus lens group comprising a plurality of lenses.例文帳に追加

該光源は、CCFL灯管或いはキセノン灯管或いは直下式発光ダイオードからなり、光源が発射した光線３１１は、反射ミラーグループ３２１、３２２、３２３を経て十分な光路を確保されてフォーカスレンズグループに導かれ、複数のレンズからなるフォーカスレンズグループにより収差を補正されてリニアCMOSイメージセンサーに焦点を結ぶ。 - 特許庁

The microbending optical circuit 10 constituted of a rectangular waveguide, where a rectangular core layer 13 of a high refractive index is embedded in a clad layer 12 of a low-refractive index, is provided with a local air layer 15 formed by a focused ion beam method on the side end face 18 of a core layer bending part 14 bent at an arbitrary bending radius.例文帳に追加

低屈折率のクラッド層１２内に高屈折率の矩形状のコア層１３が埋め込まれた矩形導波路で構成される微小曲げ光回路１０において、任意の曲げ半径で曲げられたコア層曲げ部１４の側端面１８に、フォーカスイオンビーム法により形成された局所的な空気層１５を設けたものである。 - 特許庁

To provide a charged particle beam defect inspecting device and method for correcting a dislocation of a focal position due to a charged-up state of a sample to be observed without troubling an operator, and resultingly ensure a focused clear observation and a precise defect inspection even under a charged-up state of the sample.例文帳に追加

観察対象の試料に生ずるチャージアップに起因する焦点位置のずれを操作者の手を煩わすことなく補正することができ、その結果として試料がチャージアップしている場合であっても焦点のあった鮮明な観察及び高精度の欠陥検査を行うことができる荷電粒子ビーム欠陥検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

A platinum layer is coated on surface of a paper or a printed matter and a carbon layer is coated on the platinum layer to form a protective and charge-preventive layer comprising the platinum layer and the carbon protective layer to smooth uneven microstructure present on the surface of the sample, and then, the ion beam is focused on the surface of the paper of the printed matter to obtain the section sample.例文帳に追加

紙や印刷物の表面に白金層をコーティングし、この白金層の上にカーボン層をコーティングし、サンプル表面に存在するミクロな凹凸面を平滑にする白金層及びカーボン保護層から成る帯電防止兼用の保護層を形成してから、紙や印刷物の表面にイオンビームを集束して切断し断面試料を得る。 - 特許庁

Further, the reflection light from the multilayered optical disk is divided into a number of areas, and the divided light beams are focused on different positions of the photodetector, and the divided areas of the light beam and the light receiving surface are arranged so that the stray light from the recording layer which is not desired to reproduce will not enter the light receiving surface for a servo signal of the photodetector when focusing on the desired layer.例文帳に追加

また、多層光ディスクからの反射光を複数の領域に分割し、分割された光ビームが光検出器上の異なる位置に焦点を結ぶとともに、目的の層に焦点が合っているときには再生の対象でない記録層からの迷光が光検出器のサーボ信号用の受光面に入らないように光ビームの分割領域と受光面を配置する。 - 特許庁

In this manufacturing method of a field emission electron gun provided with multiply divided emitter electrodes for emitting electron beams, by removing and processing a tip part 28 of the emitter electrode 21 by irradiating the tip part 28 with a focused ion beam I, a plurality of needle-like parts 30 independent of one another and extending in the emitting direction of the electron beams are formed at the tip part 28.例文帳に追加

電子ビームの出射のための複数分割エミッタ電極を備える電界放出型電子銃の製造方法であって、エミッタ電極（２１）の先端部２８に集束イオンビームＩを照射して先端部２８を除去加工することにより、先端部２８に互いに独立しかつ電子ビームの出射方向に伸長する複数の針状部３０を形成する。 - 特許庁

The method for manufacturing a diamond electron source which includes a top end portion as a diamond electron discharging point includes a process A in which a top end shape of the sharp top portion is rectified to a spherical surface by using a focused ion beam processing unit and a process B in which a process-damaged layer formed by the process A is removed by an acid solution.例文帳に追加

本発明が提供するダイヤモンドの電子放射点として先鋭部を有するダイヤモンド電子源の製造方法は、該先鋭部の先端形状を集束イオンビーム加工装置を用いて球面形状に補正する工程Ａと、該工程Ａによって形成された加工変質層を酸水溶液によって除去する工程Ｂとを有することを特徴とする。 - 特許庁

Distance on respective optical paths between a lens for correcting spherical aberration and an objective lens when a laser beam is focused at an information recording plane of a plurality of layers of the optical disk as the lens for correcting spherical aberration is shifted, is distance in which optical magnification of the optical system constituted including the lens for correcting spherical aberration and the objective lens is made approximately constant.例文帳に追加

球面収差補正用レンズの移動に伴ってレーザ光が光ディスクの複数層の情報記録面に合焦するときの球面収差補正用レンズと対物レンズとの間のそれぞれの光路上の距離は、球面収差補正用レンズ及び対物レンズを含んで構成される光学系の光学倍率を略一定とする距離である、ことを特徴とする。 - 特許庁

In this hose made out of a synthetic resin and marked at proper intervals in the longitudinal direction of a hose main body made out of a soft synthetic resin, the marking is performed by laser, a surface of the hose is heat-processed by the focused laser beam, and the marking is performed by stripping off or carving the surface of the hose, whereby the separation and removing of the marking can not be found.例文帳に追加

軟質合成樹脂から製せられたホース本体の長手方向に適宜間隔をおいてマーキングされた合成樹脂製ホースであって、前記マーキングがレーザーによるもので、集光されたレーザー光によりホース表面が熱加工され、ホース表面が剥離、彫り込みされることによりマーキングされたものであり、マーキングが剥がれたり、とれたりすることがない。 - 特許庁

This manufacturing method includes a process S101 for forming an etching mask material by a lithography process on a silicon substrate, a process S102 for forming a slit in the etching mask material by cutting the etching mask material formed on the silicon substrate by focused ion beam and a process S104 for forming a groove in a slit portion formed in the etching mask material by etching.例文帳に追加

電子部品の製造方法は、シリコン基板上にリソグラフィ工程によってエッチングマスク材を形成する工程Ｓ１０１と、シリコン基板上に形成されたエッチングマスク材を集束イオンビームで切断してエッチングマスク材にスリットを形成する工程Ｓ１０２と、エッチングによってエッチングマスク材に形成されたスリット部分に溝を形成する工程Ｓ１０４とを含む。 - 特許庁

The camera comprises a lens system 12, 13, 14 and 16, an imaging element 19 on which a light beam from the lens system is focused, and a quantity of light regulating filter 15 being inserted removably into the lens system while having an iris blade and a neutral filter wherein a diffraction grating 15b is provided on the side of the quantity of light regulating filter 15 facing the imaging element 19.例文帳に追加

レンズ系１２、１３、１４、１６と、そのレンズ系よりの光束が焦点を結ぶ如く照射される撮像素子１９と、レンズ系に挿脱自在に配される、絞り羽及び中性フィルタを備える光量調整フィルタ１５とを有するカメラ装置において、光量調整フィルタ１５の撮像素子１９に対向する面側に回折格子１５ｂが設けられてなるものである。 - 特許庁

To provide a laser welding method and a device therefor where a laser head is kept at a fixed distance from a structure to be welded, and a laser beam can be focused on different parts in the structure to be welded without changing the position of the laser head by a process ensuring high welding quality, and simple and effective owing to the remarkable shortening of production time.例文帳に追加

高い溶接品質を保証し、同時に、製造時間を相当短縮することにより簡素で効果的な方法で、レーザヘッドを溶接する構造体から一定の距離に維持し、レーザヘッドの位置を変更することなく溶接する構造体の異なる部分にレーザ光線の焦点を合わせることができる改良されたレーザ溶接方法および装置を提供する。 - 特許庁

The method of fabricating the acicular sample for field ion microscopy includes a process for machining the desired part of the sample to be observed with a field ion microscope into an acicular shape by irradiating the sample with a focused charged-particle beam, a process for cutting the acicular sample away from a sample base, and a process for fixing the cut acicular sample to an electrode bar.例文帳に追加

電界イオン顕微鏡観察用針状試料の作製方法は、集束した荷電粒子ビームを照射することにより電界イオン顕微鏡で観察する所望の箇所を針状に加工する工程と、針状試料を試料基板から切り離し摘出する工程と、摘出した針状試料を電極棒に固定する工程を含むことを特徴とする。 - 特許庁

This disk driving device detects (S101-S109) a frequency of off-focusing servo in which a laser beam irradiated onto a signal surface of a disk comes off a focused state, and discriminates whether or not the disk surface is in the wobbling state interfering with recording or reproduction of data on the disk based on result of the detection at the time of recording or reproducing the data.例文帳に追加

データの記録又は再生動作を行っている際に、ディスク９０の信号面に照射しているレーザ光が合焦状態から非合焦状態となるフォーカスサーボ外れの頻度を検出し（S101〜S109）、その検出結果に基づいて、ディスク９０がデータの記録又は再生に支障をきたすような面ブレ状態にあるかどうかの判別を行うようにしている。 - 特許庁

To provide a method for focusing light emitted from an LED array, measuring the shape of a focused light beam at a sensor section movable perpendicularly to the rod lens array and detecting the focal point of an LED printer head from the distance between the sensor section and the rod lens in which the focal point even of a central electrode type LED can be detected correctly.例文帳に追加

ＬＥＤアレイからの出射光をロッドレンズアレイにより結像してから該結像した光ビームの形状を前記ロッドレンズアレイに対して垂直に可動するセンサ部により計測し、然る後に該センサ部と前記ロッドレンズとの距離によりＬＥＤプリンタヘッドの焦点を検出するＬＥＤプリンタヘッド焦点検出方法において、中心電極型のＬＥＤでも正しく焦点を検出することができるＬＥＤプリンタヘッド焦点検出方法を提供すること。 - 特許庁