「directed inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

When the altering of the inspection conditions is directed through an operating part 2, the dialogue control part 3 transfers the identification numbers of the elements altered to a scan control part 5 to temporarily halt the execution of scanning.例文帳に追加

ここで、操作部２を介して検査条件の変更が指定されると、対話制御部３は、その変更されたエレメントの識別番号をスキャン制御部５に転送してスキャン実行を一時停止させる。 - 特許庁

Moreover, a group of the maintenance parts arranged in the same direction is directed toward the case side and also exposed from the case thereby permitting easy maintenance and inspection work from the outside without removing the case.例文帳に追加

しかも、図４で示すように同一方向に配置した保守部品群をケース側に向け、しかもケースより露出させることによって、ケースを外すことなく、外側より容易に保守点検作業することを可能にした。 - 特許庁

To provide a method enabling efficient reduced-thickness inspection over the total length of piping regardless of the length of piping by controlling an electromagnetic ultrasonic wave transmitted from an electromagnetic ultrasonic wave transmitter to be directed in just one direction on the axis direction.例文帳に追加

電磁超音波送信機から送信される電磁超音波が軸方向上の一方向のみとなるように制御することにより、配管長さの如何にかかわらず配管全長について効率的な減肉検査を可能にする。 - 特許庁

The inspection system has a first source for providing a first beam of the permeable radial ray of a specified cross section directed in a first beam direction substantially transverse to the direction of the motion of the object.例文帳に追加

本発明の検査システムは、物体の動きの方向に関して実質的に横断方向の第１ビーム方向に方向付けられた、特定の断面の透過性放射線の第１ビームを提供するための、第１の供給源を有する。 - 特許庁

An X-ray imaging inspection system for inspecting items includes an X-ray source (10) extending around an imaging volume (16), and defining a plurality of source points (14) from which radiated X-rays can be directed through the imaging volume.例文帳に追加

物品を検査するＸ線画像化検査システムは、撮像容積（１６）の周りに延在し、放射されるＸ線が撮像容積を通過できるように配向された複数の点状放射源（１４）を構成するＸ線放射源（１０）を有する。 - 特許庁

An accommodation recessed part capable of accommodating the semiconductor electronic component with the joining surface directed downward is provided, and an inspection opening capable of visually checking the joining surface of the semiconductor electronic component accommodated in the accommodation recessed part from a lower part is provided in a bottom surface wall of the accommodation recessed part.例文帳に追加

接合面を下方に向けて半導体電子部品を収容することができるようにした収容凹部を凹設し、同収容凹部の底面壁に、同収容凹部内に収容した半導体電子部品の接合面を下方から視認可能とした検査用開口を設ける。 - 特許庁

In a visual inspection method wherein a plurality of cameras are directed toward the one worked object to be image-processed and to be displayed on a monitor, the plurality of worked objects are dividedly displayed on the one screen at the same time, and the one worked object is displayed by images from a plurality of directions.例文帳に追加

１つの加工品に対して複数のカメラを向け、画像処理し、モニターに表示する目視検査方法において、複数の加工品を一画面に同時に分割表示すると共に、１つの加工品を複数方向からの映像で表示してなることを特徴とする。 - 特許庁

A rotary detachable arm 33 in the container 5 is driven by an air cylinder 16 to rotate from a position A to a position B, so that the submersible vehicle 1 is speedily positioned to a water range on the other side over a flow baffle 17, thereby the submersible vehicle is directed to a target inspection position for inspection.例文帳に追加

水中ビークル１を上下各格子板間の間隔以上の長さを有する容器５に入れて原子炉圧力容器底部に上下各格子板を通して吊り降ろし、容器５内の回転着脱アーム３３をエアーシリンダ１６で位置Ａから位置Ｂへ回転駆動することにより、フローバッフル１７を潜り抜けた向こう側の水域へ水中ビークル１を迅速に位置させ、目的検査部位へ水中ビークルを向かわせて検査する。 - 特許庁

This continuity inspection jig 1 comprises an insulating body 7 having a guide hole 70 therein, a contact pin 6 provided in a vertically movable manner in the guide hole 7 with its pinpoint directed toward a wiring circuit 81, a conductive compression coil spring 5 for biasing the contact pin toward the wiring circuit side, and a wire 3 electrically connected to the contact pin via the coil spring.例文帳に追加

導通検査治具１は，ガイド穴７０を有する絶縁体７と，ガイド穴の中にピン先端を配線回路８１側に向けて上下動可能に設けたコンタクトピン６と，コンタクトピンを配線回路側に付勢するための導電性の圧縮コイルバネ５と，圧縮コイルバネを通じてコンタクトピンと電気的に接続レているワイヤー３とからなる。 - 特許庁