「additional testing」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To acquire UL synchronization of a terminal by a mobile internet measuring device and execute analysis, without having to add additional testing function to the terminal or to use a base station.例文帳に追加

端末機に別途のテスト機能を付与せず、また、基地局を使用しないで、携帯インターネット計測器で端末機のＵＬ同期を取得して分析できるようにする。 - 特許庁

The Basel Committee should raise capital requirements for complex structured credit instruments and off-balance sheet vehicles, require additional stress testing, and enhance their monitoring. 例文帳に追加

バーゼル委員会は、複雑な仕組み商品及びオフバランス関連会社に関して所要自己資本を引き上げ、追加的なストレス・テストを要求し、モニタリングを強化すべき。 - 財務省

It is further measured whether or not the selected testing material causes immature chromosomal condensation in a culture cell phased to a specific stage of a cell cycle as an additional step for confirmation.例文帳に追加

確認のための追加工程として、選択された被験物質が、細胞周期の特定段階に同調された培養細胞に未成熟染色体凝縮を起こすか否かを測定する。 - 特許庁

To provide an operational test apparatus for a USB interface capable of testing an operation of the USB interface solely by an electric device, without using a specific additional test apparatus.例文帳に追加

ＵＳＢインターフェースの動作試験を実施するに際して、特別な付加的試験装置を用いることなく、当該電子機器単独で実施することが可能なＵＳＢインターフェースの動作試験装置を提供する。 - 特許庁

To solve problems that a multiple probe card for testing simultaneously several integrated circuits can not be used hitherto, and that thereby a test time of the integrated circuits is elongated, to increase an additional cost in a series of manufacturing processes.例文帳に追加

従来、いくつかの集積回路を同時に試験するための多重プローブカードの使用は不可能であり、これが集積回路の試験時間を延ばし、一連の製造工程における追加の費用を増大している。 - 特許庁

To provide a device and a method for inserting an additional delay time to the timing data of a specific event in an event type semiconductor test system for testing an electronic device to be tested by generating events of various timing.例文帳に追加

各種のタイミングのイベントを発生して被試験電子デバイスをテストするためのイベント型半導体テストシステムにおいて、特定のイベントのタイミングデータに追加の遅延時間を挿入する装置および方法を提供する。 - 特許庁

Then, a test target data matching the additional correct answer data pattern differing from the correct answer data pattern because of slight difference in timing at the time of testing but supposed to be test OK under normal circumstances is to be test OK.例文帳に追加

従って、検証時に、タイミングの微妙なずれにより、正解データパターンと異なるものになってしまったが、本来検証ＯＫとなるべき追加正解データパターンと一致する検証対象データは検証ＯＫとなる。 - 特許庁

Additional protease inhibitors, reducing agents, stabilizers and buffering agents may be combined with the disclosed compositions in devices for sampling or testing biological fluids for levels of peptides of interest, or methods therefor.例文帳に追加

追加のプロテアーゼ阻害物質、還元剤、安定剤、および緩衝剤が、興味の対象であるペプチドのレベルについて生物学的液体をサンプリングもしくはテストするための装置、またはそのための方法において、開示された組成物と併用されてもよい。 - 特許庁

To accurately measure the value of a built-in current sensing resistor in a semiconductor integrated circuit for sensing a large current having the built-in current sensing resistor without being influenced by additional resistance owing to terminals and/or a testing probe, and to adjust the threshold value for the current sensing based on the measurement result without requiring large current flow and special additional equipment.例文帳に追加

電流検出用抵抗を内蔵し、大きな電流を検出する半導体集積回路において、電流検出用抵抗の値を端子やテスト用プローブの付加抵抗の影響を受けることなく正確に測定すると共に、大きな電流を流したり特別な付加装置を設けることなく電流検出の閾値を測定結果に基づいて調整すること。 - 特許庁

To provide a system and method for testing simultaneously a column of a semiconductor memory and a redundant column by adding temporarily an additional parallel signal bit giving wider band width during test mode operation to an input/output data bus connected to a semiconductor memory.例文帳に追加

試験モード動作中により広い帯域幅を与える追加の並列信号ビットを半導体メモリに連結された入出力データ・バスに一時的に追加することによって、半導体メモリの列と冗長列とを同時に試験するシステムおよび方法を提供すること。 - 特許庁

The elastomeric casing may also incorporate a static seal or temporary dynamic seal to facilitate in-process testing or dirt exclusion, as well as one or more additional dirt exclusion features to protect the fluoropolymer seal from damage caused by environmental contaminants during the use of the seal.例文帳に追加

エラストマケーシングはさらに、工程間試験または汚れ排除を容易にするために静的シールまたは一時的な動的シール、および、シールの使用中に環境汚染物によって引起される損傷からフッ素共重合体シールを保護するための１つ以上の追加の汚れ排除機構を組込んでもよい。 - 特許庁

In addition to a correct answer data pattern collected in collecting correct answer data, a test target data turning out to be test NG because of slight difference in timing in testing but supposed to be test OK under normal circumstances is registered into a correct answer data pattern storage part 52 as a correct answer data pattern or an additional correct answer data pattern.例文帳に追加

正解データパターン記憶部52には、正解データ収集時に収集した正解データパターン以外にも、検証時に、微妙なタイミングのずれにより検証ＮＧとはなったが、本来なら検証ＯＫとなるべき検証対象データが正解データパターン（追加正解データパターン）として登録されている。 - 特許庁

To obtain a composite semiconductor integrated circuit device and its connection testing method which does not need any additional circuits inside LSIs, is consequentially capable of using existing LSI chips, suppresses increase in the number of external terminals (number of device pins) to a minimum, and dramatically improves a test function.例文帳に追加

ＬＳＩ内部に何ら付加的回路を必要とせず、したがって、既存のＬＳＩチップを用いることが可能であるとともに、外部端子数（デバイスピン数）の増加も最小限に抑えて、テスト機能を飛躍的に向上させた複合半導体集積回路装置、並びに、その接続試験方法を提供する。 - 特許庁

The excreta testing device for determining the constituent of excreta of a user, obtained by defecation in a toilet comprises display panels 11 and 12 and a loudspeaker 13 for reporting the obtained determination value of the excreta constituent and additional information corresponding to the determination value together, thus allowing the user to easily know the meaning of the determination result.例文帳に追加

トイレ内で用便行為により得られた使用者の排泄物の成分を測定する排泄物測定装置において、得られた排泄物成分の測定値と測定値に対応する付加情報を合わせて使用者に報知する表示パネル１１，１２やスピーカー１３を備えたので、使用者が測定結果の意味を容易に知ることができる。 - 特許庁