「Z-measurement」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A measurement beam LB is projected on a measurement surface (scale) 39Y_2 provided partially on an upper surface of a stage WST from a Z head 72a, and a reflected beam from the measurement surface is received to measure Z-axial surface position information on the measurement surface at a projection point of the measurement beam LB.例文帳に追加

Ｚヘッド７２ａからステージＷＳＴの上面の一部に設けられた計測面（スケール）３９Ｙ_2に計測ビームＬＢを投射し、その計測面からの反射ビームを受光して、計測ビームＬＢの投射点における計測面のＺ軸方向に関する面位置情報を計測する。 - 特許庁

The problem to be solved in the present invention is solved, by setting the measurement frequency f so as to generate minimum error ▵Z with regard to the impedance Z.例文帳に追加

この課題は、Ｚに関して最小の誤差ΔＺが生じるように、測定周波数ｆを設定することによって解決される。 - 特許庁

In EDS measurement, correction for inter-element interactions is performed by considering the atomic number, Z, the absorption, A, and fluorescence, F. 例文帳に追加

EDS測定においては、元素間の相互作用に対する補正は、原子番号(Z)、吸収(A)、蛍光(F)を考慮することによって行われる(成し遂げられる)。 - 科学技術論文動詞集

On the basis of the data X-Z on the resistance values and the measurement point, the connection state and the measurement mode of the measurement system using the strain gage or the like are determined.例文帳に追加

これら抵抗値のデータＸ〜データＺおよび測定個所に基づき、ひずみゲージ等を用いた測定系の接続状態および測定モードを判別する。 - 特許庁

When the difference of the Z-coordinate value between the measurement positions is not in the focusing range in the Z-coordinate direction, the optical probe part 6 is driven into the focusing range.例文帳に追加

測定位置間のＺ座標値の差がＺ座標方向における合焦範囲内にない場合には、光プローブ部６を合焦範囲内に駆動する。 - 特許庁

For the target pixels for measuring height among each pixel, measurement values are set as z-axis and z-axis of another pixels are set zero.例文帳に追加

各画素のうち、高さ計測の対象とされた画素には、ｚ座標として計測値が設定され、その他の画素のｚ座標はゼロ値に設定される。 - 特許庁

To effectively suppress the occurrence of the measurement error of a head (for example, an encoder and a Z sensor) caused by abnormality in a measurement surface, and further the occurrence of operation abnormality.例文帳に追加

計測面の異常に起因するヘッド（例えばエンコーダ、Ｚセンサなど）の計測誤差、さらに動作異常の発生を効果的に抑制する。 - 特許庁

The correspondence between an m/z value and a (q, CID) value pair is set by preliminary measurement.例文帳に追加

ｍ／ｚ値と（ｑ，ＣＩＤ）値対との間の対応は、予備測定検量によって設定可能である。 - 特許庁

In the gyroscopes 2-1, 2-2, angles θ_1, θ_2 between the rotational axis Z and measurement axes z_1, z_2 meet formula (1) |cosθ_i| < |FS_i/ω_MAX|.例文帳に追加

｜ｃｏｓθ_ｉ｜ ＜ ｜ＦＳ_ｉ／ω_ＭＡＸ｜ …（１）但し、（１）式中の各記号の意味は下記のとおりである。 - 特許庁

In the measurement, the Z coordinate value of the measurement position is calculated from the measuring pitch of the measuring apparatus 7, the radius of curvature and the outside diameter, based on the summit position.例文帳に追加

測定に際しては、頂点位置を基準として測定器７の測定ピッチと曲率半径と外径とから測定位置のＺ座標値を演算する。 - 特許庁

The measurement device includes a Z-axis guide mechanism 30Z guiding a Z-spindle 17 relative to a Y-slider 16 so that the Z-spindle 17 can move in a direction perpendicular to the movement directions of an X-slider 14 and the Y-slider 16.例文帳に追加

Yスライダ１６に対して、Ｚスピンドル１７をXスライダ１４およびYスライダ１６の移動方向に対して直交する方向へ移動可能にガイドするＺ軸ガイド機構３０Ｚを有する測定装置。 - 特許庁

Under this condition, the three-dimensional coordinate of position mark sphere is obtained from measurement values by measuring the X, Y, and Z positions of the Z slide 13 with a laser length measuring machines 61-65.例文帳に追加

この状態で、Ｚスライド１３のＸ、Ｙ、Ｚ位置をレーザー測長器６１〜６５によって測定し、測定値から位置マーク球の３次元座標を得る。 - 特許庁

A conveyor conveys a long moving material keeping a specified flatness so as to pass through a measurement region Z.例文帳に追加

搬送装置が長手の移動材料を所定の平坦さを保って測定領域Ｚを通るように搬送する。 - 特許庁

The vibrator 11A which uses measurement of physical quantities corresponding to a predetermined detection axis Z, is provided.例文帳に追加

所定の検出軸Ｚに対応する物理量を測定するのに用いる振動子１１Ａを提供する。 - 特許庁

A calibration device is configured to measure the Ry of the object support with the X interferometer measurement system in at least two different Z positions, measure the Ry of the object support with the Z interferometer measurement system in at least two different Z positions, calibrate the linear Z dependency of the Ry on the basis of the measurements, and calibrating the linear X dependency of Z on the basis of the previous calibration.例文帳に追加

較正デバイスは、Ｘ干渉計測定システムを使用して、少なくとも２つの異なるＺ位置で対象物支持体のＲｙを測定し、Ｚ干渉計測定システムを使用して、少なくとも２つの異なるＺ位置で対象物支持体のＲｙを測定し、測定した測値に基づいてＲｙの一次Ｚ依存性を較正し、且つ、該較正に基づいてＺの一次Ｘ依存性を較正するようになされている。 - 特許庁

To achieve a wide range of measurement of for example several mm and several tens of mm by enlarging a measurement range in a Z direction and greatly enlarging a scanning range.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡で、Ｚ方向の測定範囲を拡大し、走査範囲を大幅に広げ、例えば数ｍｍ、数十ｍｍの広範囲の測定を可能にする。 - 特許庁

To solve the problem that, in accordance with an estimation method of a spectral radiation luminance rate of a fluorescent sample based on JIS Z 8717, even during a measurement under a specific observation light source, the measurement is performed on all of N pieces of prepared measuring light sources, so that a processing time may become long.例文帳に追加

JIS Z 8717による蛍光試料の分光放射輝度率の推定方法によれば、特定の観察光源下における測定時であっても、用意されたN個の測定光源の全てについて測定を行うため、処理時間が長くなってしまう。 - 特許庁

The position in the Z-axis direction of the objective optical device 6 is controlled based on the displacement of the reception position of the reflected laser beams for measurement, which is measured by the PSD measurement device 16.例文帳に追加

ＰＳＤ測定装置１６により計測された測定用レーザの反射光の受光位置の変位に基づいて対物用光学装置６のＺ軸方向の位置を制御する。 - 特許庁

A three-dimensional measurement device 1 is provided with: an irradiation means 5 for three-dimensional measurement; a CCD camera 6 vertically movable by a Z-axis movement mechanism 9; and a main control means 7.例文帳に追加

三次元計測装置１は、三次元計測用照射手段５と、Ｚ軸移動機構９により上下動可能なＣＣＤカメラ６と、主制御手段７とを備えている。 - 特許庁

To provide a Z-measurement system comprising a fusion of: a shape observation optical system of depth and height by means of a light-section method; and an optical system by a depth and height measurement method by means of point light.例文帳に追加

光切断法による深さ高さの形状観察光学系と点光による深さ高さ測定法による光学系を融合したＺ測定システムを提供する。 - 特許庁

The thin-film-forming apparatus 1 projects the measurement light and receives the reflection light to and from each different direction with respect to the rotation axis of Z to Z', and accordingly can measure the film thickness with high accuracy without being affected by the interference of the lights.例文帳に追加

測定光と反射光が回転軸線Ｚ−Ｚ'の異なる方向から投受光されているので、光の干渉などの影響を受けずに高い精度で膜厚を測定することができる。 - 特許庁

Measured data by this measurement is coordinate-transformed on the basis of the previously found transnational movement amount in the X-axis direction, the Y-axis direction and the Z-axis direction and on the basis of the previously found rotation amount in the X-axis, the Y-axis and the Z-axis.例文帳に追加

その測定による測定データを、予め求めたＸ，Ｙ，Ｚの各軸方向の並進移動量とＸ，Ｙ，Ｚの各軸回りの回転量とに基づき座標変換する。 - 特許庁

A measurement head housing part 6 to be inserted in a lattice 1a of the fuel storage rack 1 is attached to the Z-axis driving part 7.例文帳に追加

Ｚ軸駆動部７には燃料貯蔵ラック１の格子１ａ内に挿入する計測ヘッド収納部６が取り付けられている。 - 特許庁

An electromagnetic brake 15 is attached to a Z-axis motor 10 which causes the Z-axis stage 5 provided with an objective lens 7 to be raised and lowered and an eyepiece 8 or the like, and the brake 15 is made to act, when the main body power source 25 of the measurement microscope is turned off by a Z-axis control part 16.例文帳に追加

対物レンズ７及び接眼レンズ８などが設けたＺ軸ステージ５を昇降させるＺ軸モータ１０に電磁ブレーキ１５を取り付け、Ｚ軸制御部１６によって測定顕微鏡の本体電源２５が遮断したときに電磁ブレーキ１５を働かせる。 - 特許庁

To provide a wire routing structure of a Z-axis unit in a substrate inspection device configured to route a measurement line or the like while maintaining an immovable state even when a probe is moved in a Z-axis axial direction so as not to cause disconnection.例文帳に追加

プローブをＺ軸軸方向に移動させても計測線等が不動状態を維持するように引き回して断線しないようにした基板検査装置におけるＺ軸ユニットの配線引き回し構造の提供。 - 特許庁

The instruction part 40 is provided with a plane-direction instruction part 4 which instructs the plane (X, Y) direction of the reference region using a mouse and a Z-direction instruction part 5, which instructs the depth (Z) direction in the three-dimensional measurement.例文帳に追加

指示部４０は、マウスにより基準領域の平面（Ｘ，Ｙ）方向の指示を行なわせる平面方向指示部４、三次元計測の際に奥行き（Ｚ）方向の指示を行なうＺ方向指示部５を有する。 - 特許庁

To stabilize a peripheral temperature environment by making clear an influence of heating fluctuation from a z-motor and by making constant a heating value from the z-motor, and to enhance thereby long term measurement reproducibility of an LSAW speed-measured value.例文帳に追加

ｚモータからの発熱変動の影響を明らかにし、ｚモータからの発熱量を一定にすることにより、周辺の温度環境を安定化させ、LSAW速度測定値の長期的測定再現性の向上を図る。 - 特許庁

When characteristics of the blood color appearing on the tongue color are taken into account, the tongue color shows a less change in the (y) value and extreme changes of the balance of the (x) value and the (z) value, so that (x-z) is used for the measurement of the tongue color.例文帳に追加

ここで、舌色に現れる血液の色の特性を考慮すると、舌色はｙ値の変化が少なく、ｘ値およびｚ値のバランスが顕著に変化するため、(ｘ−ｚ)を舌色の計測に利用する。 - 特許庁

By repeating circumferential measurement while changing the position of the Z-axis direction, the three-dimensional shape of the inner surface can be measured.例文帳に追加

Ｚ軸方向での位置を変化させて円周方向の測定を繰り返すことにより、内面の三次元形状の測定も可能となる。 - 特許庁

Scanning is performed at a position different from the position of a wafer in exposure, so as to perform focus measurement, focus information is calculated by using the measurement value of the focus measurement, and then scanning exposure is performed at an exposure position through the use of the calculated focus information, while performing z-driving and tilt-driving.例文帳に追加

露光するときのウエハの位置とは異なる位置でスキャンしてフォーカス計測をして、フォーカス計測の計測値も使ってフォーカス情報を算出し、算出したフォーカス情報を使ってＺ駆動やチルト駆動しながら露光位置でスキャン露光する。 - 特許庁

In the figure, before the position r enters a measurement zone Z of the velocity v, a interval I3 is a recent interval to satisfy an inequality [σ < σ0].例文帳に追加

図２では、位置ｒが速度ｖの計測領域Ｚに突入する以前においては、インターバルＩ３が「σ＜σ０」を満たす最も最近のインターバルとなっている。 - 特許庁

A tool position measurement device includes a first optical device 22 which makes light in the Z axis direction incident on a blade tip 12a of a rotary tool 12 to receive its reflected light.例文帳に追加

回転工具１２の刃先１２ａにＺ軸方向の光を入射させ、その反射光を受光する第一光学装置２２を備える。 - 特許庁

To provide a position measurement system of a lithography device capable of accurately prescribing a z-directional zero level without the need to use an expensive and/or an additional sensor.例文帳に追加

高価な及び／又は追加のセンサを使用する必要なしにｚ方向のゼロレベルを正確に規定できるリソグラフィ装置の位置測定システムを提供する。 - 特許庁

Shape recognition of the depth and height by the slit image and accurate Z-axis measurement by the point light is performed in the same optical system.例文帳に追加

スリット像による深さ高さの形状認識と点光による高精度なＺ軸測定が同一光学系で実現できるのが特徴である。 - 特許庁

The position measurement system includes a radiation source for a second grating of the encoder, a first grating, and an optical x-z encoder which measures displacement of a detector.例文帳に追加

位置測定システムは、エンコーダの第２グレーティングに対する放射源、第１グレーティング、および検出器の変位を測定する光学ｘ−ｚエンコーダを含む。 - 特許庁

By allowing a moment detection unit 21 to detect a moment load F_MZ which generates a moment component M_Z about Z-axis acting on the object under measurement 2, the magnitude and direction of the moment component M_Z about Z-axis is calculated.例文帳に追加

また、測定対象物２に作用するＺ軸回りのモーメント成分Ｍ_Zを発生させるモーメント荷重Ｆ_MZをモーメント検出部２１が検出することによって、Ｚ軸回りのモーメント成分Ｍ_Zの大きさ及び方向が演算される。 - 特許庁

The frequency dependency of a complex impedance Z having a MIS structure is measured, a peak height Rp/2 in the frequency dependency of an imaginary section (an inverted value) measured value-Im(Z) of the complex impedance Z is computed on the results of the measurement and the resistance value Rp of a parallel resistance is computed by using the results of the computation.例文帳に追加

ＭＩＳ構造の複素インピーダンスＺの周波数依存性を測定した後、当該測定結果に基づいて、複素インピーダンスＺの虚部（反転値）測定値−Ｉｍ（Ｚ）の周波数依存性におけるピーク高さＲｐ／２を算出し、当該算出結果を用いて並列抵抗の抵抗値Ｒｐを算出する。 - 特許庁

When this instrument is disposed on measurement position coordinates (x_i, y_j), it detects a magnetic field component parallel to an XY plane at the position coordinates (x_i, y_j) and a magnetic field component in a Z-axis direction at measurement position coordinates (x_i, y_j-1), and repeats measurement for each pitch p in a minus Y axis direction.例文帳に追加

そして、測定位置座標（ｘ_ｉ、ｙ_ｊ）に配置された場合、測定位置座標（ｘ_ｉ、ｙ_ｊ）におけるＸＹ平面に平行な磁界成分と、測定位置座標（ｘ_ｉ、ｙ_ｊ−１）におけるＺ軸方向の磁界成分とを検出し、＋Ｙ軸方向にピッチｐ毎に測定を繰り返す。 - 特許庁

The low-frequency measured value (Rp+Rs) of a real section Re(Z) of the complex impedance Z is computed on the basis of the results of the measurement, and the resistance value Rs of a series resistance is computed by using the results of the computation and the computed resistance value Rp.例文帳に追加

また、前記測定結果に基づいて、複素インピーダンスＺの実部Ｒｅ（Ｚ）の低周波測定値（Ｒｐ＋Ｒｓ）を算出し、当該算出結果及び算出した抵抗値Ｒｐを用いて直列抵抗の抵抗値Ｒｓを算出する。 - 特許庁

A function for correcting an error derived from mechanical error or the like of ion trap and a function for correcting an error of AC component are determined from the measurement values and true values of m/z for a plurality of calibration samples, and stored as correction information (S10-S12).例文帳に追加

複数の較正試料に対するm/zの測定値と真値とから、イオントラップの機械的な誤差等に由来する誤差を補正する関数と交流成分の誤差を補正する関数とを求め、これを補正情報として記憶しておく（S10〜S12）。 - 特許庁

When data processing is started, peak information (m/z and intensity) is extracted from mass spectrum data at all measurement points with respect to each of the designated small regions, and important peak information of high commonality in each region is extracted by a common peak method.例文帳に追加

データ処理が開始されると、指定された各小領域毎に、全ての測定点のマススペクトルデータからピーク情報（m/zと強度）が抽出され、コモンピーク法により領域毎に共通性の高い重要ピーク情報が抽出される。 - 特許庁

The lithographic apparatus further includes X, Y and Z interferometer measurement systems, and an object support positioning system configured to position the object support in a number of degrees of freedom on the basis of measurements of the interferometer measurement systems.例文帳に追加

リソグラフィ装置は、さらに、Ｘ、Ｙ及びＺ干渉計測定システムと、干渉計測定システムの測定に基づいて対象物支持体を複数の自由度で位置決めする対象物支持体位置決めシステムとを有している。 - 特許庁

A CPU 2 starts a general-purpose spreadsheet program stored in a memory 3 and reads the three-dimensional measured data in the X-Y-Z coordinates of a site under measurement such as the ground surface in the vicinity of a tunnel from a measurement control folder 10.例文帳に追加

ＣＰＵ２は、メモリ３に記憶されている汎用の表計算プログラムを起動し、トンネル周辺地域の地表面などの計測対象個所のＸＹＺ座標の３次元計測データを計測管理フォルダ１０から読み出す。 - 特許庁

The glass tube G is irradiated with laser beams for servo from a servo laser beam source 40 in a Z-axis direction that is a direction of a centerline between an optical axis of the laser beams for measurement and an optical axis of reflection light of the laser beams for measurement.例文帳に追加

サーボ用レーザ光源４０からガラス管Ｇに対して、サーボ用レーザ光を測定用レーザ光の光軸と測定用レーザ光の反射光の光軸との中心線の方向であるＺ軸方向に照射する。 - 特許庁

A controller 21 is provided for controlling operations of a calibration rack 4, the X-axis driving part 9, the Y-axis driving part, the Z-axis driving part 7 and the measurement head housing part 6.例文帳に追加

さらに、校正用ラック４、Ｘ軸駆動部９、Ｙ軸駆動部、Ｚ軸駆動部７および計測ヘッド収納部６を動作制御する制御装置21を設ける。 - 特許庁