| 意味 | 例文 (999件) |
Charged Particleの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3266件
CHARGED PARTICLE SPECTROSCOPE例文帳に追加
荷電粒子分光器 - 特許庁
a charged particle 例文帳に追加
電荷をもった粒子 - EDR日英対訳辞書
CHARGED PARTICLE MICROSCOPE例文帳に追加
荷電粒子顕微鏡 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM PROCESSING例文帳に追加
荷電粒子ビーム処理 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS AND CHARGED PARTICLE BEAM PROCESSING METHOD例文帳に追加
荷電ビーム装置及び荷電ビーム加工方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE GENERATION SOURCE例文帳に追加
荷電粒子発生源 - 特許庁
CHARGED PARTICLE ACCELERATOR例文帳に追加
荷電粒子加速装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE-BEAM APPARATUS例文帳に追加
荷電粒子ビーム装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE EXPOSURE EQUIPMENT例文帳に追加
荷電粒子露光装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE TRANSPORT MECHANISM例文帳に追加
荷電粒子輸送機構 - 特許庁
CHARGED PARTICLE IRRADIATION SYSTEM例文帳に追加
粒子線照射システム - 特許庁
CHARGED PARTICLE APPLICATION DEVICE例文帳に追加
荷電粒子応用装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE GENERATING DEVICE AND CHARGED PARTICLE GENERATING METHOD例文帳に追加
荷電粒子発生装置及びその発生方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE STORAGE DEVICE例文帳に追加
荷電粒子蓄積装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE GENERATING DEVICE例文帳に追加
荷電粒子発生装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE OPTICAL DEVICE例文帳に追加
荷電粒子光学装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS AND CHARGED PARTICLE DETECTING METHOD例文帳に追加
荷電ビーム装置および荷電粒子検出方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE MEASURING DEVICE例文帳に追加
荷電粒子測定装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE MEASURING DEVICE例文帳に追加
荷電粒子計測装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE IRRADIATOR例文帳に追加
荷電粒子照射装置 - 特許庁
MASK FOR CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE, CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM AND CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE METHOD例文帳に追加
荷電ビーム露光用マスク、荷電ビーム露光装置及び荷電ビーム露光方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE IRRADIATION APPARATUS例文帳に追加
荷電粒子照射装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE IRRADIATION DEVICE例文帳に追加
荷電粒子照射装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE IRRADIATION SYSTEM例文帳に追加
荷電粒子照射システム - 特許庁
CHARGED PARTICLE ACCELERATOR例文帳に追加
荷電粒子用加速装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM例文帳に追加
荷電ビーム露光方法及び荷電ビーム露光装置 - 特許庁
| 意味 | 例文 (999件) |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
 | Copyright © National Institute of Information and Communications Technology. All Rights Reserved. |
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
検索履歴を保存できる！
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
