yield testとは 意味・読み方・使い方

The solid wire for arc welding has a (0.2% yield strength)/(0.05% yield strength) ratio of 1.15 to 1.40 in a tensile test.例文帳に追加

アーク溶接用ソリッドワイヤは、引張り試験における（０．２％降伏強度）／（０．０５％降伏強度）比が１．１５乃至１．４０である。 - 特許庁

To provide a method for estimating a test yield to a semiconductor before a design layout.例文帳に追加

設計レイアウト前に半導体製品に対するテスト歩留まりを予測する方法を提供する。 - 特許庁

ANALYZING METHOD FOR CONSOLIDATION YIELD STRENGTH AND ALLOWABLE STRESS OF GROUND USING SOUNDING TEST例文帳に追加

サウンディング試験を用いた地盤の圧密降伏応力解析法および許容応力度解析法 - 特許庁

To enhance a yield in a product test, in a semiconductor device and a testing method therefor.例文帳に追加

半導体装置およびそのテスト方法における製品テストでの歩留まりを向上させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device permitting to improve a yield and a relief rate in wafer test.例文帳に追加

ウェーハテストの歩留まり、救済率向上を図ることができる半導体記憶装置を得る。 - 特許庁

To provide a chip which can yield a large breaking-load value and a high toughness after break in a bending test.例文帳に追加

曲げ試験での高い破壊荷重値と破壊後の高靭性を得られるチップを提供する。 - 特許庁

To contribute to improvement in an accuracy of test, a product yield and a reliability, by attaining the test in the worst case, which activates word lines of first and second ports by a same timing at the test.例文帳に追加

テスト時、第１、第２のポートのワード線を同一タイミングで活性化させる、ワーストケースでのテストを可能とし、テストの精度、製品の歩留まり、信頼性の向上に貢献する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device contributing to an improvement in yield in addition to a reduction in test time.例文帳に追加

テスト時間の短縮に加えて歩留まりの向上に寄与する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁