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x-ray photoelectron spectroscopic analysisとは 意味・読み方・使い方
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「x-ray photoelectron spectroscopic analysis」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 13件
X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPIC METHOD, APPARATUS THEREOF, SAMPLE HOLDER FOR X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPIC ANALYSIS例文帳に追加
X線光電子分光分析方法、その装置及びX線光電子分光分析用試料保持具 - 特許庁
The regenerated catalyst is subjected to an X-ray diffraction analysis and/or an X-ray photoelectron spectroscopic analysis of metal pieces to judge whether the regenerated catalyst is to be recovered.例文帳に追加
得られた再生処理後の触媒について、金属種のX線回折分析及び/又はX線光電子分光分析を行い、触媒の回収の要否を判定する。 - 特許庁
In the surface carbon film, the bond between the carbons has an sp3 bonding/sp2 bonding ratio of 5%-90% by X-ray photoelectron spectroscopic analysis.例文帳に追加
該表面炭素膜において、炭素同士の結合が室温のX線光電子分光分析でsp3結合/sp2結合比が5%〜90%である。 - 特許庁
To provide a method for simply and easily analyzing a high resistance sample in X-ray photoelectron spectroscopic analysis and secondary ion mass spectrometry.例文帳に追加
本発明は、X線光電子分光分析方法及び2次イオン質量分析方法で従来法以上に簡便に高抵抗試料の分析を行なう方法を提供することを課題とする。 - 特許庁
On the above-mentioned surface of the solder resist layer 408, X-ray photoelectron spectroscopic analysis spectrum has a value y/x not smaller than 0.4, where x is the detection intensity at bound energy of 284.5 eV, and y is the detection intensity at bound energy of 286 eV.例文帳に追加
ソルダーレジスト層408の上記面において、X線光電子分光分析スペクトルが、束縛エネルギー284.5eVにおける検出強度をx、束縛エネルギー286eVにおける検出強度をyとしたときに、y/xの値が0.4以上となるようにする。 - 特許庁
On the surface of the solder resist layer 408, X-ray photoelectron spectroscopic analysis spectrum has a value of y/x not smaller than 0.4, where x is detection intensity at 284.5 eV constraint energy and y is detection intensity at 286 eV constraint energy.例文帳に追加
ソルダーレジスト層408の上記面において、X線光電子分光分析スペクトルが、束縛エネルギー284.5eVにおける検出強度をx、束縛エネルギー286eVにおける検出強度をyとしたときに、y/xの値が0.4以上となるようにする。 - 特許庁
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「x-ray photoelectron spectroscopic analysis」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 13件
In this aluminum alloy extended material subjected to phosphate treatment and coating treatment, iron hydroxide or iron oxide precipitated from an aqueous solution of iron salt and identified by X-ray photoelectron spectroscopic analysis is adhered to the surface of the extended material.例文帳に追加
リン酸塩処理および塗装処理されるアルミニウム合金展伸材であって、鉄塩の水溶液から析出させ、X 線光電子分光分析により同定される、水酸化鉄または酸化鉄を展伸材表面に付着させたことである。 - 特許庁
To uniformly and electrically neutralize the surface of a sample which is charged nonuniformly and positively by the effects of photoelectrons, when the sample made of an insulator or a sample, in which insulators and conductors are arranged in a matrix is irradiated with X-rays in X-ray photoelectron spectroscopic analysis.例文帳に追加
X線光電子分光分析において、絶縁体からなる試料、または絶縁体と導電体がマトリックスに配列した試料にX線を照射した際に光電子効果により表面が不均一にプラス帯電した試料の該表面を均一に電気的に中和する。 - 特許庁
The developer carrier has a specific relation between the proportion of the sulfur atoms and the molybdenum atoms present in the surface of the conductive resin coating layer measured by X-ray photoelectron spectroscopic analysis and the proportion of the sulfur atoms and the molybdenum atoms present at a depth of 2 μm from the surface.例文帳に追加
X線光電子分光分析により測定される該導電性樹脂被覆層の表面おける硫黄原子、モリブデン原子の存在率と、表面から2μmの深さにおける硫黄原子、モリブデン原子の存在率が特定の関係を有する。 - 特許庁
In the analysis of the chemical bond of carbon by an X-ray photoelectron spectroscopic analysis method, coating layers 2 of polyphenylene ether-based organic matter are formed on the upper and lower surfaces of a liquid crystal polymer layer 1 of 7-18% area ratio caused by carboxy groups in the C1s peak area of the surface.例文帳に追加
X線光電子分光分析法による炭素の化学結合状態の分析で、表面のC1sピーク面積におけるカルボキシル基に起因する面積の割合が7〜18%である液晶ポリマー層1の上下面にポリフェニレンエーテル系有機物から成る被覆層2を形成して成ることを特徴とする絶縁フィルム3。 - 特許庁
The crosslinked polymer particle comprises a vinyl alcohol unit and a polymerization unit containing nitrogen as the constituents wherein the nitrogen content in the dry weight of the particle as determined by the elemental analysis is in the range of 10.0-18.0 wt.% and the surface nitrogen concentration as determined by X-ray photoelectron spectroscopic analysis (XPS) is in the range of 3.0-9.5 at%.例文帳に追加
ビニルアルコール単位および窒素を含有する重合単位を構成要素として含む架橋ポリマー粒子であって、元素分析により特定される乾燥重量中の窒素含有量が10.0〜18.0重量%の範囲にあり、X線光電子分光分析(XPS)により特定される表面窒素濃度が3.0〜9.5at%の範囲にある架橋ポリマー粒子。 - 特許庁
The toner for electrostatic image development contains a binder resin and a colorant, wherein group IA elements (excluding hydrogen) exist in a range of 0.03-1.0 atom% and group IIA elements, group IIIB elements and group IVB elements (excluding carbon) exist in a range of 0.05-2.0 atom% in total, as measured by XPS (X-ray photoelectron spectroscopic analysis).例文帳に追加
結着樹脂と着色剤とを含む静電荷像現像用トナーであって、XPS(X線光電子分光分析)による第IA族元素(水素除く)の存在割合が0.03〜1.0atom%の範囲であり、かつ、第IIA族元素、第IIIB族元素及び第IVB族元素(炭素除く)の存在割合の合計が0.05〜2.0atom%の範囲である静電荷像現像用トナーである。 - 特許庁
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