test strobeとは 意味・読み方・使い方

To provide a semiconductor test device capable of reducing the number of strobe signals between a TG (Timing Generator) and a DC(Digital Comparator) by integrating and supplying an edge strobe signal and a multiwindow strobe signal of the TG.例文帳に追加

ＴＧ側においてエッジストローブ信号とマルチウィンドウストローブ信号とを１本に統合して供給することでＴＧとＤＣ間におけるストローブ信号の本数を低減可能とする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The delay circuits DC0, DC1 generate delay data strobe signals IDQS0, IDQS1 each delayed by delay times DT0, DT1 from a data strobe signal TDQS for test.例文帳に追加

遅延回路ＤＣ０、ＤＣ１は、テスト用データストローブ信号ＴＤＱＳに対して遅延時間ＤＴ０、ＤＴ１遅れた遅延データストローブ信号ＩＤＱＳ０、ＩＤＱＳ１を生成する。 - 特許庁

A test mode recognition circuit section 13 detects a continuity test mode based on a column address strobe signal/CAS, a chip-select signal/CS, and a clock enable-signal CKE, and outputs a test mode detecting signal ϕ1.例文帳に追加

テストモード認識回路部１３はコラムアドレスストローブ信号/CAS，チップセレクト信号/CS及びクロックイネーブル信号CKEに基づいて導通試験のモードを検出しテストモード検出信号φ1を出力する。 - 特許庁

The data input circuit inputs, in parallel, a plurality of test writing data written in the memory based on the plurality of test output data and the strobe signal for test writing.例文帳に追加

前記データ入力回路は、前記複数のテスト出力データと前記テスト書き込み用ストローブ信号とに基づいて前記メモリに書き込まれた複数のテスト書き込みデータを並列に入力する。 - 特許庁

To provide an event type test system supplying a test signal to a tested device (DUT) for inspecting an output signal of the DUT at the timing of a strobe signal.例文帳に追加

被試験デバイス（ＤＵＴ）にテスト信号を供給してそのＤＵＴの出力信号をストローブ信号のタイミングで検証するためのイベント型テストシステムを提供する。 - 特許庁

An operation test section 120 tests the operation after setting the timing of generating the strobe signal in the detection range.例文帳に追加

動作テスト実行部１２０は、検出可能範囲内にストローブ信号の発生タイミングを設定した上で、動作テストを実行する。 - 特許庁

A data input/output signal DQ and the reference clock (a data strobe signal DQS) are output from the device under test 200.例文帳に追加

被試験デバイス２００からは、読み出されるデータ入出力信号ＤＱと共に基準クロック（データストローブ信号ＤＱＳ）が出力される。 - 特許庁

A test mode discriminating circuit 31 inputs an external command consisting of a chip-select signal/CS, a row address strobe signal/RAS, a column address strobe signal/CAS, a write-enable signal/WE, and the like, while inputs memory address signals A0-An.例文帳に追加

テストモード判定回路３１は、チップセレクト信号／ＣＳ、ロウアドレスストローブ信号／ＲＡＳ、コラムアドレスストローブ信号／ＣＡＳ及びライトイネーブル信号／ＷＥ等からなる外部コマンドを入力するとともに、メモリアドレス信号A0〜Anを入力する。 - 特許庁