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test point insertionとは 意味・読み方・使い方
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「test point insertion」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 14件
A method for designing a semiconductor integrated circuit is based on a TPI (Test Point Insertion) method.例文帳に追加
本発明によれば、TPI(Test Point Insertion)手法に基づく半導体集積回路の設計方法が提供される。 - 特許庁
REGISTER TRANSFER LEVEL (RTL) TEST POINT INSERTION METHOD TO REDUCE DELAY TEST VOLUME例文帳に追加
遅延試験量を減らすためのレジスタ転送レベル(RTL)試験点挿入方法 - 特許庁
Therefore, the arrangement state in the circuit block does not change before and after insertion of the test point, namely, the test point can be inserted without changing the arrangement state in the circuit block.例文帳に追加
したがって、テストポイントを挿入する前後において回路ブロック内の配置の状態が変わることがない。 - 特許庁
The logic circuit test apparatus 10 performs a test for the logic circuit into which the test point is inserted by the insertion section 130.例文帳に追加
論理回路試験装置10は、挿入部130によってテストポイントの挿入された論理回路に対してテストの実行を行う。 - 特許庁
A node to be inserted is determined by comparing the failure detection rates in a test efficiency comparing step S111, and selecting the one with higher test efficiency of the test point for observation and the test point for control in a test point insertion node determining step S112.例文帳に追加
続いて、テスト効率比較ステップS111にて両者を比較し、テストポイント挿入ノード決定ステップS112において観測用テストポイント及び制御用テストポイントのうち、テスト効率がより高い方を選択し、挿入されるノードを決定する。 - 特許庁
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「test point insertion」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 14件
The logic circuit test apparatus 10 also includes an insertion section 130 inserting the test point based on the failure estimation degree.例文帳に追加
また、論理回路試験装置10は故障推定度に基づいてテストポイントを挿入する挿入部130を備える。 - 特許庁
According to the present invention, a design method for semiconductor integrated circuit based on TPI (test point insertion) technique is provided.例文帳に追加
本発明によれば、TPI手法に基づく半導体集積回路の設計方法が提供される。 - 特許庁
To suppress the influence caused by the change of arrangement in a circuit block resulted from insertion of a test point.例文帳に追加
テストポイントの挿入に伴い回路ブロック内の配置の状態が変わることによって生じる影響を抑制する。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit device with test point inserted thereto capable of improving the test easiness to the full and minimizing the deterioration of performance by insertion of a test point and an additional overhead such as increase in required area or the like.例文帳に追加
テスト容易度を最大限に改善し、かつテストポイントの挿入による性能の低下及び所要面積の増加等の付加的なオーバヘッドを最小化できるテストポイントを挿入した半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁
A test point insertion method includes: extracting a plurality of logic cones from a net list; generating an order for the plurality of logic cones based on a connection relation of logic cells in each of the plurality of logic cones; and setting a test point in each of the plurality of logic cones in turn in accordance with the order.例文帳に追加
テストポイント挿入方法は、ネットリストから複数のロジックコーンを抽出する工程と、複数のロジックコーンの各々に示される論理セルの接続関係に基づいて、複数のロジックコーンに対して一の順序を生成する工程と、その順序に従って順に複数のロジックコーンの各々にテストポイントを設定する工程とを備える。 - 特許庁
To provide a circuit design program for executing circuit design processing based on a test point insertion method capable of enhancing the probability for narrowing the number of trouble candidates in trouble diagnosis, to an assigned number, by a computer.例文帳に追加
故障診断における故障候補数を指定された数まで絞り込める確率を高くすることができるテストポイント挿入法に基づく回路設計処理をコンピュータに実行させる回路設計プログラムを提供する。 - 特許庁
To provide a logic synthesizer and a logic synthesis method which can easily perform determination whether insertion of a test point is proper or not, and can attempt to shorten design period by making the number of times of logic synthesis into one time.例文帳に追加
テストポイントの挿入が適切であるかどうかの判断を容易に行い得、且つ、論理合成の回数を一回として設計期間の短縮化を図り得る論理合成装置及び論理合成方法を提供することにある。 - 特許庁
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