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日英・英日専門用語辞書での「test pin」の意味

test pin


「test pin」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 249



例文

PROBE PIN AND TEST HEAD EQUIPPED THEREWITH例文帳に追加

プローブピン、および、それを備えるテストヘッド - 特許庁

PIN AND GROOVE FORMING METHOD FOR TEST SOCKET例文帳に追加

テストソケットのピン及び溝形成方法 - 特許庁

PIN REGISTER CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS例文帳に追加

半導体試験装置のピンレジスタ回路 - 特許庁

CONDUCTION PIN PROTECTIVE STRUCTURE OF CONDUCTION TEST IMPLEMENT例文帳に追加

導通検査具の導通ピン保護構造 - 特許庁

The reference pin and each test pin are connected by a first switch and the electrical length between the reference pin and each test pin is measured by using the comparator in the test pin.例文帳に追加

第1のスイッチによって基準ピンと各テストピンを接続し、テストピン内のコンパレータを用いて基準ピンと各テストピン間の電気長を測定するようにした。 - 特許庁

POGO PIN AND CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT TEST EQUIPPED WITH THE POGO PIN例文帳に追加

ポゴピン及びそのポゴピンを備える半導体素子テスト用コンタクター - 特許庁

例文

To provide a semiconductor test equipment capable of controlling a test pin group individually by allocating the test pin group to a test controller online.例文帳に追加

テストコントローラへテストピングループをオンラインで割り付け、テストピングループを個別に制御することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

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Weblio専門用語対訳辞書での「test pin」の意味

test pin

Weblio専門用語対訳辞書はプログラムで機械的に意味や英語表現を生成しているため、不適切な項目が含まれていることもあります。ご了承くださいませ。

「test pin」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 249



例文

ORIGINAL FORM FOR CONTACT PIN FOR TEST AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE CONTACT PIN FOR TEST例文帳に追加

テスト用コンタクトピン原版及びその製造方法、並びにテスト用コンタクトピンの製造方法 - 特許庁

CONTACT PIN FOR ELECTRIC TEST AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電気テスト用コンタクトピンおよびその製造方法 - 特許庁

IC TEST METHOD AND CONTACT PIN FOR IC SOCKET例文帳に追加

ICのテスト方法及びICソケットのコンタクトピン - 特許庁

The conduction inspection jig for printed wiring board performs a continuity test between an inspection pin 50 which is in contact with a pin 122 for detection pin and a connection pin 32 connected to the inspection pin 50.例文帳に追加

検出ピン用ピン122に当接する検査ピン50と、該検査ピン50に接続する接続ピン32との間で導通を試験する。 - 特許庁

CONDUCTIVE CONTACT PIN AND TEST HEAD USING THE SAME例文帳に追加

導電接触ピンおよびこのピンを用いたテストヘッド - 特許庁

The pin assign converter 90 converts the logic pin number into the physical pin number of the test unit 22 before outputting.例文帳に追加

ピンアサインコンバータ90は、論理ピン番号を、試験ユニット22の物理ピン番号に変換して出力する。 - 特許庁

TEST SOCKET OF SEMICONDUCTOR ELEMENT, AND CONTACT PIN STRUCTURE THEREOF例文帳に追加

半導体素子試験用ソケットおよびそのコンタクトピン構造 - 特許庁

例文

TEST APPARATUS FOR CONNECTOR PIN POSITION AND CONNECTOR WITH BUILT-IN REFERENCE ELECTRODE例文帳に追加

コネクタピン位置検査装置及び基準電極内蔵コネクタ - 特許庁

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