test particle methodとは 意味・読み方・使い方

INSPECTING METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER TEST PIECE WHICH USES CHARGED PARTICLE BEAM AND EQUIPMENT例文帳に追加

荷電粒子ビームを用いた半導体ウェハ試料の検査方法および装置 - 特許庁

HIGH-ENERGY PARTICLE GENERATING DEVICE, NON-DESTRUCTIVE TEST DEVICE OF TUBE-SHAPED MEMBER, AND HIGH-ENERGY PARTICLE GENERATING METHOD例文帳に追加

高エネルギー粒子発生装置及び管状部材非破壊検査装置並びに高エネルギー粒子発生方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, COMPUTER PROGRAM USED FOR IT, AND TEST PIECE IMAGE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

荷電粒子線装置、それに用いられるコンピュータプログラム、及び試料像観察方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS AND TEST PIECE INFORMATION DETECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビームを用いた試料情報検出方法 - 特許庁

To provide a method of preparing a test sample for a triaxial test wherein the test sample can be properly saturated with water without changing the particle size and a difference in a saturation rate of the test sample is not caused by a particle size difference of the test sample.例文帳に追加

粒度を変化させることなく供試体を水で確実に飽和させることができると共に、供試体の粒度差により供試体の飽和速度に差が生じることがない三軸試験用供試体を作製する方法を提供する。 - 特許庁

IMMUNOCHROMATOGRAPHIC CONJUGATE PAD CONTAINING FLUORESCENT PARTICLE AND COLORED PARTICLE AS MARKER PARTICLE, AND IMMUNOCHROMATOGRAPHIC TEST STRIP AND INSPECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

標識粒子として、蛍光粒子と着色粒子とを含有するイムノクロマト法用コンジュゲートパッド、それを用いたイムノクロマト法用テストストリップおよび検査方法 - 特許庁

To provide a new method of a performance test for establishing the fine particle removing performance of a membrane and a nondestructive integrity test for preconfirming that the membrane after use is within setting in the fine particle removing performance, and to provide a test reagent to be applied to the test, and a method of manufacturing the reagent.例文帳に追加

膜の微粒子除去能を確定する性能試験および使用後の膜が微粒子除去性能においてあらかじめ設定内であることを確認す非破壊法の完全性試験の新しい方法と該試験に適用させる試験試薬と該試薬を製造する方法を提供する。 - 特許庁

This is an automatic focusing method of a scanning electron microscope 10 which acquires an image signal and forms a test piece image based on secondary charged particle beams from a test piece irradiated with charged particle beams.例文帳に追加

荷電粒子ビームが照射された試料からの２次荷粒子に基づいて画像信号を取得し試料像を形成する走査電子顕微鏡１０のオートフォーカス方法である。 - 特許庁