test data analysisとは 意味・読み方・使い方

The photoelectric signal is transmitted to a data processor in which a test or a result analysis is performed.例文帳に追加

光電信号は、データ処理装置へ送られて、試験や結果分析が行われる。 - 特許庁

CLINICAL TEST DATA ANALYSIS SUPPORT APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

臨床検査データ解析支援装置、臨床検査データ解析支援方法及びそのプログラム - 特許庁

To provide a device for generating dynamic stream for network analysis which transmits data stream in order to test and analyze a communication network, a communication system and traffic analysis.例文帳に追加

通信ネットワーク、通信システム、およびトラフィック解析を試験及び解析するためにデータストリームを送信すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can improve efficiency in online data analysis processing.例文帳に追加

オンラインデータ解析処理の効率を向上することが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A data memory and an analysis part are installed in a test auxiliary device arranged near a test circuit board, and two memory areas are constituted in the data memory, and, while digital test data are stored in one memory area, reading-out for analysis of the digital test data stored beforehand can be executed in the other memory area.例文帳に追加

テスト回路基板の近傍に配置されたテスト補助装置に、データメモリと解析部を設け、データメモリに２つのメモリ区域を構成して、一方のメモリ区域でデジタル試験データの記憶が行われるときに、他方のメモリ区域ですでに記憶されたデジタル試験データの解析のための読み出しを行うようにする。 - 特許庁

The ID of a product is used as a key, the process characteristic quantity data, a test data and a failure data are combined, and data for analysis that are generated by deleting invalid data in a data filter 10c is analyzed through data mining by an analysis part 10d to create a model.例文帳に追加

製品のＩＤをキーに、プロセス特徴量データと検査データ並びに故障データを結合し、データフィルター部１０ｃにて不正データを削除して生成した解析用データを、解析部１０ｄにてデータマイニングにより解析しモデルを作成する。 - 特許庁

To provide test equipment and test method for obtaining measured data that allow a sensor unit (1) to recognize error for calibration of analysis unit connected with the sensor unit by using sensor-related data allocation, for example, cable, stored data, that is, data allocation.例文帳に追加

例えば、ケーブルで、保存されたデータで、つまり、データ割当で、センサユニットと接続されている分析ユニットの較正のためにセンサユニット（１）にセンサ関連データ割当で、エラー認識を可能とすることである。 - 特許庁

Design data D101 including circuit data of a test point and information relevant to the test method attached to this test point is input, and design data having undergone code analysis by a design data code analysis section K102 in a data input section K101 is stored in a storage device 700 with a database storage section K103.例文帳に追加

テストポイントの回路データと、このテストポイントに付属するテスト手法に関連した情報を含む設計データＤ１０１を入力し、データ入力部Ｋ１０１における設計データコード解析部Ｋ１０２によるコード解析を経た設計データがデータベース格納部Ｋ１０３により記憶装置７００に格納される。 - 特許庁