short-circuit testとは 意味・読み方・使い方

To avoid the generation of an inter-wiring short circuit in the final test.例文帳に追加

ファイナルテストでの配線間ショートの発生を回避する。 - 特許庁

To provide a test method of a Schmitt circuit capable of performing a test of the Schmitt circuit, in a short time.例文帳に追加

シュミット回路の試験を、短時間で行うことが可能なシュミット回路の試験方法を提供する。 - 特許庁

To restrict the voltage distortion to be generated in a breaker in a short circuit test circuit for the breaker capable of supplying two or more kinds of short circuit test current.例文帳に追加

２種類以上の短絡試験電流を供給可能にする遮断器の短絡試験回路において、遮断器に発生する電圧歪みを抑制する。 - 特許庁

To provide a short-circuit tool for a test plug capable of easily and rapidly measuring a current, and to provide a short-circuit structure for the test plug.例文帳に追加

容易かつ迅速に電流測定を行うことができるテストプラグ用短絡具及びテストプラグの短絡構造を提供すること。 - 特許庁

To provide a D/A conversion circuit equipped with a test circuit which can easily test a function in a short time.例文帳に追加

短時間で簡単に機能を試験することができる試験回路を備えたＤ／Ａ変換回路を提供する。 - 特許庁

To provide a test plug configured so as not to be connected to a test terminal when the test plug is not short-circuited by a short-circuit tool.例文帳に追加

テストプラグが短絡用治具によって短絡されていない場合にはテスト端子に接続できないように構成されたテストプラグを提供すること。 - 特許庁

To provide a memory test circuit which can perform surely a high speed test of a whole user circuit including an on-chip-memory in a short time.例文帳に追加

オンチップメモリを含むユーザ回路全体の高速テストを短時間で確実に行うことができるメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit having short test time for self testing of function.例文帳に追加

自己機能テストのテスト時間が短い半導体集積回路を提供する。 - 特許庁