scattering standardとは 意味・読み方・使い方

In this case, the quantitative determination error due to the deviation of the ion irradiating content to the standard sample and the sample to be analyzed is corrected by using a ratio of the standard sample to the sample to be analyzed of a back scattering spectral yield at the time of irradiating with the ion to be detected by the detector (DA).例文帳に追加

この時の標準試料及び被分析試料へのイオン照射量のずれによる定量誤差を、検出器(DA)によって検出されるイオン照射時の後方散乱スペクトル収量の標準試料と被分析試料との比を用いて補正する。 - 特許庁

To provide a farm implement which can control the scattering cylinder of a scatter to a suitable posture at a standard height position without disposing a connection means for changing the position between the implement-attaching portion of a travel vehicle and the machine frame.例文帳に追加

姿勢変更用の連結手段を走行車の作業機取付部および機体の連結部間に介装することなく、散布体の散布筒部を基準高さ位置で適正姿勢にできる農作業機を提供する。 - 特許庁

A means for computing standard deviation for indicating the degree of scattering of the Doppler frequency, and a means of changing a transmission voltage to an ultrasonic vibrator for generating ultrasonic pulses made to incident on the fluid from the determined standard deviation are added to a conventional Doppler-type flowmeter.例文帳に追加

従来のドップラ式流量計に、ドップラ周波数のバラツキ度合いを示す標準偏差を演算する手段と、求められた標準偏差に基づいて流体に入射させる超音波パルスを生成する超音波振動子への送信電圧を変更する手段とを加えるように備えるように構成した。 - 特許庁

The core-shell fine particle has an average particle size of 100-950 nm with a CV value of at most 20% as a percentage of the standard deviation of the average particle size to the average particle size as measured by the dynamic light scattering method.例文帳に追加

このコア−シェル微粒子は、動的光散乱法により測定される平均粒子径が１００〜９５０ｎｍであり、かつ平均粒子径に対する粒子径標準偏差の百分率を表すＣＶ値が２０％以下である。 - 特許庁

To realize a calibration method of an orthogonal scattering turbidity meter capable of reducing the amount of a standard liquid used in calibration and capable of shortening the time required in calibration operation; and also to realize a calibration container used therein.例文帳に追加

校正に使用する標準液の量を少なくすることができるとともに、校正動作にかかる時間を短縮することのできる直角散乱型濁度計の校正方法およびこれに使用する校正容器を実現する。 - 特許庁

A trace of laser (group) on a standard sample which is a semiconductor substrate formed the trace of laser (group) thereon is detected optically as a pseudo defect on a scattering light image, and the detected pseudo defect is used as an evaluation reference to perform the evaluation.例文帳に追加

表面にレーザー痕（群）が形成された半導体基板である標準試料上の該レーザー痕（群）を散乱光画像において擬似欠陥として光学的に検出し、検出された擬似欠陥を評価基準として、前記評価を行う。 - 特許庁

To provide a method for calibrating a foreign matter inspection device capable of clearly separating the peak of the scattering intensity of a histogram obtained from the inspection result, due to the foreign matter inspection device in the calibration of the foreign matter inspection device using standard particles.例文帳に追加

標準粒子を用いた異物検査装置の校正において、前記異物検査装置による検査結果で得られるヒストグラムの散乱強度のピークの分離が、明確にできる異物検査装置の校正方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The gallium oxide powder having a (D90-D10)/D50 value of 1.00-1.50 is provided in D10, D50 and D90 by volume standard particle size distribution obtained by measuring by a laser diffraction scattering-type particle-size distribution measuring method.例文帳に追加

レーザー回折散乱式粒度分布測定法により測定して得られる体積基準粒度分布によるＤ１０、Ｄ５０及びＤ９０において、（Ｄ９０−Ｄ１０）／Ｄ５０の値が１．００〜１．５０であることを特徴とする酸化ガリウム粉末を提案する。 - 特許庁