scattered light methodとは 意味・読み方・使い方

COMPARISON METHOD OF LIGHT INTENSITY DISTRIBUTION DATA OF DIFFRACTED/SCATTERED LIGHT, AND PARTICLE SIZE DISTRIBUTION MEASURING DEVICE例文帳に追加

回折・散乱光の光強度分布データの比較方法、および粒度分布測定装置 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR PERFORMING OPTICAL NAVIGATION USING SCATTERED LIGHT例文帳に追加

散乱光を使用して光ナビゲーションを実行するためのシステムおよび方法 - 特許庁

The method includes also a step for collecting the scattered light from the edge, and a step for generating the signal in response to the scattered light.例文帳に追加

本方法はまた、エッジからの散乱光を集光する段階と、散乱光に応答して信号を生成する段階とを含む。 - 特許庁

The system/method includes also a detection subsystem constituted to collect scattered light from the edge, and to generate a signal in response to the scattered light.例文帳に追加

また、エッジからの散乱光を集光し、該散乱光に応答して信号を生成するように構成された検出サブシステムを含む。 - 特許庁

METHOD OF SENSING SCATTERED LIGHT, POLARIZATION MODULATOR, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

散乱光検出方法、偏光変調装置及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

In the laser Raman spectroscopic analysis method, the sample is irradiated with the laser beam, the scattered light emitted from the sample is filtered to the Raman scattered light, the Raman scattered light is spectrally diffracted, the spectrally diffracted Raman scattered light is detected at every wavelength, its intensity is measured, the intensity of the total scattered light emitted from the sample is measured, and a component substance contained in the sample is analyzed quatitatively.例文帳に追加

また、レーザ光を試料に照射し、試料から発する散乱光からラマン散乱光に濾過し、このラマン散乱光を分光し、分光したラマン散乱光を波長毎に検出して、その強度を測定し、また、試料から発する全散乱光の強度を測定し、この全散乱光の強度と前記波長毎の強度を用いて、試料に含まれる成分物質の定量分析を行うレーザラマン分光分析法。 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING REFLECTIVE THIN-FILM TRANSISTOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY HAVING SCATTERED LIGHT SURFACE OF RECESSED AND PROJECTED STRUCTURE例文帳に追加

凹凸構造の散光面を有する反射式薄膜トランジスタ液晶表示装置の製造方法 - 特許庁

To provide a defect detection apparatus and a defect detection method for facilitating a setup of threshold values in a plurality of scattered light detectors, and properly obtaining detection data from the individual scattered light detector.例文帳に追加

複数の散乱光検出器のしきい値設定を容易化し、個々の散乱光検出器の検出データを適切に取得することができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁