reflecting microscopeとは 意味・読み方・使い方

At this time, the presence or absence of etching erosion of the metal thin film 25 can be inspected by using a passing light and a reflecting light by a microscope.例文帳に追加

このとき、金属薄膜２５のエッチング浸食の有無を顕微鏡によって、透過光及び反射光を用いて行うことができる。 - 特許庁

To provide a reflecting X-ray microscope using an image-forming optical system provided with a convex mirror and a concave mirror and capable of observing an image of a sample placed approximately perpendicular to an optical axis yet in a reflecting position.例文帳に追加

凸面鏡と凹面鏡を具備した結像光学系を用いて、試料を光軸にほぼ垂直に配置して、なおかつ反射型の配置で像を観察することのできる反射型Ｘ線顕微鏡を得る。 - 特許庁

To provide a confocal microscope which facilitates installation of a beam splitter and a reflecting mirror and makes it possible to obtain a sharp image of a sample.例文帳に追加

ビームスプリッタと反射ミラーの設置を容易に行い、試料の鮮明な画像を得ることが可能な共焦点顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a condenser lens and AF microscope that enables an AF unit to be used, even when there is no reflecting surface to reflect the AF light near the sample surface.例文帳に追加

ＡＦ光を反射する反射面が標本面近傍に無い場合でもＡＦ装置を利用可能にするコンデンサレンズと、ＡＦ顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

To obtain a scanning probe microscope capable of preventing the lowering of detection precision based on the relative positional relation of a laser beam source and the reflecting part of a cantilever, and to provide the cantilever.例文帳に追加

レーザ光源とカンチレバーにおける反射部の相対的な位置関係に基づく検出精度の低下を防止できる走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバーを得る。 - 特許庁

To provide a three-dimensional image building method capable of obtaining a three-dimensional image with better image quality than that of a conventional one and reflecting precisely a test piece structure, and a transmission electron microscope.例文帳に追加

従来よりも像質が良く、試料構造を正確に反映した３次元像を得ることができる３次元像構築方法および透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To enable an electron microscope equipped with a plurality of secondary electron or reflecting electron detectors to carry out control of contrast/brightness of the plurality of detectors in one control operation.例文帳に追加

複数の二次電子若しくは反射電子検出器を持つ電子顕微鏡において、複数の検出器のコントラスト／明るさの制御をひとつの制御操作で行えるようにする。 - 特許庁

When the position of the assistant's microscope 7 is changed, the reflecting member 50 is rotated around an axis A orthogonal to the optical axis O by action of gears 60 and 61 and a driving shaft 62.例文帳に追加

助手用顕微鏡７の位置が変更されると、ギア６０、６１及び駆動軸６２の動作により、光軸Ｏに直交する軸Ａを中心に反射部材５０が回転される。 - 特許庁