reflectance measurement deviceとは 意味・読み方・使い方

To provide a reflectance measuring device and a reflectance measuring method having high measurement accuracy of a reflectance of an inspection surface of an optical element.例文帳に追加

光学素子の被検面の反射率の測定精度が高い反射率測定装置および反射率測定方法を提供する。 - 特許庁

A measurement device may be a reflectance spectroscope or a fluorophotometer.例文帳に追加

測定デバイスは反射率分光器または蛍光光度計のいずれでもよい。 - 特許庁

A controller calculates the temperature of the surface of the annealing object, on the basis of the result of the reflectance measurement by the reflectance measuring device, and the result of measurement for the intensity of the synchrotron radiation by the synchrotron radiation detector.例文帳に追加

制御装置が、反射率測定器による反射率の測定結果、及び放射光検出器による放射光の強度の測定結果に基づいて、アニール対象物の表面の温度を算出する。 - 特許庁

To promote shortening of the measurement time and simplification of the device structure of an interference film thickness gauge 100 by enabling omission of an incidental measurement (especially measurement of a calibration sample), which has been conventionally required every time when a light reflectance of an inspection work is measured.例文帳に追加

干渉膜厚計１００において、検査ワークの光反射率測定時に都度必要であった付随計測（特に校正サンプルの計測）を省略可能にして、測定時間の短縮や装置構成の簡単化を促進する。 - 特許庁

A processor assembly 704 includes at least one processor configured to receive a spectral reflectance value corresponding to each measurement patch of at least one measurement patch included in an output image output by a printer device.例文帳に追加

プロセッサアセンブリ７０４は、印刷装置によって出力される出力画像に含まれる、少なくとも１つの測定パッチのそれぞれの測定パッチに対応する分光反射率値を受け取る、少なくとも１つのプロセッサを含む。 - 特許庁

The photometric device comprises an integrating sphere having a highly diffusive inner wall with high optical reflectance of a split constitution of an element holding part 1 and a measurement main body 2, wherein a light receiving element disposed in the measurement main body 2 receives a radiation from a light emitting element disposed in the element holding part 1.例文帳に追加

光反射率が高く高拡散性の内壁を有する積分球を、素子保持部１と計測本体部２の分割構成とし、素子保持部１に配置された発光素子からの放射光を、計測本体部２に配置した受光素子で受ける測光装置である。 - 特許庁

In the image generation device 10a, a reflection characteristic measurement part 11a acquires spectrum signals of reflected light from a subject from an imaging device 20a, and outputs multiband data based on the spectrum signals and imaging angles, and a spectral reflectance estimation matrix.例文帳に追加

画像生成装置１０ａにおいて、反射特性計測部１１ａは、撮影装置２０ａから被写体の反射光のスペクトル信号を得て、スペクトル信号と撮影時の角度に基づくマルチバンドデータと、分光反射率推定行列とを出力する。 - 特許庁