primary focal pointとは 意味・読み方・使い方

Arranging the radiation ends of the primary radiator at a position close to the focal point of the lens in this way can suppress the spill over loss in the primary radiator.例文帳に追加

このように、一次放射器の放射端をほぼレンズの焦点位置に配置することで、一次放射器におけるスピルオーバ損失を抑制することができる。 - 特許庁

The reflective surface has a symmetrical shape rotating a part of an oval about a center axis where a position of the light-emitting element 2 being a primary focal point while a point f1 being a secondary focal point is rotated around the center axis of the reflective LED 1.例文帳に追加

反射面の形状は、発光素子２の位置を第１の焦点とし点ｆ１を第２の焦点とする楕円の一部を反射型ＬＥＤ１の中心軸周りに回転させた中心軸対称形状である。 - 特許庁

Radiation ends of the primary radiator 14 are positioned at a position close to a focal point in each of a plurality of radiation directions from a lens 12.例文帳に追加

レンズ１２からの複数の放射方向の各々についての略焦点位置に、一次放射器１４の放射端が位置合わせされる。 - 特許庁

an agency that is the primary source in the State Department for interpretive analyses of global developments and focal point for policy issues and activities of the Intelligence Community発音を聞く 例文帳に追加

世界規模の発展、政策問題の焦点やインテリジェンス・コミュニティーの活動の解釈的分析のための国務省の一次資料である政府機関 - 日本語WordNet

The parabolic antenna used for microwave communication is characterized in that a primary radiation section 1 is disposed near the focal point of a main reflector 3, radio waves transmitted/received by the primary radiation section 1 are propagated and fed via a waveguide 2, and the primary radiation section 1 is supported by the waveguide 2.例文帳に追加

マイクロ波通信に用いられるパラボラアンテナにおいて、一次放射部１が主反射鏡３の焦点近傍に配置され、一次放射部１によって送受信された電波は、導波管２を介して伝播し給電され、一次放射部１は導波管２によって支持されていることを特徴とする。 - 特許庁

The video projection device is constituted in such a manner that white light from a lamp 12 is reflected by an elliptical reflection mirror 11 and separated to the light of primary colors, red, green and blue by a color filter 13 in a time-division manner to be condensed at the 2nd focal point of the mirror 11.例文帳に追加

ランプ１２の白色光が楕円反射鏡１１で反射され、カラーフィルタ１３で赤，緑，青の原色光に時分割的に分離されて楕円反射鏡１１の第２焦点に集光される。 - 特許庁

A main control system 34 previously forms the voltage map indicating the quantity of the focal point displacement of the secondary electron beam B2 in a detecting surface of an electron beam detecting unit 30 in response to the quantity of the charge up generated when a sample 4 is irradiated with the primary electron beam B1, and stores this voltage map in a memory device 43.例文帳に追加

主制御系３４は、試料４上に一次電子ビームＢ１を照射した際に生ずるチャージアップ量に応じ、電子ビーム検出器３０の検出面における二次電子ビームＢ２の焦点ずれ量を示す電圧マップを予め作成し記憶装置４３に記憶する。 - 特許庁