potential defectとは 意味・読み方・使い方

The potential difference measuring terminal 112 for the defect in the circumferential direction and the potential difference measuring terminal 114 for the defect in the axial direction are installed so that each direction of the two terminals forms 90° mutually.例文帳に追加

周方向欠陥用電位差測定端子１１２と軸方向欠陥用電位差測定端子１１４は、２本の端子の向きが互いに９０°となるように設置されている。 - 特許庁

In Fig. (a), a potential difference measuring terminal 112 for a defect in the circumferential direction is installed on a terminal holder 122, and a potential difference measuring terminal 114 for a defect in the axial direction is installed on a terminal holder 124.例文帳に追加

（ａ）端子ホルダ１２２に周方向欠陥用電位差測定端子１１２を設置しており，端子ホルダ１２４に軸方向欠陥用電位差測定端子１１４を設置している。 - 特許庁

To prevent film deposition defect due to plating by controlling the surface potential of a seed film.例文帳に追加

シード膜の表面電位を高精度に制御してメッキ処理による成膜不良を防止する。 - 特許庁

To provide a method of selecting a suitable process liquid that allows suppression of occurrence of a potential mask blank defect that results in a micro-black defect in a mask.例文帳に追加

マスクの微小黒欠陥の発生要因となる潜在化したマスクブランク欠陥の発生を抑制できる、最適な処理液を選定する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of selecting a process liquid suitable for suppressing occurrence of a potential defect in a mask blank that results in a micro-black defect in a mask.例文帳に追加

マスクの微小黒欠陥の発生要因となるマスクブランクの潜在化した欠陥の発生を抑制する最適な処理液を選定する方法を提供する。 - 特許庁

If any defect occurs in the driver 31, the detector 43 can not detect the potential vs.例文帳に追加

もし、ドライバ３１に何等かの不良があると検知器４３は電位ｖs を検出することができない。 - 特許庁

Then, by comparing the composited potential contrast image with a reference image, the defect is extracted.例文帳に追加

そして、前記合成された電位コントラスト画像を参照画像と比較することによって欠陥を抽出する。 - 特許庁

To provide a test method of semiconductor device which reflects possibility of having potential defect in test result of a bit line pair which can be a defect, and the semiconductor device.例文帳に追加

不良となり得るビット線対のテスト結果に、潜在的な不良を有する可能性を反映する半導体装置のテスト方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁