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photoresist filmsとは 意味・読み方・使い方
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「photoresist films」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 50件
In such a case, the photoresist films are formed five times.例文帳に追加
この場合、フォトレジスト膜を5回形成する。 - 特許庁
In the metal processing method, photoresist liquid is applied on both sides of a metal plate 210 to form photoresist films 220 and 230 (step S102), then the photoresist films 220 and 230 are exposed and developed so that the photoresist films 220 and 230 are removed while leaving the photoresist films 220 and 230 of the portions where holes are opened (step S103).例文帳に追加
金属板210の両面にフォトレジスト液を塗布し、フォトレジスト膜220及び230を形成し(ステップS102)、引き続き、フォトレジスト膜220及び230の露光と現像を行い、孔を開ける部分のフォトレジスト膜220及び230を残すように、他のフォトレジスト膜220及び230を除去する(ステップS103)。 - 特許庁
Subsequently, the photoresist films 220 and 230, and at the same time, the metal thin films 245 and 255 which are formed on top of the photoresist films 220 and 230 are removed (step S105).例文帳に追加
引き続き、フォトレジスト膜220及び230を除去すると同時に、フォトレジスト膜220及び230の上に形成された金属薄膜245及び255を除去する(ステップS105)。 - 特許庁
METHOD FOR PLASMA HARDENING PHOTORESIST IN ETCHING OF SEMICONDUCTOR AND SUPERCONDUCTOR FILMS例文帳に追加
半導体および超伝導体フィルムのエッチングにおけるフォトレジストをプラズマ硬化する方法 - 特許庁
Thereafter, the contact holes are formed inside the grooves 7 by using the photoresist films 8 as masks.例文帳に追加
この後、ホトレジスト膜8をマスクに用いて配線溝7の内部にコンタクトホールを形成する。 - 特許庁
Insulation films 28, 29 and 30 and a photoresist pattern are formed on an insulation film 27.例文帳に追加
絶縁膜27上に絶縁膜28、29および30とフォトレジストパターンを形成する。 - 特許庁
To recover and recycle a cleaning solvent and photoresist when the unnecessary photoresist generated when the surfaces of substrates are coated with photoresist films for forming patterns on a substrate is cleaned by the cleaning solvent.例文帳に追加
基板上にパターン形成のためにフォトレジスト膜を塗布したときに発生する不要なフォトレジストを洗浄溶剤で洗浄したとき、洗浄溶剤およびフォトレジストを回収して再利用する。 - 特許庁
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「photoresist films」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 50件
Then, metal thin films 240 and 250 are formed on both surfaces of the metal plate 210 where the photoresist films 220 and 230 are applied (step S104).例文帳に追加
次に、フォトレジスト膜220及び230が形成された金属板210の両面に、金属薄膜240及び250を形成する(ステップS104)。 - 特許庁
The method of manufacturing the mask for vapor deposition is carried out by forming photoresist films 12a, 12b through reflection preventing films 30A, 30B on both side surfaces of a metal thin film 10 and exposing them to form a pattern of the passage hole 10A-1 on the photoresist films 12a, 12b.例文帳に追加
蒸着用マスク1の製造方法では、金属薄膜10の両面に、反射防止膜30A,30Bを介してフォトレジスト膜12a,12bを形成したのち露光することにより、フォトレジスト膜12a,12bに通過孔10A−1のパターンを形成する。 - 特許庁
A lowermost positive photoresist layer 38 is formed on a base metal layer 36 of a supporting substrate 34 and then photoresist layers 38 are successively laminated with light shielding films 40 interposed.例文帳に追加
支持基板34のベースメタル層36上に、最下層のポジ型フォトレジスト層38を設け、遮光膜40を介して順次フォトレジスト層38を積層してゆく。 - 特許庁
A photoresist 15A is patterned along dicing streets 12 of a wafer 11, and resin encapsulating films 17 surrounded by photoresist 15A are formed by printing.例文帳に追加
ウェーハ11のダイシングストリート12の上に沿ってフォトレジスト15Aをパターニングし、フォトレジスト15Aで囲まれたチップ領域に樹脂封止膜17を印刷により形成する。 - 特許庁
Then, the patterned photoresist 16 is used as a mask, and the first and second metal films 12A, 15 are dry-etched.例文帳に追加
そして、このパターニングされたフォトレジスト16をマスクとして用いて、第2金属膜15、第1金属膜12Aをドライエッチングする。 - 特許庁
The insulation films 34, 35 and 36 are selectively removed, by using the photoresist pattern as an etching mask and an opening part 38 is formed.例文帳に追加
フォトレジストパターンをエッチングマスクとして絶縁膜34、35および36を選択的に除去し、開口部38を形成する。 - 特許庁
LOCOS oxide polisilicon films 9, 11 and 21 are formed on silicon wafer 1 using a side rinsed photoresist, N type impurities are diffused using a side rinsed photoresist 33 and then P type impurities are diffused using a side rinsed photoresist 34.例文帳に追加
シリコンウェハ1に対しサイドリンスしたフォトレジストを用いたLOCOS酸化、ポリシリコン膜9,11,21の形成、サイドリンスしたフォトレジスト33を用いたN型の不純物拡散、サイドリンスしたフォトレジスト34を用いたP型の不純物拡散を行う。 - 特許庁
The method for manufacturing the optical waveguide device further includes steps of applying a photoresist to the Si film, patterning the photoresist so that a portion of the photoresist corresponding to the optical waveguide remains, forming a groove on the substrate along the optical waveguide by reactive ion etching, and removing the photoresist and the Si films.例文帳に追加
光導波路デバイスの製造方法は更に、Si膜上にフォトレジストを塗布し、光導波路に対応する部分のフォトレジストが残るようにフォトレジストをパターニングし、反応性イオンエッチングにより、光導通路に沿って基板に溝を形成し、フォトレジスト及びSi膜を剥離するステップを含んでいる。 - 特許庁
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