parallel run testとは 意味・読み方・使い方

The inspection method of the semiconductor integrated circuit includes: a stress test of applying a stress voltage to dummy wiring LD provided so as to run in parallel with signal wiring L3 and L4 inside the semiconductor integrated circuit; and a test process of determining the quality of the semiconductor integrated circuit by measuring a leakage current between the signal wiring L3 and L4 and the dummy wiring LD.例文帳に追加

本発明の半導体集積回路の検査方法では、半導体集積回路内の信号配線Ｌ３・Ｌ４に並走するように設けられたダミー配線ＬＤにストレス電圧を印加するストレス試験と、信号配線Ｌ３・Ｌ４とダミー配線ＬＤとの間のリーク電流を測定することにより半導体集積回路の良否を判定するテスト工程とを含む。 - 特許庁