optimal testingとは 意味・読み方・使い方

After recording the test data in each of the sectors, a value for a filter factor of an FIR filter arranged in a data reproduction system is changed from the optimal value, frequency gain is reduced, the testing data is reproduced, and the sector in which the reproduction failure occurs is registered as the defect.例文帳に追加

各セクタに試験データを記録したあと、データ再生系に設けたＦＩＲフィルタのフィルタ係数の値を最適な値から変更して周波数利得を低下させて試験データを再生し、再生エラーが発生したセクタを欠陥登録する。 - 特許庁

To provide an apparatus for determining an optimal operating condition in order that focused operation related values can satisfy predetermined conditions while focusing on the operation related values such as Power saving and Low noise in an electro-dynamic vibration testing apparatus, and considering the operation limit of a vibration generator.例文帳に追加

動電式振動試験装置における省電力、静音などの運転関連値に注目し、振動発生機の動作限界を考慮しつつ、注目した運転関連値が所定の条件を満足するために最適な運転条件を決定する装置を提供する。 - 特許庁

A method, system, and computer program product related to the maintenance of optimal control of diabetes, and is directed to predicting patterns of hypoglycemia, hyperglycemia, increased glucose variability, and insufficient or excessive testing for the upcoming period of time, based on blood glucose readings collected by a self-monitoring blood glucose device.例文帳に追加

最適な糖尿病の管理を維持する方法、システム、コンピュータプログラム製品であって、血中グルコース自己監視装置によって収集された血中グルコース測定値に基づいて、次の期間における、低血糖、高血糖、グルコース変動の増大、不十分または過剰な検査を予測する。 - 特許庁

Also, the conference room reservation engine testing framework is provided with a Koumoku Factory class 16 for selecting an optimal concrete class corresponding to the contents of the test item from among concrete classes constituted by succeeding the classes 17, 18, and 19 defined as abstract classes, based on a test item definition file 20.例文帳に追加

また、会議室予約エンジン試験フレームワークは、抽象クラスとして定義されたクラス１７，１８，１９をそれぞれ継承してなる具象クラスの中から、試験項目定義ファイル２０に基づいて、試験項目の内容に対応した最適な具象クラスを選択するKoumokuFactoryクラス１６を備えている。 - 特許庁

To obtain a device and method for testing ICs capable of executing IC tests in an optimal test sequence so as to shorten the execution time of all IC test items in the case of performing a plurality of IC tests and a storage medium in which a program for executing the IC tests is stored.例文帳に追加

本発明の課題は、複数のＩＣ試験を行う場合に、全ＩＣ試験項目の実行時間が短くなるように最適な試験順序にてＩＣ試験を実行することのできるＩＣ試験装置、ＩＣ試験方法、及びそのＩＣ試験を実行するためのプログラムを記憶した記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

When testing the chip, the performance measuring circuit so measures such performances of the circuit function module as its operational speed and consuming power as to store the performance data in the corresponding storage-table circuit, and the storage-table circuit so measures the data amount fed to the circuit function module as to select its optimal clock frequency, power-supply voltage, and board bias.例文帳に追加

チップテスト時に、性能測定回路が回路機能モジュールの動作速度、消費電力などの性能を測定し該当する記憶テーブル回路に性能データを記憶させ、記憶テーブル回路は該当する回路機能モジュールに供給されるデータ量を計測して最適なクロック周波数、電源電圧、基板バイアスを選択する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 100 measures a matching time for each block and for each of a plurality of DUTs 90 that output test signals and calculates an optimal maximum match time for matching is obtained in a predetermined amount of blocks for each of the DUTs 90 in a predetermined number-th function test out of a plurality of number of times of tests.例文帳に追加

半導体試験装置１００では、複数回実行されるうちの所定回目のファンクションテストにおいて、試験信号を出力した複数の各ＤＵＴ９０毎、各ブロック毎のマッチ時間を計測し、所定量のブロックでマッチがとれるまでの最適マッチタイムアウト時間を各ＤＵＴ９０毎に算出する処理を行う。 - 特許庁