optical sectioningとは 意味・読み方・使い方

Between the photodetector array 2 and the optical lens array, the light shielding block 1 for performing sectioning so that light emitted from a plurality of optical lenses of the optical lens array do not interfere with each other is arranged.例文帳に追加

受光素子アレイ２と光学レンズアレイとの間に、光学レンズアレイの複数の光学レンズから出射する光が互いに干渉しないように区画する遮光ブロック１が配置される。 - 特許庁

The identification information region in the optical disk has a flat portion (mirror region) formed by sectioning a part of a groove or a land in a given step.例文帳に追加

この光ディスクにおける識別情報領域は、グルーブ又はランドの一部が所定の段差により区切られて形成された平坦部（ミラー領域）を有する。 - 特許庁

This slot rod 1 for an optical cable has many slots 5 where optical fibers are stored and also has the colored stripes 7a and 7b for slot discrimination added on the outer peripheral surface of the ribs sectioning the slots 5; and two kinds of colored stripes 7a and 7b which are different in stripe width are formed.例文帳に追加

光ファイバを収納する多数のスロット５を有し、スロット５を区画するリブ６の外周面にスロット識別用の着色線条７ａ，７ｂが付された光ケーブル用スロットロッド１であって、着色線条７ａ，７ｂを線条幅の異なる２種類のもので形成する。 - 特許庁

Sectioning the area of the objective lens optical system is applied to a compatible technique for the same wavelengths, and generating an aberration for canceling a chromatic aberration caused by a difference in wavelength λ of the light beam is applied to a compatible technique for different wavelengths.例文帳に追加

ここで、同一波長の互換技術に対物レンズ光学系の領域分けを用い、異なる波長の互換技術に光ビームの波長λの違いによって発生する色収差等を相殺するような収差を発生させる技術を用いた。 - 特許庁

To provide an optical device and a microscope whose resolution is excellent and whose sectioning effect is excellent, by which time required until obtaining an output image is shortened and the inside of an object to intensively scatter light is observed without adding a fluorescent pigment and is observed by excellent resolution without being affected by vibration or the like and also the lamination structure of an IC pattern formed on a semiconductor wafer is observed.例文帳に追加

高解像でセクショニング効果が高く、出力画像を得るまでの時間を短縮化でき、光を強く散乱する物体の内部を、蛍光色素を付加することなく観察可能で、振動等に強く高解像で観察可能であり、更に、半導体ウエハー上に形成されたＩＣパターンの積層構造をも観察可能な光学装置及び顕微鏡を提供する。 - 特許庁