measurement by X‐ray systemの英語

By opening a sample chamber shutter 52, the wafers inside the cassettes 43a, 43b are carried to the X-ray measurement system 4 inside the cover 2.例文帳に追加

試料室シャッタ５２を開けることによりカセット４３ａ，４３ｂ内のウエハをカバー２の内部のＸ線測定系４へ搬送できる。 - 特許庁

To provide an X-ray measurement system capable of executing aging of an X-ray tube by automatically selecting an optimum aging condition in accordance with a non-use time from among a plurality of aging conditions.例文帳に追加

複数のエージング条件の内から、不使用時間に応じて、自動的に最適なエージング条件を選択して、Ｘ線管球のエージング実行することが可能なＸ線測定システムを提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus including a security system applicable to biometric analysis based on protein characteristic measurement by an X-ray fluorescence (XRF) spectrometer.例文帳に追加

Ｘ線蛍光（ＸＲＦ）分光計により、タンパク質の特徴を測定し、生体認証解析に利用できるセキュリティシステムを含む装置を提供する。 - 特許庁

To obtain an X-ray measurement system which can irradiate a specimen by generating white X-rays of high power doses at a high X-ray tube voltage, using mass-produced low-cost X-ray tubes and extracting soft X-rays of a low energy range at a high dose from white X-rays by using a low-pass filter means.例文帳に追加

量産品で安価なＸ線管を用いて、高いＸ線管電圧にて高出力線量の白色Ｘ線を発生させると共に、白色Ｘ線からローパスフィルタ手段により低エネルギー域の軟Ｘ線を高線量で抽出して試料に照射可能なＸ線測定装置を実現する。 - 特許庁

To enable the measurement of a sample over a range from the minute region of the sample to the wide region thereof by one X-ray optical system in a case performing measurement, by adjusting the X-ray irradiation field to the sample by using a collimator or the like, and to obtain data of high dissolving power in relation to the whole range from the minute region to the wide region.例文帳に追加

コリメータ等を用いて試料に対するＸ線照射野を調整して測定を行う場合に、試料の微小領域から広い領域にわたって１つのＸ線光学系によって測定を行うことを可能にし、しかも微小領域から広い領域にわたる全ての範囲に関して分解能の高いデータを得られるようにする。 - 特許庁

To provide a radiation spectrum measuring system capable of reducing the influence of a tail distribution in a pulse height distribution formed by an excitation X-ray, and lowering the measurement lower limit of an element to be measured.例文帳に追加

励起用のＸ線が作る波高分布のテール分布の影響を低減し、測定したい元素の測定下限を低くできる放射線スペクトル計測システムを提供する。 - 特許庁

While the main measurement or interrupt measurement of the wafer is performed by the X-ray measurement system 4, the cassettes 43a, 43b are covered with covers 8a, 8b and the covers 8a, 8b are prevented by lock devices 42a, 42b from opening, so that the wafers in the cassettes 43a, 43b are prevented to be exchanged against a measurer's will.例文帳に追加

Ｘ線測定系４によってウエハの主測定又は割込み測定を行っている間、カバー８ａ，８ｂによってカセット４３ａ，４３ｂを覆い、ロック装置４２ａ，４２ｂでカバー８ａ，８ｂを開かないようにして、カセット４３ａ,４３ｂ内のウエハが測定者の意に反して交換されてしまうことを防止する。 - 特許庁