low temperature toleranceとは 意味・読み方・使い方

To provide a New Guinea impatiens plant which is hearty, retaining low-temperature tolerance and high-temperature tolerance, and having superior flowering behavior and flower sustainability.例文帳に追加

生育力が強く、低温耐性と高温耐性を保持し、優れた開花習性と開花持続性を有するニューギニアインパチェンスを提供する。 - 特許庁

To provide a plant improved in stress tolerance such as active oxygen stress tolerance, low-temperature stress tolerance or salt stress tolerance by a new technique and to provide a method for producing the plant.例文帳に追加

新たな手法により活性酸素ストレス耐性、低温ストレス耐性、塩ストレス耐性などのストレス耐性が向上した植物及びかかる植物の製造方法を提供する。 - 特許庁

To control an electrically operating component and an ambient temperature thereof, without using an expensive temperature sensor having low consumption tolerance.例文帳に追加

電気的に動作する構成素子およびこの構成素子の周囲の温度を、消耗耐性が低いコストの掛かる温度センサを使用せずに制御する。 - 特許庁

To provide a plant cultivable under a low temperature environment and having tolerance to cold stress (cold resistance) in a seedling stage and/or a boot stage.例文帳に追加

幼苗期および／または穂ばらみ期にプラス温度域の低温ストレスに対して耐性（耐冷性）を有する、冷温環境下でも栽培可能な植物の提供。 - 特許庁

To solve the problem that in a semiconductor device for electric power provided with a semiconductor element for electric power with a built-in diode section for detecting temperature, a tolerance to high frequency electromag netic jamming is low.例文帳に追加

温度検出用ダイオード部が内蔵された電力用半導体素子を有する電力用半導体装置においては、高周波電磁妨害波耐量が低い点。 - 特許庁

To provide a small-diameter and long (high L/D) roll producing a wide web, not requiring precision adjustment by hot-grinding and a mechanism for temperature adjustment mechanism in the roll wherein circular runout tolerance is low even in a high temperature atmosphere.例文帳に追加

広幅ウエブの生産に対応可能な、高温雰囲気でも静フレが小さく、熱間研磨による精度出し、及びロール内部の温度調整機構を必要としない小径かつ長尺（高Ｌ／Ｄ）のロールを提供する - 特許庁

A calibrated signal output from the low-cost main flow system 22 includes corrections for gas interference, pressure variation, temperature variation, manufacturing tolerance, defects of component elements, and some other causes of errors.例文帳に追加

低コストの主流システム（２２）から出力された較正済みの信号は、ガスの干渉、圧力変化、温度変化、製造公差、構成要素の欠陥、および任意のその他の誤差原因に対する補正を含む。 - 特許庁