interfering ionとは 意味・読み方・使い方

A first secondary ion intensity of ion having a mass number roughly equal to that of the measuring object element and a second secondary ion intensity of molecular ion which is an isotope of the interfering ion relative to the measuring object element are measured, and thereafter correlation between the second secondary ion intensity and an isotope abundance of the molecular ion is obtained, and then a third secondary ion intensity of the interfering ion is calculated by using the correlation.例文帳に追加

測定対象元素を含む試料を用いて、測定対象元素と略等しい質量数を有するイオンの第１の二次イオン強度と、測定対象元素に対する妨害イオンの同位体となる分子イオンの第２の二次イオン強度とを測定した後、第２の二次イオン強度と分子イオンの同位体存在比との相関関係を求め、その後、該相関関係を用いて、妨害イオンの第３の二次イオン強度を算出する。 - 特許庁

To calculate secondary ion intensity of interfering ion relative to a measuring object element without using a standard sample including no measuring object element.例文帳に追加

測定対象元素を含まない標準試料を用いることなく、測定対象元素に対する妨害イオンの二次イオン強度を算出できるようにする。 - 特許庁

And when viewing the ion beam outlet 14 along the gravity direction G, a dust-proof plate 11 is provided to cover the lower surface of the ion beam outlet 14 without interfering with irradiation of the ion beam 2 to the substrate 4.例文帳に追加

そして、重力方向Ｇに沿ってイオンビーム引出し口１４を見たときに、イオンビーム引出し口１４の下面を覆うとともに、基板４へのイオンビーム２の照射を妨げない防塵板１１を備えている。 - 特許庁

A mass spectrum is measured by making a primary ion beam incident onto a first region containing a large amount of interfering ions (S61).例文帳に追加

妨害イオンを多量に含む第一の領域に対して一次イオンビームを入射させ質量スペクトルの測定を行う（Ｓ６１）。 - 特許庁

To provide an ion attachment mass spectrometric device suitable for qualitative analysis capable of measuring the component of a gas to be measured highly accurately by precluding generation of interfering ions or ghost ions.例文帳に追加

干渉イオンやゴーストイオンを防止して被測定ガスの成分を高精度に測定できる定性分析に適したイオン付着質量分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a chloride ion selective material having high selective permeability of the chloride ions relative to carbonate ions, bromide ions, iodide ions and perchlorate ions which are interfering ions to chloride ions respectively.例文帳に追加

塩素イオンに対する妨害イオンとなる炭酸イオン、臭素イオン、ヨウ素イオン、そして過塩素酸イオンに対して、塩素イオンの選択透過性が高い塩素イオン選択性材料を提供する。 - 特許庁

To provide a mass spectrometric technique that in MALDI mass spectrometry using inorganic particulates as matrix, a sample material is directly retained by matrix particles without interposing a material which becomes a cause of an interfering ion peak, to analyze an organic compound of low molecular weight in particular with superior precision.例文帳に追加

無機微粒子をマトリクスとするＭＡＬＤＩ質量分析法において、妨害イオンピークの原因となる物質を介在させることなく、試料物質をマトリクス粒子に直接保持させて、特に低分子量の有機化合物が精度良く分析できる質量分析技術を提供する。 - 特許庁