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interatomic forceとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 原子間力
「interatomic force」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 41件
INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBER AND INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
原子間力顕微鏡用プローバ及び原子間力顕微鏡 - 特許庁
OPTICAL-LEVER TYPE OPTICAL SYSTEM FOR INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
原子間力顕微鏡用光てこ光学系 - 特許庁
APPROACH CONTROL METHOD AND APPARATUS OF INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
原子間力顕微鏡のアプローチ制御方法及び装置 - 特許庁
CANTILEVER FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING INTERATOMIC FORCE例文帳に追加
原子間力顕微鏡用のカンチレバー、原子間力顕微鏡、および、原子間力の測定方法 - 特許庁
To provide a cantilever driven by a dynamic mode; to provide an atomic force microscope; and to improve measuring precision of an interatomic force in a method of measuring the interatomic force.例文帳に追加
ダイナミックモードで駆動されるカンチレバー、原子間力顕微鏡、および原子間力の測定方法において、原子間力の測定精度を高める。 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING CANTILEVER AMPLITUDE AND NONCONTACT INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
カンチレバー振幅測定方法および非接触原子間力顕微鏡 - 特許庁
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「interatomic force」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 41件
NONCONTACT INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING THE SAME例文帳に追加
非接触型原子間力顕微鏡およびそれを用いた観察方法 - 特許庁
The interatomic force microscope (AFM) has the chip coated with the hydrophobic compound.例文帳に追加
疎水性化合物で被覆されたチップを備えた原子間力顕微鏡(AFM)。 - 特許庁
OBJECT STATE DETECTING DEVICE, INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE AND LIGHT DISK DEVICE USED THEREOF例文帳に追加
物体の状態検出装置、並びにそれを利用した原子間力顕微鏡、及び光ディスク装置 - 特許庁
To reliably immobilize a fine specimen on a base by overcoming adsorption force by static electricity, interatomic force or intermolecular force, when transferring the fine specimen onto the base.例文帳に追加
微小検体を基台に移す際、静電気による吸着力、原子間力または分子間力等に打ち克って確実に基台上に固定する。 - 特許庁
To reliably immobilize a fine specimen on a base by overcoming an absorption force by static electricity, an interatomic force or an intermolecular force, when transferring the fine specimen onto the base.例文帳に追加
微小検体を基台に移す際、静電気による吸着力、原子間力または分子間力等に打ち克って確実に基台上に固定する。 - 特許庁
The interatomic force microscope (AFM) functions as the dipping pen nano-lithography (DPN) for writing a pattern on a gold substrate (AU) by transferring molecules from the chip of the interatomic force microscope (AFM) to the gold substrate (AU).例文帳に追加
該原子間力顕微鏡(AFM)は、原子間力顕微鏡チップ(AFM)から金基板(AU)へ分子を移動して金基板(AU)上にパターンを書き入れるための、つけペンナノリソグラフィ(DPN)として作動する。 - 特許庁
INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE, MEASURING METHOD FOR SURFACE SHAPE USING IT AND MANUFACTURE OF MAGNETIC RECORDING MEDIUM例文帳に追加
原子間力顕微鏡、それを用いた表面形状の測定方法及び磁気記録媒体の製造方法 - 特許庁
To provide a method of drawing an interatomic force electron beam line which draws an electron beam line of a detailed pattern of 10 nm or less.例文帳に追加
10nm以下の微細パターンの電子線描画を可能とする原子間力電子線描画法の提供。 - 特許庁
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