high potential testとは 意味・読み方・使い方

The high voltage test device 10 consists of a transformer 10a for test, a direct current generator 10b, an impulse generator 10c, a change-over device unit 10e, a drive device 10g, and a universal potential divider 10j, and a bushing unit 10k which have sealed tank structures, respectively.例文帳に追加

高電圧試験装置１０を、それぞれ密閉タンク構造の試験用変圧器１０ａ、直流発生器１０ｂ、インパルス発生器１０ｃ、切り替え装置ユニット１０ｅ、駆動装置１０ｇ、万能分圧器１０ｊ及びブッシングユニット１０ｋによって構成する。 - 特許庁

In this test device for accelerating the deterioration of the electrophotographic photoreceptor by rotating the photoreceptor at high speed and repeating a cycle including an electrostatically electrifying stage and a light discharge stage, the passing current and the surface potential of the photoreceptor are measured by an ammeter 6 and an electrometer for surface potential 7 so as to control to keep the surface potential on a fixed condition.例文帳に追加

電子写真感光体を高速で回転させ、静電気帯電工程と光放電工程を含むサイクルを繰り返して感光体の劣化を加速させる試験装置において、電流計６、表面電位計７などで、感光体の通過電流と表面電位を計測し、表面電位を一定条件に保つように制御する。 - 特許庁

To relieve the potential fluctuation of power sources and GNDs in the vicinity of a package which occurs in the case of a test at high frequencies at the time of testing an LSI with an extremely large number of input/output signals and power source and GND electrodes especially in the case of performing the test in a package state.例文帳に追加

ＬＳＩの入出力信号や、電源及びＧＮＤ電極が非常に多いＬＳＩをテストするに際し、特にパッケージの状態でテストする場合において、高周波でテストする場合に起こるパッケージの近傍での電源及びＧＮＤの電位変動を緩和する。 - 特許庁

In this semiconductor device 1, test signal output circuits 11A to 11D, and ... output a test signal providing a desired potential or a high impedance state to pads P1 to P5, ..., and resisters 12A to 12D, ... input a signal on wirings L1 to L5, ... which connect the pads P1 to P5, ... with an internal circuit 100.例文帳に追加

半導体装置１は、テスト信号出力回路１１Ａ〜１１Ｄ、・・・が、パッドＰ１〜Ｐ５、・・・に所望の電位またはハイインピーダンス状態を与えるテスト用信号を出力し、レジスタ１２Ａ〜１２Ｄ、・・・が、パッドＰ１〜Ｐ５、・・・と内部回路１００とを接続する配線Ｌ１〜Ｌ５、・・・上の信号を取り込む。 - 特許庁

Each of the ground circuits 32 can be electrically connected directly or indirectly to a reference potential point of the test bench, and can maintain the impedance characteristic of a high-frequency measuring signal that is transmitted by the signal circuit 31.例文帳に追加

接地回路３２は、直接または間接的にテストベンチの基準電位点に電気的に接続することが可能であり、信号回路３１によって伝送される高周波測定信号のインピーダンス特性を維持できる。 - 特許庁

The switch circuit 14 connects the other end of the resistor 11 to the other end of the bypass capacitor 2 when a second control signal, which is supplied from the test circuit 3, is at a high level and connects the other end of the resistor 11 to the high-potential side terminal of the voltage source circuit 12 when the second control signal is at a low level.例文帳に追加

スイッチ回路１４は、テスト回路３から供給される第２制御信号がハイレベルの場合、抵抗１１の他端とバイパス・コンデンサ２の他端との間を接続し、第２制御信号がローレベルの場合、抵抗１１の他端と電圧源回路１２の高電位側の端子との間を接続する。 - 特許庁

In discrimination measurement of the austenitic stainless steel of the low-carbon steel and the high-carbon steel, a test piece is heated at 650°C for several hours to deposit carbide, then dipped into acid sodium chloride aqueous solution, and anode-polarized from a natural dipping potential to +0.2 V with respect to a saturated calomel electrode, and the maximum density of a current flowing at that time is measured.例文帳に追加

低炭素鋼と高炭素鋼のオーステナイト系ステンレス鋼の識別測定において、試験片を６５０℃に数時間加熱し炭化物を析出させた後、酸性の塩化ナトリウム水溶液に浸漬し、自然浸漬電位から飽和カロメル電極に対し＋０．２Ｖまでアノード分極させ、そのときに流れる最大電流密度を測定する。 - 特許庁

Corrosion resistant sprayed coating film in which porosity is controlled to ≤0.5 vol.% by measurement with a mercury porosimeter, the size of pores is ≤0.05 μm, or the electric potential after 72 hr in a dipping test in artificial sea water of the one having 200 to 400 μm film thickness is ≥-300 mV (Ag/AgCl) is formed by high speed flame spraying.例文帳に追加

気孔率が水銀ポロシメーターでの測定で０．５体積％以下であり、気孔の径は０．０５μｍ以下であるか、もしくは、膜厚２００〜４００μｍのものの人工海水中での浸漬試験における７２時間後の電位が−３００ｍＶ以上（Ａｇ／ＡｇＣｌ）である耐食性溶射皮膜を高速フレーム溶射によって形成する。 - 特許庁