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grazing incidenceとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 すれすれ角入射; すれすれ入射; すれすれ入射角
「grazing incidence」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 18件
GRAZING INCIDENCE MIRROR, LITHOGRAPHY EQUIPMENT COMPRISING THE GRAZING INCIDENCE MIRROR, METHOD FOR PROVIDING THE GRAZING INCIDENCE MIRROR, METHOD FOR REINFORCING EUV REFLECTION OF THE GRAZING INCIDENCE MIRROR, DEVICE MANUFACTURING METHOD, AND DEVICE MANUFACTURED THEREBY例文帳に追加
かすめ入射ミラー、かすめ入射ミラーを含むリソグラフィ装置、かすめ入射ミラーを提供する方法、かすめ入射ミラーのEUV反射を強化する方法、デバイス製造方法およびそれによって製造したデバイス - 特許庁
The electron beam impinged at a grazing angle of incidence i on a crystal surface.発音を聞く 例文帳に追加
電子ビームは、すれすれの入射角iで結晶表面に衝突した。 - 科学技術論文動詞集
EVAPORATIVE THERMAL MANAGEMENT OF GRAZING-INCIDENCE COLLECTOR FOR EXTREME ULTRAVIOLET LIGHT LITHOGRAPHY例文帳に追加
極端紫外光リソグラフィに用いられる斜入射集光器における、気化を利用した熱管理 - 特許庁
To provide an adjustable clip for securing a grazing-incidence collector (GIC) shell of EUV to a spider having plural spokes.例文帳に追加
複数のスポークを有するスパイダにEUVの斜入射集光器(GICシェル)を固定するための調節クリップが開示される。 - 特許庁
To simplify the complicated structure and control system of the conventional X-ray radiographing stand with a grazing incidence imaging function, to make it compact and to add the grazing incidence imaging function to a popular X-ray radiographing stand for which a small occupancy space and a low price are demanded.例文帳に追加
従来の斜入撮影機能付きのX線透視撮影台の複雑な構造および制御方式を簡易化するとともに小型化し、小占有スペースと低価格が要求される普及型のX線透視撮影台に斜入撮影機能を付加する。 - 特許庁
To provide a cooling system and a cooling method for a grazing-incidence collector (GIC) used in extreme ultraviolet (EUV) lithography.例文帳に追加
極端紫外線(EUV)リソグラフィにおいて使用される斜入射集光器(GIC)用の冷却システム及び冷却方法を提供する。 - 特許庁
The tube is oriented to capture debris while allowing light to pass through a lumen of the tube via reflection at relatively small angles of grazing incidence.例文帳に追加
管は、光を比較的小さなグレージング入射角での反射を通じて管の内腔に通過させながらデブリを捕捉するように配向される。 - 特許庁
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「grazing incidence」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 18件
To disclose a method of using a stress-decoupling device, in a stress-decoupling device for EUV lithography and a cooled grazing-incidence collector (GIC) mirror system.例文帳に追加
EUVリソグラフィ用ストレス分断装置、および、冷却斜入射集光器(GIC)ミラーステムにおいてストレス分断装置を使用する方法が開示される。 - 特許庁
Grazing incidence collectors (GIC) mirrors M1, M2 are used in a source collector module for generating laser generating plasma (LPP) that emits EUV radiation.例文帳に追加
EUVを放射するレーザ生成プラズマ(LPP)を生成するための光源集光モジュールには斜入射集光器(GIC)ミラーM1,M2を用いる。 - 特許庁
A cooled spider 10 for grazing-incidence collectors includes an outer ring 20, an inner ring 50, and a plurality of spokes 80 that mechanically and fluidly connect the inner and outer rings 20, 50.例文帳に追加
斜入射集光器用冷却スパイダ10は、外側リング20と、内側リング50と、両者を機械接続及び流体接続する複数のスポーク80とを備える。 - 特許庁
To solve such a problem that a GIC (Grazing-Incidence Collector) shell spider receives prolonged exposure to EUV radiation and other radiation by-products that heat the spider and potentially induce deformation to mirrors supported thereby and cause performance problems.例文帳に追加
GIC(斜入射集光器)シェルスパイダが、長期的にEUVや他の放射副産物に曝されると、加熱され潜在的にミラーが変形し、性能上の問題を引き起こす。 - 特許庁
The present invention relates to the SOCOMO for generating a laser-produced plasma (LPP) that emits EUV, and a grazing-incidence collector (GIC) mirror having an input end and an output end and arranged relative to the LPP.例文帳に追加
EUVを放射するレーザ生成プラズマ(LPP)を生成するためのSOCOMOと、入射端および出射端を有し、LPPに相対配置される斜入射集光器(GIC)ミラーとに関する。 - 特許庁
A pulse laser having a femtosecond pulse and energy sufficient to remove asperities from the surface of a workpiece is directed at grazing incidence to the surface, so that it removes the asperities from the surface.例文帳に追加
フェムト秒パルスを有し、かつ被加工物表面の突起を除去するのに十分なエネルギーとを有するパルスレーザを、被加工物表面をかすめるように入射することで加工物表面に存在する微小突起を除去する。 - 特許庁
A source-collector module (SOCOMO) 100 for generating laser-produced plasma (LPP) radiating EUV includes a grazing-incidence collector (GIC) mirror MG having an incident end 3 and an emission end 5 and disposed in relation to an LPP 24.例文帳に追加
EUVを放射するレーザ生成プラズマ(LPP)を生成するための光源集光モジュール(SOCOMO)100と、入射端3および出射端5を有し、LPP24に相対配置される斜入射集光器(GIC)ミラーMGとに関する。 - 特許庁
The semiconductor layer growth substrate is one in which the principal surface for the growth of a GaN semiconductor layer thereon gives an X-ray reflectivity curve with a half-width not longer than 100 sec as measured by a grazing incidence X-ray reflectivity technique, and the principal surface has an atomically stepped structure.例文帳に追加
半導体層成長用基板は、GaN系半導体層を成長させるための主面の、X線反射率法によるX線反射率曲線の半値幅を100秒以下とし、かつ、前記主面に、原子ステップ構造を形成した。 - 特許庁
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