flexibility testとは 意味・読み方・使い方

To provide a pile loading test method and its loading test device capable of being tested by using a testing pile in a state to make it possible to actually use, simplifying the constitution, extending the flexibility of the test and contributing to shortening of the testing process and reduction of costs.例文帳に追加

実際に使用される状態の試験杭を用いて試験することができ、構成が簡単で、試験の自由度を広げることができ、更には試験工程の短縮及びコストの削減に寄与する杭の載荷試験方法及び載荷試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a cable which has approximate RF invisibility in an RF band of interest, having a flexibility and can be used in a variety of test forms.例文帳に追加

関心ＲＦ帯においてほぼＲＦ不可視性を有し、かつ可撓性を有して、様々な試験形態にて使用することが可能であるケーブルを提供する。 - 特許庁

The theodolite 2 and a placing stand 6 are rotated, thereby expanding a measuring range of the theodolite 2 and increasing the flexibility of an installing position of the test piece 4.例文帳に追加

セオドライト２及び設置台６を回転させることにより、セオドライト２の測定範囲を広げ、供試体４の設置位置の自由度がさらに大きくなる。 - 特許庁

The thus obtained tape has tensile strength of ≥10.3 MPa, elongation of ≥60%, and a heat deformation ratio of ≤50%, and passes a flame retardance test and a flexibility test in accordance with the testing methods regulated in UL 510.例文帳に追加

これによりＵＬ５１０に規定する試験方法により、引張強度１０．３ＭＰａ以上、伸び６０％以上、加熱変形率５０％以下であり、難燃性試験に合格し、柔軟性試験に合格する。 - 特許庁

To provide a clock control circuit capable of supplying a clock for a test optionally to a flip flop circuit such as a latch built in a logic circuit, and capable of improving flexibility for the test of the logic circuit.例文帳に追加

論理回路に組み込まれたラッチなどのフリップフロップ回路に対し、テスト用クロックを任意に供給することができ、論理回路のテストの柔軟性を改善することが可能なクロック制御回路を提供すること。 - 特許庁

To increase the flexibility of test runs or test drives in a method of testing a vehicle or its partial system on a test bench or in a vehicle experiment, where interfaces to transmit force and torque are at least partially present in reality.例文帳に追加

テストベンチ上でまたは車両実験において、車両またはその部分システムをテストする方法であって、力伝達を行いかつトルク伝達を行うインターフェースが、少なくとも部分的に現実に存在する前記方法において、テスト走行またはテスト運転の柔軟性をさらに向上させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of concurrently generating an expectation value pattern and a determination mask pattern using pattern data stored in a pattern memory, thereby enhancing the flexibility in creating a test program and the efficiency of test.例文帳に追加

パターンメモリに記憶されたパターンデータを用いて期待値パターンと判定マスクパターンとを同時に生成することができ、これにより試験プログラム作成の自由度及び試験効率を高めることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To inhibit a phenomenon in which a flip-chip bonding surface touches a substrate occurring in flip-chip bonding, and improve layout flexibility of wiring without deteriorating resistance to damages in a probe test.例文帳に追加

フリップチップ接続時における腹打ち現象を防止し、プローブテスト時のダメージに対する耐性を低下させることなく、配線のレイアウトの自由度を向上させる。 - 特許庁