film thickness meterとは 意味・読み方・使い方

To provide a fluorescent X-ray film thickness meter capable of efficiently measuring film thickness corresponding to the thickness level of the film thickness, and a fluorescent X-ray film thickness measuring method.例文帳に追加

膜厚の厚みレベルに応じて効率よく、膜厚測定を行うことができる蛍光Ｘ線膜厚計及び蛍光Ｘ線膜厚測定法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The film thickness meter 15 supplies measurement data to an operation control part 16.例文帳に追加

膜厚計１５は、演算制御部１６に計測データを提供する。 - 特許庁

The film thickness of the cured layer on the organic antireflective film formed as a result is measured by an optical reflecting spectrographic film thickness meter.例文帳に追加

その結果生じた有機反射防止膜上の硬化層の膜厚を光学式反射分光膜厚計で測定する。 - 特許庁

The coating apparatus includes a coating film thickness meter for detecting the coating film thickness on the web, and automatically controls the coating film thickness by adjusting the height of a carrier roll provided upstream of the coating apparatus based on the result of the coating film thickness meter.例文帳に追加

ウェブ上の塗布膜厚を検出する塗布膜厚計と、その結果に基づいて塗布装置上流側にある搬送ロールの高さを調整して塗布膜厚を自動制御する塗布装置からなる構成を有する。 - 特許庁

In a system for controlling the thickness of the film in which fluctuation of the thickness of the film is continuously measured by an online system and is fed back to the manufacturing process, an ultrasonic thickness meter is used as an online thickness meter.例文帳に追加

フィルムの厚み変動を連続的にオンラインで測定し、製造工程にフィードバックするフィルムの厚みコントロールシステムにおいて、オンライン厚み計として、超音波方式の厚み計を用いる。 - 特許庁

To drastically enhance control accuracy of optical film thickness, and to contribute to stabilize film forming speed and reduce cost by providing an optical film thickness meter alternative to a quartz film thickness meter.例文帳に追加

光学膜厚制御の精度を大きく改善することができ、又さらに水晶膜厚計に代わる光学膜厚計を提供することにより、成膜速度の安定化とコストダウンに貢献することができるようにする。 - 特許庁

To provide a film thickness monitoring meter capable of measuring and monitoring a thickness of a film regarding a wavelength of a wide band and monitoring the accurate thickness of the film even when a light quantity of a light source is changed.例文帳に追加

広帯域の波長に関する膜厚の測定及び監視ができ、また光源の光量が変動した場合でも高精度な膜厚監視が可能な膜厚監視計を提供する - 特許庁

A film thickness meter 13 is provided on the downstream of the backup roll 11 and each heater element is controlled by a control device 20 based on the signal from the film thickness meter.例文帳に追加

バックアップロール１１の下流に膜厚計１３が設けられ、この膜厚計１３からの信号に基づいて制御装置２０により、各ヒータ要素１４ａ，１４ｂ，…が調整される。 - 特許庁