external test equipmentとは 意味・読み方・使い方

Also, a test button is provided in the external connection equipment to thereby confirm power supply situations of the host 1.例文帳に追加

また、外部接続機器にテストボタンを設け、ホスト１の電源状況を確認できるようにすることもできる。 - 特許庁

To provide a testing arrangement capable of reducing external noises as much as possible when performing duration test or acceleration test of an electronic equipment, electronic component, etc.例文帳に追加

電子機器、電子部品等の寿命試験又は加速試験を実行するに際し、外部からのノイズを出来る限り減少し得る試験装置を提供すること - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, CONTROL METHOD THEREOF FOR EXTERNAL EQUIPMENT, AND STORAGE MEDIUM STORED WITH CONTROL PROGRAM THEREOF例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験装置における外部機器の制御方法、及びその制御プログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁

To provide scan test equipment which can reduce external terminals to be installed as much as possible to ensure many scan chains in a scan chain system.例文帳に追加

スキャンテスト装置に設ける外部端子をできるだけ削減し、該スキャンチェーン装置内にスキャンチェーンを多く確保できるスキャンテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can shorten the time needed to test a semiconductor device, a control method of the semiconductor test device for external equipment, and a storage medium stored with its control program.例文帳に追加

本発明の課題は、半導体デバイスの試験に要する時間を短縮することを可能とする半導体試験装置、半導体試験装置における外部機器の制御方法、及びその制御プログラムを記憶した記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

To perform highly accurate performance test measurement and fault diagnosis by achieving detailed setting of respective equipment in operation check, using an external control device having high versatility.例文帳に追加

汎用性の高い外部制御装置を用いて、運転チェックの際における各機器の詳細な設定を可能とし、精度の高い性能検定測定や故障診断を行う。 - 特許庁

To provide a conductive contact pin and semiconductor inspection equipment, reducing adhesion of external electrode material in conducting electrical characteristics test on a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の電気的特性検査を行う際の外部電極材料の付着を減少できる導電性接触子および半導体検査装置を提供する。 - 特許庁