external testとは 意味・読み方・使い方

The input terminals are released from external connections in scan test.例文帳に追加

入力端子は、スキャンテスト時に外部の接続が開放される。 - 特許庁

EXTERNAL TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路の外付けテスト回路及びそのテスト方法 - 特許庁

An operation test is performed by an external test device 1, a BIST 4 formed in a chip 2, and a BOST 3 arranged between the external test device 1 and the chip 2.例文帳に追加

外部試験装置１と、チップ２内に形成されるＢＩＳＴ４と、外部試験装置１とチップ２との間に介在されるＢＯＳＴ３とでチップ２の動作試験が行われる。 - 特許庁

To provide a test circuit and a test method of a semiconductor integrated circuit, by which macro and the like of a test object can be tested without adding an external connection pin for a test which is necessary for a test.例文帳に追加

テスト時に必要となるテスト用の外部接続ピンを追加することなく、テスト対象のマクロ等をテストすることができる半導体集積回路のテスト回路およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

To reduce the number of external terminals of semiconductor integrated circuit required to implement self-test by a self-test circuit.例文帳に追加

自己テスト回路が自己テストを行う上で必要な半導体集積回路の外部端子の数を削減すること。 - 特許庁

Hereby, the external shape of the test lens 20 can be measured accurately.例文帳に追加

したがって、被検レンズ２０の外形形状の測定が精度良く行える。 - 特許庁

To correctly measure an access time of a memory macro by using an external test terminal.例文帳に追加

外部テスト端子を用いてメモリマクロのアクセスタイムを正確に測定する。 - 特許庁

COMPUTER SYSTEM, INTERFACE CIRCUIT, EXTERNAL DEVICE, AND TEST METHOD OF INTERFACE CIRCUIT例文帳に追加

コンピュータシステム、インターフェース回路、外部装置およびインターフェース回路のテスト方法 - 特許庁