electron probe X‐ray microの英語

ELECTRON BEAM PROBE MICRO X-RAY ANALYTICAL METHOD, AND ANALYZER THEREFOR例文帳に追加

電子線プローブマイクロＸ線分析方法、及びその装置 - 特許庁

OBLIQUE EJECTION ELECTRON BEAM PROBE MICRO X-RAY ANALYSIS METHOD, PROGRAM USED THEREIN, AND OBLIQUE EJECTION ELECTRON BEAM PROBE MICRO X-RAY ANALYZER例文帳に追加

斜出射電子線プローブマイクロＸ線分析方法およびそれに用いられるプログラム、並びに、斜出射電子線プローブマイクロＸ線分析装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING FOREIGN MATTER BY OBLIQUE EMISSION ELECTRON BEAM PROBE MICRO-X-RAY ANALYSIS例文帳に追加

斜出射電子線プローブマイクロＸ線分析による異物の分析方法およびその装置 - 特許庁

To provide an electron beam probe micro X-ray analytical method capable of analyzing a depth-directional element distribution from a surface of an analyzed sample.例文帳に追加

被分析試料の表面から深さ方向の元素分布分析をすることができる電子線プローブマイクロＸ線分析方法を提供すること - 特許庁

The Ti-Al-based alloy target obtained by this method comprises 45 to 65 atomic% Al, and has at least two or more phases of Ti_3Al, TiAl, TiAl_2 and TiAl_3 upon analysis by X-ray diffraction, and in which metal Ti and metal Al as simple substances are not left upon EPMA (Electron Probe Micro Analysis).例文帳に追加

これにより得られたＴｉ−Ａｌ系合金ターゲットは、Ａｌを４５〜６５原子％含有し、Ｘ線回折で分析したときにＴｉ_３Ａｌ，ＴｉＡｌ，ＴｉＡｌ_２，ＴｉＡｌ_３の少なくとも２種以上の相を含み、ＥＰＭＡ分析をしたときに単体の金属Ｔｉ及び金属Ａｌが残存していない。 - 特許庁

The titanium contains 0.1 to 2.5 mass% Fe and has a needle-like or lath-like microstructure and, in the concentration distribution analyzed by using an electron probe X-ray micro analyzer (EPMA), the area of a region having an Fe concentration ≥1.5 times the average concentration is ≥5% and hereby the corrosion resistance of the Fe-containing titanium material can be improved.例文帳に追加

Ｆｅを０．１〜２．５質量％含有するチタンにおいて、針状あるいはラス状のミクロ組織を有し、電子線マイクロアナライザ（ＥＰＭＡ）で分析した濃度分布においてＦｅ濃度が平均濃度に対して１．５倍以上に濃化した部分の面積を５％以上とすることによって、Ｆｅ含有チタン材の耐食性を高めることができる。 - 特許庁