electron probe X‐rayの英語

This resin composition comprises a resin and aluminum hydroxide having ≤100 nm average primary particle diameter, and is characterized by ≤0.1 index Y/X calculated from an average value X of the X-ray intensity and a standard deviation Y when the X-ray intensity of aluminum is measured by an electron probe X-ray microanalyser by scanning the beam on a straight line.例文帳に追加

樹脂と平均一次粒子径１００ｎｍ以下の水酸化アルミニウムとを含有し、かつ電子プローブＸ線マイクロアナライザーによりビームを直線上に走査してアルミニウムのＸ線強度を測定したときのＸ線強度の平均値Ｘおよび標準偏差Ｙから算出される指数Ｙ／Ｘが０．１以下であることを特徴とする樹脂組成物。 - 特許庁

To simplify a condition input and to reduce an error, by extracting an analytical condition from a natural sentence such as mail, and by setting automatically the analytical condition, in an electron probe X-ray analyzer such as an EMPA.例文帳に追加

ＥＰＭＡ等の電子プローブＸ線分析装置において、メール等の自然文から分析条件を抽出し、自動的に分析条件の設定を行うことにより、条件入力を簡易化し間違いを減らす。 - 特許庁

The porous shaped article comprises an organic polymer resin and an inorganic ion adsorbent, wherein the ratio of 95% cumulative relative X-ray intensity to 5% cumulative relative X-ray intensity (cumulative relative X-ray intensity ratio) of ingredient elements composing an inorganic ion adsorbent that is supported by the porous article ranges from 1 to 10 as measured using an electron probe microanalyzer (EPMA).例文帳に追加

有機高分子樹脂及び無機イオン吸着体を含んでなる多孔生の成形体であって、電子線マイクロアナライザ（ＥＰＭＡ）を用いて得られる、該多孔性の成形体に担持されている無機イオン吸着体を構成する成分元素の９５％相対累積Ｘ線強度と５％相対累積Ｘ線強度の比（相対累積Ｘ線強度比）が１〜１０となることを含む、上記多孔性成形体。 - 特許庁

To provide an X-ray microscopic inspection apparatus which has superhigh-resolution power, enables a nondestructive inspection in a very short time and is equipped with excellent functions such as a target switching function, a high-precision electron probe controlling function, a CT function and an elemental analysis function.例文帳に追加

超高分解能で且つ非常に短時間での非破壊検査が可能であると共に、ターゲット切替機能、高精度の電子プローブ制御機能、ＣＴ機能、元素分析機能などの優れた機能を搭載したＸ線顕微検査装置を提供する。 - 特許庁

The Ti-Al-based alloy target obtained by this method comprises 45 to 65 atomic% Al, and has at least two or more phases of Ti_3Al, TiAl, TiAl_2 and TiAl_3 upon analysis by X-ray diffraction, and in which metal Ti and metal Al as simple substances are not left upon EPMA (Electron Probe Micro Analysis).例文帳に追加

これにより得られたＴｉ−Ａｌ系合金ターゲットは、Ａｌを４５〜６５原子％含有し、Ｘ線回折で分析したときにＴｉ_３Ａｌ，ＴｉＡｌ，ＴｉＡｌ_２，ＴｉＡｌ_３の少なくとも２種以上の相を含み、ＥＰＭＡ分析をしたときに単体の金属Ｔｉ及び金属Ａｌが残存していない。 - 特許庁

Particles to be created by changing the ratio of different elements for indexing a probe are used; an SEM image is obtained by a scanning electron microscope for detecting the position and the size; and further, the position and the size of characteristic X rays generated, when electrons irradiated to the particles by the scanning electron microscope are obtained, by obtaining element analysis images, by using an energy dispersion type characteristic X-ray detector.例文帳に追加

プローブのインデクシング用に異なる元素の比率を変えて作成する粒子を用い、走査型電子顕微鏡でＳＥＭ像を得て容易にその位置と大きさを検出し、さらに、走査型電子顕微鏡で粒子に電子を照射する時に発生する特性Ｘ線をエネルギー分散型特性Ｘ線検出器により元素分析像を得ることで位置と大きさを得る。 - 特許庁

To provide a carbon nano structure called CNT, CNF and GNF having superior durability, allowing high measuring accuracy and inexpensively and nonvariably manufacturable in a short time; its manufacturing method; its cutting method; a probe for STM and AFM having this structure or an electric field electron emitting source such as FED, an X-ray device, SEM and TEM.例文帳に追加

優れた耐久性を備え、高い測定精度を可能とし、短時間・低コストでばらつき無く作製できるＣＮＴ、ＣＮＦ、ＧＮＦという炭素ナノ構造体、その製造方法、その切断方法、それを有するＳＴＭやＡＦＭ用の探針あるいはＦＥＤ、Ｘ線装置、ＳＥＭ、ＴＥＭ等の電界電子放出源を提供する。 - 特許庁

The titanium contains 0.1 to 2.5 mass% Fe and has a needle-like or lath-like microstructure and, in the concentration distribution analyzed by using an electron probe X-ray micro analyzer (EPMA), the area of a region having an Fe concentration ≥1.5 times the average concentration is ≥5% and hereby the corrosion resistance of the Fe-containing titanium material can be improved.例文帳に追加

Ｆｅを０．１〜２．５質量％含有するチタンにおいて、針状あるいはラス状のミクロ組織を有し、電子線マイクロアナライザ（ＥＰＭＡ）で分析した濃度分布においてＦｅ濃度が平均濃度に対して１．５倍以上に濃化した部分の面積を５％以上とすることによって、Ｆｅ含有チタン材の耐食性を高めることができる。 - 特許庁