electron microscopic observationとは 意味・読み方・使い方

Due to this configuration, it is possible to sample the volatile substance containing sample without change of its properties, and easily prepare the sample as a sample for transmission electron microscopic observation.例文帳に追加

この構成により、揮発性物質含有試料を変質することなくサンプリングでき、透過電子顕微鏡の観察用試料として容易に作製できる。 - 特許庁

An electron beam prism 3, a dispersion angle amplification lens 6 and aperture 8 are provided between an electron gun 2 and an observation sample 11, the energy dispersion of electron beam orbit occurs by the prism, dispersion angle is amplified by the dispersion angle amplification lens, and only an electron beam passing through the aperture provided next to the dispersion angle amplification lens is used, thereby preparing a microscopic image of the observation sample.例文帳に追加

電子銃２と観察用試料１１との間に電子線用プリズム３と分散角増幅用レンズ６とアパーチャ８とを設け、該プリズムによって電子線軌道のエネルギー分散を発生させ、分散角増幅用レンズによって分散角を増幅し、その後ろに設けたアパーチャを通り抜ける電子線のみを使って観察用試料の顕微鏡像を作成する。 - 特許庁

The tin-doped indium oxide nanoparticle has an average primary particle size of 5-100 nm as determined by transmission electron microscopic observation, true density of 6.8-7.2 g/cm^3 as determined by pycnometry.例文帳に追加

錫ドープ酸化インジウムナノ粒子は、透過型電子顕微鏡による観察で測定された一次粒子の平均粒径が５〜１００ｎｍであり、ピクノメーター法で測定された真密度が６．８〜７．２ｇ／ｃｍ^3であることを特徴とする。 - 特許庁

The present invention is for observation by an interference microscopic image by a two-step electron-beam biprism interferometer.例文帳に追加

従来の電子線干渉計測法では、電子線バイプリズムの極細線電極から発生するフレネル縞が取得画像ごとに変化して干渉像に重畳されるため、新たなアーティファクトの原因となり、高精度な再生像を得るには至っていない。 - 特許庁

To provide a device which can sample an arbitrary site of a volatile substance containing sample, such as organic matters or organisms, as a microflake sample with a size capable of conducting transmission electron microscopic observation without change of its properties.例文帳に追加

有機物や生物等の揮発性物質含有試料の任意の部位を、変質することなく、透過電子顕微鏡観察が可能なサイズの微小薄片試料としてサンプリングでき、同時に電子顕微鏡観察が可能な装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample support member for electron microscopic observation capable of easily fixing and safely treating an extracted minute sample piece when extracting a more minute sample piece from a sample by FIB working and working it into a TEM sample.例文帳に追加

本発明の目的は、FIB加工で試料から、より微小な試料片を摘出し、TEM用試料に加工する際に、摘出した前記微小試料片を容易に固定、安全に取扱うことが可能な電子顕微鏡観察用試料支持部材を提供することにある。 - 特許庁

This method for making a sample comprises thinning a sample piece 2 that becomes the transmission electron microscopic sample, forming a pattern by a photo resist 3 followed by etching, and polishing a formed etched part 4 by an ion milling device to form an observation part 5.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡観察用の試料となる試料片２を薄片化した後、フォトレジスト３でパターンを形成して、エッチングを行い、形成されたエッチング部４にイオンミリング装置による研磨を行って観察部５を形成する試料作製方法である。 - 特許庁

(A) Pore size: 4-10 nm, (B) Pore volume: ≥0.60 mL/g, (C) Sphericity: ≥0.95 of a silica particle deemed as spherical as expressed by ratio of lengths of minor axis (D_S) to major axis (D_L) (D_S/D_L) determined by scanning electron microscopic observation.例文帳に追加

（Ａ）細孔径が４〜１０ｎｍ、（Ｂ）細孔容積が０．６０ｍｌ／ｇ以上、（Ｃ）シリカ粒子の球状換算として、走査型電子顕微鏡観察による短軸（Ｄ_Ｓ）と長軸（Ｄ_Ｌ）との長さの比（Ｄ_Ｓ／Ｄ_Ｌ）で表される真球度が０．９５以上。 - 特許庁