direct scanningとは 意味・読み方・使い方

In a radiation scanning method, the piezoelectric element is caused to move in a reciprocating fashion, and the movement of the piezoelectric element is used to direct an electromagnetic radiation beam in a scanning motion.例文帳に追加

放射スキャン方法においては、圧電素子は往復するように動かされ、圧電素子の動きは、スキャン動作において電磁放射光線を方向付けるために利用される。 - 特許庁

An optical scan element formed in a semiconductor process is preferred to be used to direct the lighting beam to the surface 2 to be detected, for deflection scanning.例文帳に追加

好ましくは、半導体プロセスによって形成した光学的走査素子を用い、照射光を被検出面に向けて偏向走査する。 - 特許庁

To provide a laser direct drawing apparatus in which the trajectory of a laser beam in a main scanning direction is substantially linearized and excellent drawing accuracy is obtained.例文帳に追加

主走査方向のレーザビームの軌跡をほぼ直線にすることができ、描画精度に優れるレーザ直接描画装置を提供すること。 - 特許庁

A direct light diffusion part 512 is a part extended in the longitudinal direction from the bent part 511, and this direct light diffusion part 512 has a shape extended throughout the whole manuscript reading region in the main scanning direction.例文帳に追加

直接光拡散部５１２は、屈曲部５１１から長手方向へ延びた部分であり、この直接光拡散部５１２は主走査方向の原稿読み取り領域全体に渡って延伸した形状となっている。 - 特許庁

An interferometer 10 having a measuring aperture opening to the side of a plane 11a to be measured is fixed movably to a direct driven stage 12 and scanning is performed by driving the direct driven stage 12 in the X direction.例文帳に追加

干渉計１０は、被測定面１１ａ側に開口した測定開口を有して直動ステージ１２に移動可能に取り付けられ、直動ステージ１２を駆動させることによりＸ方向に走査される。 - 特許庁

To provide a multibeam light source unit which can direct an array of light emission points of a multibeam laser diode in the horizontal scanning direction of a scanning optical system to a scheduled designed reference straight line.例文帳に追加

走査光学系の主走査方向に対するマルチビームレーザダイオードの発光点の配列方向を設計的に予定された設計基準直線方向に揃えることのできるマルチビーム光源ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning medical probe which is constitutively suitable for taking images from viewpoints of both direct-viewing observation images and side-viewing observation images.例文帳に追加

直視観察画像と側視観察画像の両方の視点の画像を撮影するのに適した構成の走査型医療用プローブを提供すること。 - 特許庁

The direct alignment of the wafer 19 to the scanning magnet is measured through the beam to the sensor reflected on the mirror surface of a wafer holder 20.例文帳に追加

走査マグネットに対するウェハ１９の直接アラインメントを、ウェハホルダ２０上の鏡面状の表面でビームが反射してセンサに戻ることにより判定する。 - 特許庁