detailed test methodとは 意味・読み方・使い方

To provide a test method and an inspection device of substrates capable of conducting detailed inspection, without installing test land.例文帳に追加

テストランドを設けることなく詳細な検査を行うことが可能な基板の検査方法及び検査装置を提供することをを目的とする。 - 特許庁

To provide an address decoder check circuit and its check method capable of making a detailed check with less check steps without preparing expected values for the test memory data.例文帳に追加

検査ステップがより少なく、テスト用のメモリデータの期待値を設ける必要がなく、且つ検査を詳細に行うことができるアドレスデコーダの検査回路及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

To acquire detailed and highly-reliable test results by discriminating whether electric test results depend on an external factor of a semiconductor chip or an internal factor, extremely easily and reliably by a simple switching operation, with a comparatively simple constitution and a using method.例文帳に追加

比較的簡易な構成、及び使用方法で電気的試験の結果が半導体チップの外的要因によるか、或いは内的要因によるかを簡易な切り換え動作で極めて容易且つ確実に判別し、精緻で信頼性の高い試験結果を得る。 - 特許庁

To provide a durability testing method of coating member and a test device therefor that enable the sufficient simulation of the test condition of a coating member against the working condition of an actual machine, the investigation for more detailed damage mechanism of the coating member, and more accurate life evaluation.例文帳に追加

コーティング部材の試験条件を実機使用条件に十分に模擬することが可能であり、コーティング部材のより詳細な損傷メカニズムの解明と、より高精度な寿命評価とを可能にするコーティング部材の試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image output system with high quality for performing a defect reproduction test in a short time at a low cost and performing various detailed variation tests and a critical test in a short time at a low cost so as to sufficiently assure operations of components and to provide an operation reproduction method for the image output system.例文帳に追加

不具合再現テストを短時間に低コストで実施し、また、細かな種々のバリエーションテストや限界テストを短時間に低コストで実施して構成要素の動作を十分に保証した高品質の画像出力システムの提供および画像出力システムの動作再現方法を提供する。 - 特許庁

To provide a wafer-inspecting apparatus and a wafer-inspecting method that perform quality decision tests for deciding the acceptance and rejection of semiconductor chips, and a characteristic measurement test for checking more detailed electrical characteristics in the same wafer inspection apparatus.例文帳に追加

同一ウエハ検査装置で、半導体チップの合否判定を行う合否判定テストと、より詳細な電気的特性をチェックする特性測定テストとを実施するウエハ検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a temperature tester and a temperature test method for individually performing detailed heating tests and cooling tests on specimens while automatically performing temperature tests on the plurality of specimens without changing the size of the tester in its entirety.例文帳に追加

本発明は、複数の被試験体の温度試験を自動で行いつつ、装置全体のサイズを変えることなく、被試験体の個々の詳細な加熱試験及び冷却試験を行うことができる温度試験装置及び温度試験方法を得ることを目的とするものである。 - 特許庁