critical testとは 意味・読み方・使い方

A field pointing general purpose class instance is not necessary to be critical, therefore the test of initialization or existence can be left as non-critical.例文帳に追加

汎用クラスインスタンスを指すフィールドは、クリティカルである必要はなく、そのため初期化または存在の検査はノンクリティカルのままにしておくことができる。 - 特許庁

To make generable a delay test pattern without changing the structure of an ON pass even when a critical pass subjected to a delay test is a reconverged pass.例文帳に追加

ディレイテスト対象のクリティカルパスが再収束パスである場合も、オンパスの構造を変化させることなくディレイテスト用パタン生成を可能とする。 - 特許庁

To perform efficient generation of a test pattern capable of taking account of connection relation of instances on a critical path and avoiding an incorrect test, in creation of a test pattern of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のテストパタンの作成において、クリティカルパス上のインスタンスの接続関係を考慮し、かつ、誤テストを回避するテストパタンの生成を効率的に行う。 - 特許庁

To conduct a delay test of a path as a probable critical path in a manufactured integrated circuit.例文帳に追加

製造された集積回路に対し、クリティカルパスとなる確率が高いパスのディレイテストをすることができるようにする。 - 特許庁

To provide a fuse circuit that allows adjustment of critical voltage which becomes a reference for detecting the condition of the fuse during test.例文帳に追加

テスト時に、ヒューズの状態を検出するのに基準となる臨界電圧を調整できるヒューズ回路を提供すること。 - 特許庁

In the test operation, an opening of an outdoor expansion valve 26 is determined to allow the refrigerant flowing into a gas-liquid separator 25 to have a pressure lower than the critical pressure.例文帳に追加

試運転では、気液分離器（25）に流入する冷媒が臨界圧力以下となるように室外膨張弁（26）の開度を設定する。 - 特許庁

For example, an F/F (frip-frop) chain circuit 21 for a SCAN test to activate the critical path 12 in the combination circuit 11 is configured by using SCAN F/F (frip-frop for scan test) (1) 21a to SCAN F/F (5) 21e having MUXs 22a-22e.例文帳に追加

たとえば、組み合わせ回路１１のクリティカルパス１２を活性化させるためのＳＣＡＮテスト用Ｆ／Ｆチェーン回路２１を、ＭＵＸ２２ａ〜２２ｅ付きのＳＣＡＮ Ｆ／Ｆ（１）２１ａ〜ＳＣＡＮ Ｆ／Ｆ（５）２１ｅを用いて構成する。 - 特許庁

A method is provided, which prints a series of test patterns 200 on a test substrate using a lithography projection apparatus in order to measure a critical dimension printed as a function of a preset value of the amount of exposure dose and a preset value of focal length.例文帳に追加

印刷されたクリティカルディメンジョンを露光ドーズ量設定値および焦点設定値の関数として測定するために、リソグラフィ投影装置を使用して試験基板に一連の試験パターン２００を印刷する方法が提供される。 - 特許庁