compound microscopeとは 意味・読み方・使い方

COMPOUND MICROSCOPE DEVICE AND METHOD OF OBSERVING SAMPLE例文帳に追加

複合型顕微鏡装置及び試料観察方法 - 特許庁

To provide a compound microscope capable of analyzing shape information acquired by an optical microscope or physical property information acquired by a scanning type probe microscope irrespective of a measurement mode, and to provide a measuring method of the compound microscope.例文帳に追加

測定モードに関係なく光学顕微鏡により取得される形状情報又は走査型プローブ顕微鏡により取得される物性情報を解析すること。 - 特許庁

LASER ILLUMINATION, TRANSMITTED ILLUMINATION, AND COAXIAL VERTICAL ILLUMINATION INTEGRATED COMPOUND MICROSCOPE PROVIDED WITH LASER ILLUMINATED MICROSCOPE例文帳に追加

レーザー照明顕微鏡を備えた、レーザー照明、透過照明及び同軸落射照明の一体化複合顕微鏡。 - 特許庁

The scanning probe microscope 100 has an atomic force microscope mechanism and a caged compound releasing light introduction mechanism utilizing an inverted microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１００は、原子間力顕微鏡機構と、倒立型顕微鏡を利用したケージド解除光導入機構とを有している。 - 特許庁

COMPOUND SEMICONDUCTOR CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用化合物半導体カンチレバー、及びその製造法 - 特許庁

The interatomic force microscope (AFM) has the chip coated with the hydrophobic compound.例文帳に追加

疎水性化合物で被覆されたチップを備えた原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）。 - 特許庁

COMPOUND MICROSCOPE EQUIPPED WITH PROBE, METHOD OF CALCULATING HEIGHT OF PROBE, AND METHOD OF DRIVING PROBE例文帳に追加

プローブ付き複合顕微鏡、並びにプローブの高さ算出方法及びプローブ駆動方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND COMPOUND INSPECTION METHOD OF PATTERN BY USING IT例文帳に追加

走査型電子顕微鏡、および走査型電子顕微鏡を用いたパターンの複合検査方法 - 特許庁