cell:burnの英語

Even in the case of burn-in test for which the test signal T4 becomes 'H' level, concerning a redundant row selector circuit 2, the word line selection inhibit signal RDE becomes 'L' level, a redundant cell and a normal cell are simultaneously selected and the burn-in test is performed at the same time.例文帳に追加

テスト信号T4が「H」レベルとなったバーンインテストの場合にも、冗長行選択回路2は、ワード線選択禁止信号RDEが「L」レベルとなり、冗長セルとノーマルセルとは一括して選択され、バーンインテストが同時に行われる。 - 特許庁

This sun burn cell formation inhibitor or DNA damage repair promoter contains an extract of peony root as an active ingredient.例文帳に追加

シャクヤク抽出物を有効成分として含有するサンバーンセル形成抑制剤又はＤＮＡ損傷修復促進剤。 - 特許庁

An I/O cell 101 becomes an output at the time of a burn-in test by a burn-in test mode signal M, and the output of a port output signal setting resistor 106 is selected.例文帳に追加

Ｉ／Ｏセル１０１は、バーンインテスト時にバーンインテストモード信号Ｍによって出力となり、出力信号選択回路１０５では、ポート出力信号設定レジスタ１０６の出力が選択される。 - 特許庁

Especially, during wafer burn-in test operation mode, power supply voltage applied to the cell region is higher than power supply voltage applied to the peripheral circuit region.例文帳に追加

特に、ウェハバーンインテスト動作モードの間、セル領域に印加される電源電圧は周辺回路領域に印加される電源電圧より高い。 - 特許庁

This semiconductor memory is provided with a memory cell array divided into plural memory mats, a memory mat selecting circuit 71 selecting a memory mat to be activated, and a burn-in test mode detecting circuit 76 generating a burn-in test mode detecting signal BI being made an active state when a burn-in test is performed.例文帳に追加

本発明の半導体記憶装置は、複数のメモリマットに分割されたメモリセルアレイと、活性化されるメモリマットを選択するメモリマット選択回路と、バーンイン試験が実施される場合に活性状態となるバーンイン試験モード検出信号ＢＩを生成するバーンイン試験モード検出回路７６を備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory of a DRAM cell base surely executing a burn-in test without damaging sense operation characteristics even under a low power supply voltage.例文帳に追加

低電源電圧下においても、バーンインテストを確実にセンス動作特性を損なうことなく行なうことのできるＤＲＡＭセルベースの半導体記憶装置を実現する。 - 特許庁

To apply proper stress even to an I/O cell other than a terminal used for the output and input of a scan, at the time of a burn-in test using a scanning circuit.例文帳に追加

スキャン回路を用いたバーンインテスト時に、スキャンの入力と出力で使用する端子以外のＩ／Ｏセルに対しては、適切なストレスを印加することができない。 - 特許庁

When starting the fuel cell system, raw fuel is supplied to the shift burner 9 to burn it, and the temperature of the CO converter 2 and the CO remover 3 is raised to a prescribed temperature (100°-120°).例文帳に追加

起動時に、原燃料をシフトバーナ９に供給して燃焼し、ＣＯ変成器２とＣＯ除去器３とを所定温度（１００℃〜１２０℃）まで昇温する。 - 特許庁