bad blockとは 意味・読み方・使い方

This invention includes a flash memory part 100 and a bad block management part 200.例文帳に追加

本発明はフラッシュメモリ部１００とバッドブロック管理部２００とを含む。 - 特許庁

Then, the bad block management part 200 converts a page address with a defect of the data block 130 into a page address of the spare block 110 by referring to the management block 120.例文帳に追加

そしてバッドブロック管理部２００は前記管理ブロック１２０を参照して前記データブロック１３０の欠陥があるページアドレスを前記予備ブロック１１０のページアドレスに変換する。 - 特許庁

The method of providing block state information in a semiconductor memory device including a flash memory comprises storing block state information on the bad block of the flash memory and on the alternate block for replacing the bad block, and providing the block state information to a user when a specific command is inputted.例文帳に追加

フラッシュメモリを具備する半導体メモリ装置におけるブロック状態情報提供方法において、前記フラッシュメモリの不良ブロックとこれを代替するための代替ブロックに対するブロック状態情報を記憶し、特定コマンドが入力されたときに前記ブロック状態情報を使用者に提供する。 - 特許庁

In an image processor 1, BAD BLOCK occurs in writing of data to a NAND type flash memory 17 for performing at least writing and reading of data, a CPU 11 acquires at least one of BAD BLOCK occurrence frequencies and BAD BLOCK occurrence intervals which are BAD BLOCK occurrence-related information on the occurrence of the BAD BLOCK for storing in a NVRAM 14.例文帳に追加

画像処理装置１は、少なくともデータの書き込み及び読み出しの行われるＮＡＮＤ型フラッシュメモリ１７へのデータの書き込みにおいてＢＡＤ ＢＬＯＣＫが発生すると、ＣＰＵ１１が、該ＢＡＤ ＢＬＯＣＫの発生に関するＢＡＤ ＢＬＯＣＫ発生関連情報であるＢＡＤ ＢＬＯＣＫ発生回数とＢＡＤ ＢＬＯＣＫ発生間隔のうち少なくともいずれかを取得して、ＮＶＲＡＭ１４に記憶する。 - 特許庁

This device comprises a bad block determining part 15 for determining an unusable block (bad block) of a tested memory 20 on the basis of a result of comparison of contents of an output signal SG6 from the tested memory 20 and an expected value included in an expectation signal SG5, and storing a block address for specifying the block.例文帳に追加

被試験メモリ２０からの出力信号ＳＧ６の内容と期待信号ＳＧ５に含まれる期待値とを比較する比較部１３の比較結果に基づいて、被試験メモリ２０の使用不可能なブロック（バッドブロック）の判定を行い、そのブロックを特定するブロックアドレスを記憶するバッドブロック判定部１５を備える。 - 特許庁

To provide a method for managing a memory that efficiently prevents a read disturb error and performs bad block processing.例文帳に追加

リードディスターブエラーの防止とｂａｄブロック処理を効率よく行うメモリの管理方法の提供。 - 特許庁

NONVOLATILE MEMORY DEVICE AND SYSTEM INCLUDING RE-MAPPED BAD BLOCK ADDRESS, AND METHOD OF OPERATING THE SAME例文帳に追加

再マッピングされた不良ブロックアドレスを含む不揮発性メモリ装置及びシステム、並びにその動作方法 - 特許庁

An external memory BIST 21, which tests a nonvolatile semiconductor memory which is an external memory, is provided with a bad block address management table having a function which monitors block addresses, stores bad block addresses and perform test control in a test of nonvolatile semiconductor memory 4.例文帳に追加

外部メモリである不揮発性半導体メモリをテストする外部メモリＢＩＳＴ２１には、不揮発性半導体メモリ４のテストにおいて、ブロックアドレスの監視、バッドブロックアドレスの格納、ならびにテスト制御などの機能を有するバッドブロックアドレス管理テーブルが設けられている。 - 特許庁