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Z-measurementとは 意味・読み方・使い方
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「Z-measurement」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 118件
In correcting the position in the Z axial direction, the measurement mirror 28 is moved to a Z axis measurement reference point PZ1 to measure the difference in the amounts of light received.例文帳に追加
Z軸方向の位置の補正は、測定ミラー28をZ軸測定基準位置PZ1に移動して、受光量の差を測定して行う。 - 特許庁
To achieve fast measurement in a Z-directional range in which a dynamic range is wide, and shortening of a measurement time.例文帳に追加
ダイナミックレンジの広いZ方向範囲の高速な測定及びこれによる測定時間の短縮。 - 特許庁
The control part 140 discriminates peak Z"max of imaginary number component of the AC impedance to applied frequency of AC current applied during measurement, and obtains peak frequency ω_o corresponding to Z"max.例文帳に追加
制御部140は、測定時に印加した交流電流の印加周波数に対する前記交流インピーダンスの虚数成分のピークZ”maxを判別し、Z”maxに対応するピーク周波数ω_0を取得する。 - 特許庁
To prevent unbalanced load generated by the probe pressure of a probe unit from acting on a measurement stage by raising a Z-stage by means of a Z-drive source provided on the outside of the measurement stage, by not incorporating the drive mechanism of the Z-stage in the measurement stage.例文帳に追加
Zステージの駆動機構を測定ステージに組み込まないようにして、測定ステージの外部にあるZ駆動源によってZステージを上昇させることで、プローブユニットの針圧による偏荷重が測定ステージに作用しないようにする。 - 特許庁
LITHOGRAPHIC APPARATUS AND DEVICE MANUFACTURING METHOD UTILIZING FLAT PANEL DISPLAY (FPD) CHUCK Z POSITION MEASUREMENT例文帳に追加
リソグラフィ装置及びFPDチャックZ位置測定を利用したデバイス製造方法 - 特許庁
A measurement beam LB is projected on a measurement surface (scale) 39Y_2 provided partially on an upper surface of a stage WST from a Z head 72a, and a reflected beam from the measurement surface is received to measure Z-axial surface position information on the measurement surface at a projection point of the measurement beam LB.例文帳に追加
Zヘッド72aからステージWSTの上面の一部に設けられた計測面(スケール)39Y_2に計測ビームLBを投射し、その計測面からの反射ビームを受光して、計測ビームLBの投射点における計測面のZ軸方向に関する面位置情報を計測する。 - 特許庁
The problem to be solved in the present invention is solved, by setting the measurement frequency f so as to generate minimum error ▵Z with regard to the impedance Z.例文帳に追加
この課題は、Zに関して最小の誤差ΔZが生じるように、測定周波数fを設定することによって解決される。 - 特許庁
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「Z-measurement」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 118件
In EDS measurement, correction for inter-element interactions is performed by considering the atomic number, Z, the absorption, A, and fluorescence, F. 発音を聞く 例文帳に追加
EDS測定においては、元素間の相互作用に対する補正は、原子番号(Z)、吸収(A)、蛍光(F)を考慮することによって行われる(成し遂げられる)。 - 科学技術論文動詞集
On the basis of the data X-Z on the resistance values and the measurement point, the connection state and the measurement mode of the measurement system using the strain gage or the like are determined.例文帳に追加
これら抵抗値のデータX〜データZおよび測定個所に基づき、ひずみゲージ等を用いた測定系の接続状態および測定モードを判別する。 - 特許庁
When the difference of the Z-coordinate value between the measurement positions is not in the focusing range in the Z-coordinate direction, the optical probe part 6 is driven into the focusing range.例文帳に追加
測定位置間のZ座標値の差がZ座標方向における合焦範囲内にない場合には、光プローブ部6を合焦範囲内に駆動する。 - 特許庁
For the target pixels for measuring height among each pixel, measurement values are set as z-axis and z-axis of another pixels are set zero.例文帳に追加
各画素のうち、高さ計測の対象とされた画素には、z座標として計測値が設定され、その他の画素のz座標はゼロ値に設定される。 - 特許庁
To effectively suppress the occurrence of the measurement error of a head (for example, an encoder and a Z sensor) caused by abnormality in a measurement surface, and further the occurrence of operation abnormality.例文帳に追加
計測面の異常に起因するヘッド(例えばエンコーダ、Zセンサなど)の計測誤差、さらに動作異常の発生を効果的に抑制する。 - 特許庁
The correspondence between an m/z value and a (q, CID) value pair is set by preliminary measurement.例文帳に追加
m/z値と(q,CID)値対との間の対応は、予備測定検量によって設定可能である。 - 特許庁
In the gyroscopes 2-1, 2-2, angles θ_1, θ_2 between the rotational axis Z and measurement axes z_1, z_2 meet formula (1) |cosθ_i| < |FS_i/ω_MAX|.例文帳に追加
|cosθ_i| < |FS_i/ω_MAX| …(1)但し、(1)式中の各記号の意味は下記のとおりである。 - 特許庁
In the measurement, the Z coordinate value of the measurement position is calculated from the measuring pitch of the measuring apparatus 7, the radius of curvature and the outside diameter, based on the summit position.例文帳に追加
測定に際しては、頂点位置を基準として測定器7の測定ピッチと曲率半径と外径とから測定位置のZ座標値を演算する。 - 特許庁
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