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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 百科事典 > The Tegの意味・解説 

The Tegとは 意味・読み方・使い方

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ウィキペディア英語版での「The Teg」の意味

The Teg

出典:『Wikipedia』 (2010/09/25 20:04 UTC 版)

英語による解説
ウィキペディア英語版からの引用

「The Teg」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 158



例文

To effectively evaluate all TEG patterns using of the same TEG chips.例文帳に追加

同一のTEGチップを用いて、全てのTEGパターンの評価を効率よく行う。 - 特許庁

Then, the supply amount of the TMG or TEG is reduced to be smaller than that in the second growth process (a third growth process).例文帳に追加

次に、TMG又はTEGの供給量を、第2の成長工程よりも小さくする(第3の成長工程)。 - 特許庁

An inspection value indicating the shape of the TEG pattern is calculated by using the formed TEG pattern and the inspection pattern.例文帳に追加

作成したTEGパターン及び検査用パターンを用いて、TEGパターンの形状を示す検査値を算出する。 - 特許庁

Transistor characteristics or the like in the wafer completion test are confirmed by using the TEG chip 310, and the TEG chip 310 can be utilized effectively without disusing the TEG chip 310.例文帳に追加

TEGチップ310を用いてウェハ完成試験におけるトランジスタ特性等の確認を行った後、そのTEGチップ310を廃棄することなく有効に活用することができる。 - 特許庁

The TEG element is made in a vacant region existing between combination pads 230 and 231 for assembly and TEG measurement and an electrode pad 240 for TEG measurement.例文帳に追加

TEG素子は組み立て用およびTEG測定用兼用電極パッド230,231とTEG測定用電極パッド240の間に存在する空き領域に形成する。 - 特許庁

An element useable as a TEG and a pad 8 for TEG are formed in the element formation region 50.例文帳に追加

そして、TEGとして利用可能な素子およびTEG用パッド8は、素子形成領域50内に形成されている。 - 特許庁

例文

To allow an inspection using a test element group (TEG) pattern to be carried out without removing a layer above the TEG pattern.例文帳に追加

TEGパターンより上の層を除去しなくてもTEGパターンを用いた検査を行うことができるようにする。 - 特許庁

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「The Teg」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 158



例文

The element substrate 60 is provided with a TEG 40 including a pixel inspection circuit with the same structure as that of the pixel circuits and an external terminal 92 for the TEG electrically connected to the TEG 40 and the TEG 40 further includes a booster circuit which is a part of the driving circuit.例文帳に追加

素子基板60には、画素回路と同一構造の画素検査回路を含むTEG40と、このTEG40に電気的に接続されたTEG用外部端子92とが設けられ、TEG40は、駆動回路の一部である昇圧回路をさらに含んでいる。 - 特許庁

An inspection expected value indicating the shape of a target TEG pattern is calculated on the basis of the variation condition and the inspection condition of the TEG pattern.例文帳に追加

また、TEGパターンのバリエーション条件、及び検査条件に基づいて、目標とするTEGパターンの形状を示す検査期待値を算出する。 - 特許庁

TEG PATTERN, TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT USING THE PATTERN例文帳に追加

テグパターン及びそのパターンを利用した半導体素子の検査方法 - 特許庁

To provide a TEG capable of feeding evaluation contents back at an early stage, and to provide an evaluating method using the TEG.例文帳に追加

評価内容の早期フィードバックが可能なTEGの提供及び該TEGを用いた評価方法の提供を目的とする。 - 特許庁

On a TEG 3 formed in the scribe area of a semiconductor wafer, a protective wiring pattern 4 for the TEG 3 is formed.例文帳に追加

半導体ウエハのスクライブエリア5に形成されたTEG3の上方には、該TEG3を保護する保護用配線パターン4が形成されている。 - 特許庁

In a memory cell 3 for test, the source 14 is connected to a drain electrode 12 of TEG 1, and the drain 15 is connected to a source 11 of the TEG 1.例文帳に追加

テスト用のメモリセル3はソース14がTEG1のドレイン電極12に、ドレイン15がTEG1のソース電極11に接続されている。 - 特許庁

Then, when the TEG element Trs are respectively turned on, the wired elements Q1 and Q2 are checked for continuity by the TEG element Trs.例文帳に追加

そして、各TEG素子Trをオンさせた時における、当該TEG素子Trによる配線済素子Q1,Q2の導通状態をチェックする。 - 特許庁

例文

The existence of wiring defective regions in the TEG of the semiconductor device is detected by a potential contrast method based on the amount of secondary electrons emitted from the TEG by irradiating each TEG with an electron beam.例文帳に追加

この半導体装置は、それぞれのTEGに電子線を照射し、TEGから二次電子を放出させ、放出された二次電子の量に基づいて、電位コントラスト法により、TEGにおける配線不良部位の有無を検出する。 - 特許庁

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