DUT1とは 意味・読み方・使い方

Then, according to the ensured variable, a computing and processing operation is performed for every semiconductor device of semiconductor devices (DUT1 to DUT4) 81 to 84.例文帳に追加

まず、複数の半導体装置に対して同じタイミングで並列的にパターンが印加される。 - 特許庁

A drain line DL and a source line SL are common for all elements DUT1-DUTn, respectively, and one well line WL is provided for each element DUT1-DUTn.例文帳に追加

ドレイン線ＤＬおよびソース線ＳＬがそれぞれ、全ての素子ＤＵＴ１〜ＤＵＴｎに対して共通化されており、その一方で、ウェル線ＷＬが素子ＤＵＴ１〜ＤＵＴｎごとに１つずつ設けられている。 - 特許庁

In an LSI test system for testing a plurality of LSI devices to be tested DUT1 through DUT4 at one sitting, between the signal lines connecting the LSI devices to be tested DUT1 through DUT4 and the LSI tester 100, each of delay units DLY1 through DLY4 with different delay times is provided to each LSY devices DUT1 through DUT4.例文帳に追加

複数の被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４を一度にテストする半導体集積回路装置のテストシステムにおいて、被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４とＬＳＩテスタ１００とを結ぶ信号線の間に、被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４ごとにそれぞれ遅延時間の異なる遅延ユニットＤＬＹ１〜ＤＬＹ４を設ける。 - 特許庁

An output signal of DUT1-1, DUT1-2 is converted into a DC signal which is proportional to an AC signal without amplitude loss, caused by wiring capacity or the like by an RMS/DC converter 3 provided near a buffer 2.例文帳に追加

ＤＵＴ１−１，１−２の出力信号をバッファ２の近くに配置したＲＭＳ／ＤＣコンバータ３で、配線容量等による振幅損失がない状態でＡＣ信号の振幅に比例したＤＣ信号に変換する。 - 特許庁

Output data is loaded from an A/D converter 11 into a memory 12 in the test apparatus body 18 through a DUT1-1 high-speed switch 4-1, a DUT1-2 high-speed switch 4-2, and a DUT-selecting high-speed switch 4.例文帳に追加

ＤＵＴ１−１用高速スイッチ４−１とＤＵＴ１−２用高速スイッチ４−２、ＤＵＴ選択用高速スイッチ４を介して、検査装置本体１８内のメモリ１２にＡ／Ｄコンバータ１１より出力のデータを取り込む。 - 特許庁

A pattern generator PG generates a pattern signal S_PTN that describes a test signal S1 to be applied to a DUT1.例文帳に追加

パターン発生器ＰＧは、ＤＵＴ１に供給すべき試験信号Ｓ１を記述するパターン信号Ｓ_ＰＴＮを発生する。 - 特許庁

A driver DR generates the test signal S1 having a level corresponding to the pattern signal S_PTN, and outputs it to the DUT1.例文帳に追加

ドライバＤＲは、パターン信号Ｓ_ＰＴＮに応じたレベルを有する試験信号Ｓ１を生成し、ＤＵＴ１に出力する。 - 特許庁